[發明專利]一種基于合成電場計算導線起暈場強的方法及系統

在審

• 申請號: 202110494383.2
• 申請日: 2021-05-07
• 公開（公告）號: CN113325239A
• 公開（公告）日: 2021-08-31
• 發明（設計）人: 趙錄興;吳桂芳;謝莉;白鋒;何堃;王建;曹方圓;金銘;楊志超;劉元慶;林珊珊
• 申請（專利權）人: 中國電力科學研究院有限公司;國網新疆電力有限公司電力科學研究院
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08
• 代理公司: 北京工信聯合知識產權代理有限公司 11266
• 代理人: 姜麗樓

本申請公開了一種基于合成電場計算導線起暈場強的方法及系統。其中，該方法包括：測量地面合成電場強度；根據試驗導線的結構參數和架設的導線型式參數，計算不同電壓下的地面合成電場強度測量儀所在位置的標稱電場強度；對比不同電壓下的標稱電場強度和實際測量得到的地面合成電場強度，當地面合成電場強度與標稱電場強度的電場強度差值大于預定數值時，將相應的電壓確定為視在起暈電壓；根據視在起暈電壓確定特定電壓，測量特定電壓下的地面特定位置處的特定合成電場強度；測量空氣中的離子遷移率；根據地面特定位置處的特定合成電場強度以及離子遷移率，通過迭代計算確定導線表面起暈場強。

技術領域

本申請涉及電力系統技術領域，特別是涉及一種基于合成電場計算導線起暈場強的方法及系統。

背景技術

研究高壓直流線路導線起暈場強對直流線路電磁環境的預測具有重要意義，尤其是對于直流合成電場的預測，導線起暈場強的準確與否具有關鍵作用。

目前在預測導線的起暈場強方面，國內外普遍使用Peek公式，該公式形式如下式中，E_on為導線的起暈場強；m是反映導線表面狀況的粗糙系數，為一個不大于1的正數；r為導線半徑；δ為空氣相對密度。該公式形式簡單，只需給出導線半徑就可以計算導線表面起暈場強，因此在工程上得到了廣泛應用。

但Peek公式的得出是通過試驗得到的，試驗時采用的是光滑圓柱導線，相當于m＝1的情況，由于實際輸電線路的導線一般采用絞線，絞線在制造和線路架設過程中可能造成一些傷痕，此外導線表面的油脂、污垢、塵埃、水滴等也會使導線表面變得粗糙，所以，實際導線起暈場強往往比光滑導線的起暈場強低的多。為此國內外研究人員雖然就實際輸電線路導線起暈場強開展了大量的試驗研究，但由于采用的試驗方法和判據多種多樣，如目測法、紫外光子計數法、電暈脈沖法以及電流—電壓曲線擬合法等，導致不同研究方法得到的導體起暈場強并不相同。同時，以上的研究都沒有將起暈場強與直流地面合成電場作為一個統一的整體開展研究，因此得到的導線起暈場強與直流地面合成電場計算中所使用的起暈場強差距較大。

針對上述的現有技術中存在的通過試驗得到的起暈場強沒有將起暈場強與直流地面合成電場作為一個統一的整體開展研究，因此得到的導線起暈場強與直流地面合成電場計算中所使用的起暈場強差距較大的技術問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發明內容

本公開的實施例提供了一種基于合成電場計算導線起暈場強的方法及系統，以至少解決現有技術中存在的通過試驗得到的起暈場強沒有將起暈場強與直流地面合成電場作為一個統一的整體開展研究，因此得到的導線起暈場強與直流地面合成電場計算中所使用的起暈場強差距較大的技術問題。

根據本公開實施例的一個方面，提供了一種基于合成電場計算導線起暈場強的方法，包括：測量地面合成電場強度E1；根據試驗導線的結構參數和架設的導線型式參數，計算不同電壓下的地面合成電場強度測量儀所在位置的標稱電場強度E2；對比不同電壓下的標稱電場強度E2和實際測量得到的地面合成電場強度E1，當所述地面合成電場強度E1與所述標稱電場強度E2的電場強度差值大于預定數值時，將相應的電壓確定為視在起暈電壓U1；根據所述視在起暈電壓U1確定特定電壓，測量所述特定電壓下的地面特定位置處的特定合成電場強度E3；測量空氣中的離子遷移率；根據地面特定位置處的特定合成電場強度E3以及所述離子遷移率，確定導線表面起暈場強。