[發明專利]ICT測試設備

在審

• 申請號: 202110488237.9
• 申請日: 2021-05-06
• 公開（公告）號: CN113203941A
• 公開（公告）日: 2021-08-03
• 發明（設計）人: 楊宇;王本春
• 申請（專利權）人: 蘇州明良智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 蘇州佳捷天誠知識產權代理事務所(普通合伙) 32516
• 代理人: 鄂艷濤

本發明公開了一種ICT測試設備，涉及主板測試領域，包括機架，所述機架上設置有第一測試機構和第二測試機構，所述第一測試機構和第二測試機構的一側均設置有快換機構，所述第一測試機構包括第一測試治具上模和第一測試治具下模，所述機架上設置有第一傳動機構、第二傳動機構和第三傳動機構，所述第一傳動機構的下方設置有第一升降機構，所述第二傳動機構的下方設置有第二升降機構，還包括控制機構和設置在第一傳動機構首端的掃碼機構，本發明中的快換機構使得本測試設備能夠快速更換測試治具，節約時間，提高更換治具的效率，所述機架設置成兩層，儀器儀表設置在上層，節省空間，降低成本。

技術領域

本發明涉及主板測試領域，特別涉及一種ICT測試設備。

背景技術

現有的ICT測試設備在換線時較為麻煩，需要將很多的排線從測試治具上一個一個的拔下，然后再將排線一個一個的插在更換后的測試治具上，需要較長的時間，更換效率低。

發明內容

本發明解決的技術問題是提供一種能夠快速更換測試治具、效率高、占地面積小的ICT測試設備。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：ICT測試設備，包括機架，所述機架上設置有第一測試機構和第二測試機構，所述第一測試機構和第二測試機構的一側均設置有快換機構，所述第一測試機構包括第一測試治具上模和第一測試治具下模，所述第二測試機構包括第二測試治具上模和第二測試治具下模，所述機架上設置有第一傳動機構、第二傳動機構和第三傳動機構，所述第一傳動機構設置在第一測試治具上模和第一測試治具下模之間，所述第二傳動機構設置在第一測試機構和第二測試機構之間，所述第三傳動機構設置在第二測試治具上模和第二測試治具下模之間，所述第一測試機構和第二測試機構用于對主板的兩個面進行測試，所述快換機構使得本測試設備能夠快速更換測試治具，節約時間，提高更換治具的效率，所述第一測試治具上模和第一測試治具下模配合對主板進行性能測試，第一傳動機構、第二傳動機構和第三傳動機構用于帶動主板進行傳動，所述主板為待測試的產品；

所述第一傳動機構的下方設置有用于帶動第一傳動機構升降的第一升降機構，所述第二傳動機構的下方設置有用于帶動第二傳動機構升降的第二升降機構，還包括用于控制ICT測試設備的控制機構和設置在第一傳動機構首端的掃碼機構，所述第一測試機構、第二測試機構、快換機構、第一傳動機構、第二傳動機構、第三傳動機構、第一升降機構、第二升降機構和掃碼機構分別與控制機構電氣連接，所述第一升降機構用于帶動第一傳動機構升降，從而將主板放置到第一測試治具下模上待測試，所述控制機構用于控制ICT測試設備。

進一步的是：所述第一測試機構和第二測試機構結構相同。

進一步的是：所述第一測試治具上模和第一測試治具下模的一側均設置有快換機構。

進一步的是：所述第一測試治具上模靠近快換機構的一側設置有連接針，所述快換機構靠近第一測試治具上模的一側上設置有第一連接孔，所述第一連接孔與連接針插拔連接，使得便于更換測試治具；

所述快換機構遠離第一測試治具上模的一側設置有用于與設備連接的第二連接孔。

進一步的是：所述第一測試治具上模和快換機構之間設置有真空吸附組件，所述真空吸附組件用于快速將第一測試治具上模和快換機構吸附到一起。

所述快換機構的兩側對稱設置有用于推動快換機構的第一氣缸，所述第一氣缸與控制機構電氣連接，所述第一氣缸用于推動快換機構，使得第一測試治具下模和快換機構吸附到一起；

所述第一測試治具上模的邊角處設置有定位孔，所述快換機構上與定位孔對應位置處設置有定位柱，所述定位柱與定位孔插拔連接，所述定位孔和定位柱配合對快換機構進行對位，防止快換機構在移動的過程中跑偏。