[發(fā)明專利]陣列基板制造方法及顯示面板制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110487442.3 | 申請日: | 2021-04-30 |
| 公開(公告)號: | CN113206038B | 公開(公告)日: | 2022-04-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉振;許哲豪;張合靜;周佑聯(lián);劉凱軍;鄭浩旋 | 申請(專利權(quán))人: | 北海惠科光電技術(shù)有限公司;惠科股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/77 | 分類號: | H01L21/77;H01L27/12 |
| 代理公司: | 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287 | 代理人: | 晏波 |
| 地址: | 536000 廣西壯族自治區(qū)北海市工業(yè)園區(qū)北海大*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 陣列 制造 方法 顯示 面板 | ||
本申請涉及顯示面板制造技術(shù),公開了陣列基板制造方法及顯示面板制造方法,陣列基板制造方法包括:在基板上沉積遮光層、緩沖層、第一金屬層和歐姆接觸層;進(jìn)行第一次光罩制程,形成遮光層圖案、緩沖層圖案、第一金屬層圖案和歐姆接觸層圖案;在經(jīng)過第一次光罩制程后的基板上沉積有源層、絕緣層和第二金屬層;進(jìn)行第二次光罩制程,形成有源層圖案、絕緣層圖案和第二金屬層圖案;在經(jīng)過第二次光罩制程后的基板上沉積鈍化層;進(jìn)行第三次光罩制程,形成第一導(dǎo)電過孔,第二導(dǎo)電過孔和第三導(dǎo)電過孔以及氧化銦錫層圖案。顯示面板制造方法,采用了上述的陣列基板制造方法。本申請公開的陣列基板制造方法及顯示面板制造方法,工藝流程簡單,成本低廉。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及顯示面板制造技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及陣列基板制造方法及顯示面板制造方法。
背景技術(shù)
在采用光刻的方法制造陣列基板時,光罩成本高,現(xiàn)有對陣列基板的制造,多采用四道、五道或者更多道的光罩,成本高昂。
上述內(nèi)容僅用于輔助理解本申請的技術(shù)方案,并不代表承認(rèn)上述內(nèi)容是現(xiàn)有技術(shù)。
發(fā)明內(nèi)容
本申請的主要目的是提供陣列基板制造方法及顯示面板制造方法,旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中制造成本高的技術(shù)問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本申請?zhí)岢龅年嚵谢逯圃旆椒ǎ撽嚵谢逯圃旆椒òㄈ缦虏襟E:
在基板上依次沉積遮光層、緩沖層、第一金屬層和歐姆接觸層;
對沉積有遮光層、緩沖層、第一金屬層和歐姆接觸層的基板進(jìn)行第一次光罩制程,以在基板上形成遮光層圖案、緩沖層圖案、第一金屬層圖案和歐姆接觸層圖案,并清除所述第一次光罩制程中形成的第一光刻膠圖案;
在經(jīng)過第一次光罩制程后的基板上依次沉積有源層、絕緣層和第二金屬層;
對沉積有有源層、絕緣層和第二金屬層的基板進(jìn)行第二次光罩制程,以在基板上形成有源層圖案、絕緣層圖案和第二金屬層圖案,并清除所述第二次光罩制程中形成的第二光刻膠圖案;
在經(jīng)過第二次光罩制程后的基板上沉積鈍化層;
對沉積有鈍化層的基板進(jìn)行第三次光罩制程,以在待形成薄膜晶體管的區(qū)域內(nèi)形成連通第一金屬層圖案的第一導(dǎo)電過孔,在待形成綁定模塊的區(qū)域內(nèi)形成連通第一金屬層圖案的第二導(dǎo)電過孔和連通第二金屬層圖案的第三導(dǎo)電過孔,以及在形成第一導(dǎo)電過孔、第二導(dǎo)電過孔和第三導(dǎo)電過孔后的基板上形成氧化銦錫層圖案,并清除所述第三次光罩制程中形成的第三光刻膠圖案。
可選地,采用半色調(diào)掩膜工藝進(jìn)行第一次光罩制成,形成的第一金屬層圖案包括待形成薄膜晶體管的區(qū)域內(nèi)的源極和漏極以及待形成綁定模塊的區(qū)域內(nèi)的第一綁定走線,源極和漏極由溝道分隔,第一導(dǎo)電過孔連通源極,第二導(dǎo)電過孔連通第一綁定走線。
可選地,第一次光罩制程中,包括步驟:
在歐姆接觸層表面涂布第一光刻膠層;
采用第一光罩,通過半色調(diào)掩膜使第一光刻膠層形成第一光刻膠圖案,其中,第一光刻膠圖案包括第一部分保留區(qū)、第一全保留區(qū)和第一全刻蝕區(qū),第一部分保留區(qū)對應(yīng)待形成溝道的區(qū)域,第一全保留區(qū)對應(yīng)待形成源極、待形成漏極、待形成電容以及待形成綁定模塊的區(qū)域,第一全刻蝕區(qū)對應(yīng)除第一部分保留區(qū)和第一全保留區(qū)外的其他區(qū)域;
根據(jù)第一光刻膠圖案對歐姆接觸層、第一金屬層、緩沖層和遮光層進(jìn)行刻蝕,以在基板上形成遮光層圖案、緩沖層圖案、歐姆接觸層圖案以及第一金屬層圖案;
形成遮光層圖案、緩沖層圖案、歐姆接觸層圖案以及第一金屬層圖案后,清除第一光刻膠圖案。
可選地,根據(jù)第一光刻膠圖案對歐姆接觸層、第一金屬層、緩沖層和遮光層進(jìn)行刻蝕的步驟中,包括步驟:
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
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H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





