[發(fā)明專利]ICT測試設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110488237.9
• 申請日: 2021-05-06
• 公開（公告）號: CN113203941A
• 公開（公告）日: 2021-08-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊宇;王本春
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州明良智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 蘇州佳捷天誠知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32516
• 代理人: 鄂艷濤

1.ICT測試設(shè)備，包括機架(1)，其特征在于：所述機架(1)上設(shè)置有第一測試機構(gòu)(2)和第二測試機構(gòu)(3)，所述第一測試機構(gòu)(2)和第二測試機構(gòu)(3)的一側(cè)均設(shè)置有快換機構(gòu)(4)，所述第一測試機構(gòu)(2)包括第一測試治具上模(5)和第一測試治具下模(6)，所述第二測試機構(gòu)(3)包括第二測試治具上模和第二測試治具下模，所述機架(1)上設(shè)置有第一傳動機構(gòu)(7)、第二傳動機構(gòu)(8)和第三傳動機構(gòu)(9)，所述第一傳動機構(gòu)(7)設(shè)置在第一測試治具上模(5)和第一測試治具下模(6)之間，所述第二傳動機構(gòu)(8)設(shè)置在第一測試機構(gòu)(2)和第二測試機構(gòu)(3)之間，所述第三傳動機構(gòu)(9)設(shè)置在第二測試治具上模和第二測試治具下模之間；

所述第一傳動機構(gòu)(7)的下方設(shè)置有用于帶動第一傳動機構(gòu)(7)升降的第一升降機構(gòu)(10)，所述第二傳動機構(gòu)(8)的下方設(shè)置有用于帶動第二傳動機構(gòu)(8)升降的第二升降機構(gòu)(11)，還包括用于控制ICT測試設(shè)備的控制機構(gòu)和設(shè)置在第一傳動機構(gòu)(7)首端的掃碼機構(gòu)，所述第一測試機構(gòu)(2)、第二測試機構(gòu)(3)、快換機構(gòu)(4)、第一傳動機構(gòu)(7)、第二傳動機構(gòu)(8)、第三傳動機構(gòu)(9)、第一升降機構(gòu)(10)、第二升降機構(gòu)(11)和掃碼機構(gòu)分別與控制機構(gòu)電氣連接。

2.如權(quán)利要求1所述的ICT測試設(shè)備，其特征在于：所述第一測試機構(gòu)(2)和第二測試機構(gòu)(3)結(jié)構(gòu)相同。

3.如權(quán)利要求1所述的ICT測試設(shè)備，其特征在于：所述第一測試治具上模(5)和第一測試治具下模(6)的一側(cè)均設(shè)置有快換機構(gòu)(4)。

4.如權(quán)利要求1所述的ICT測試設(shè)備，其特征在于：所述第一測試治具上模(5)靠近快換機構(gòu)(4)的一側(cè)設(shè)置有連接針，所述快換機構(gòu)(4)靠近第一測試治具上模(5)的一側(cè)上設(shè)置有第一連接孔，所述連接針與第一連接孔插拔連接；

所述快換機構(gòu)(4)遠離第一測試治具上模(5)的一側(cè)設(shè)置有用于與設(shè)備連接的第二連接孔(41)。

5.如權(quán)利要求4所述的ICT測試設(shè)備，其特征在于：所述第一測試治具上模(5)和快換機構(gòu)(4)之間設(shè)置有真空吸附組件；

所述快換機構(gòu)(4)的兩側(cè)對稱設(shè)置有用于推動快換機構(gòu)(4)的第一氣缸(42)，所述第一氣缸(42)與控制機構(gòu)電氣連接；

所述第一測試治具上模(5)的邊角處設(shè)置有定位孔(43)，所述快換機構(gòu)(4)上與定位孔(43)對應(yīng)位置處設(shè)置有定位柱(44)，所述定位柱(44)與定位孔(43)插拔連接。

6.如權(quán)利要求4所述的ICT測試設(shè)備，其特征在于：所述第一升降機構(gòu)(10)包括設(shè)置在機架(1)上的第一連接板(101)，所述第一傳動機構(gòu)(7)設(shè)置在第一連接板(101)上，所述第一連接板(101)的下端對稱設(shè)置有多個第一絲桿(102)，各個所述第一絲桿(102)連接有第一電機(103)，所述第一連接板上設(shè)置有多個通孔，所述第一連接板的下端面上位于通孔處設(shè)置有旋轉(zhuǎn)氣缸(104)，所述旋轉(zhuǎn)氣缸(104)的驅(qū)動軸上設(shè)置有扣板(105)，使得可以將主板扣住，其中一個所述通孔處設(shè)置有第三氣缸(106)，所述第三氣缸(106)的驅(qū)動軸上設(shè)置有拉板(107)，所述第一電機、旋轉(zhuǎn)氣缸(104)和第三氣缸(106)分別與控制機構(gòu)電氣連接。

7.如權(quán)利要求4所述的ICT測試設(shè)備，其特征在于：所述機架(1)上位于第一測試治具上模(5)的上方設(shè)置有用于驅(qū)動第一測試治具上模(5)上下移動的第二氣缸(12)，所述第二氣缸(12)與控制機構(gòu)電氣連接。

8.如權(quán)利要求1所述的ICT測試設(shè)備，其特征在于：所述機架(1)設(shè)置成兩層，儀器儀表設(shè)置在上層。