[發(fā)明專利]內徑千分尺校準檢具及其成型方法、檢驗方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110470747.3
• 申請日: 2021-04-29
• 公開（公告）號: CN113218266B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發(fā)明（設計）人: 徐佳俊;楊保;撖俊虎
• 申請（專利權）人: 共享智能裝備有限公司
• 主分類號: G01B3/18
• 分類號: G01B3/18;G01B5/12
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種內徑千分尺校準檢具，其特征在于，包括底座(100)、第一測量部(200)和第二測量部(300)，所述第一測量部(200)與所述第二測量部(300)相對稱地設置于所述底座(100)上，所述第一測量部(200)在遠離所述底座(100)的方向設置有多個第一階梯面(210)，所述第二測量部(300)在遠離所述底座(100)的方向設置有多個第二階梯面(310)，所述第一階梯面(210)與所述第二階梯面(310)相對分布，且相對應的所述第一階梯面(210)與所述第二階梯面(310)之間的測量距離在遠離所述底座(100)的方向逐漸增大或減小，所述第一測量部(200)和所述第二測量部(300)的數量為多個，多個所述第一測量部(200)和多個所述第二測量部(300)均在所述底座(100)的寬度方向間隔分布，且多個相對應的所述第一階梯面(210)與所述第二階梯面(310)之間的測量距離各不相同，內徑千分尺(500)放置于所述第一階梯面(210)與所述第二階梯面(310)之間以測量所述內徑千分尺(500)的誤差大小。

2.根據權利要求1所述的內徑千分尺校準檢具，其特征在于，所述內徑千分尺校準檢具上間隔開設有多個減重孔(400)。

3.根據權利要求1所述的內徑千分尺校準檢具，其特征在于，所述底座(100)、所述第一測量部(200)和所述第二測量部(300)為一體成型件。

4.根據權利要求3所述的內徑千分尺校準檢具，其特征在于，所述一體成型件的材質為球磨鑄鐵。

5.根據權利要求1所述的內徑千分尺校準檢具，其特征在于，所述內徑千分尺校準檢具的表面噴涂有防銹漆。

6.一種校準檢具的成型方法，應用于權利要求3中所述的內徑千分尺校準檢具，其特征在于，包括：

制作用于形成檢具毛坯的砂箱，所述砂箱為多個分箱組合形成；

根據澆注工藝進行澆注，以形成檢具毛坯；

按照化學成分、金相檢驗、力學性能、外觀檢驗、形狀尺寸、表面粗糙度、無損檢測及稱重記錄對檢具毛坯進行測驗；

依次加工第一測量部(200)上的第一階梯面(210)和第二測量部(300)上的第二階梯面(310)；

去毛刺檢測。

7.根據權利要求6所述的成型方法，其特征在于，在所述去毛刺檢測之前，所述成型方法還包括：對內徑千分尺校準檢具的表面進行涂漆處理。

8.根據權利要求6所述的成型方法，其特征在于，所述依次加工第一測量部(200)上的第一階梯面(210)和第二測量部(300)上的第二階梯面(310)具體包括：依次精加工第一測量部(200)上的第一階梯面(210)和第二測量部(300)上的第二階梯面(310)，且控制第一階梯面(210)和第二階梯面(310)的粗糙度為Ra3.2。

9.一種校驗方法，應用于權利要求1至5任一項所述的內徑千分尺校準檢具，其特征在于，包括：

將內徑千分尺(500)放置于校準檢具上與內徑千分尺(500)的尺寸相對應的第一階梯面(210)與第二階梯面(310)之間，以檢測出測量誤差；

通過內徑千分尺(500)測量出工件內徑的實際尺寸；

計算出實際尺寸與測量誤差之間的差值，以得到工件內徑的校準尺寸。