[發明專利]內徑千分尺校準檢具及其成型方法、檢驗方法有效
| 申請號: | 202110470747.3 | 申請日: | 2021-04-29 |
| 公開(公告)號: | CN113218266B | 公開(公告)日: | 2023-04-07 |
| 發明(設計)人: | 徐佳俊;楊保;撖俊虎 | 申請(專利權)人: | 共享智能裝備有限公司 |
| 主分類號: | G01B3/18 | 分類號: | G01B3/18;G01B5/12 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 內徑 千分尺 校準 及其 成型 方法 檢驗 | ||
本申請涉及一種內徑千分尺校準檢具,包括底座、第一測量部和第二測量部,所述第一測量部與所述第二測量部相對稱地設置于所述底座上,所述第一測量部在遠離所述底座的方向設置有多個第一階梯面,所述第二測量部在遠離所述底座的方向設置有多個第二階梯面,所述第一階梯面與所述第二階梯面相對分布,且相對應的所述第一階梯面與所述第二階梯面之間的測量距離在遠離所述底座的方向逐漸增大或減小,內徑千分尺放置于所述第一階梯面與所述第二階梯面之間以測量所述內徑千分尺的誤差大小。本方案能夠解決目前的內徑千分尺較難實現校準,導致對工件內徑尺寸的校驗存在較大偏差的問題。
技術領域
本發明涉及校準檢具技術領域,特別是涉及一種內徑千分尺校準檢具及其成型方法、檢驗方法。
背景技術
通常機械行業內大型內徑千分尺的校準都依托于第三方檢驗機構進行校準,在校準周期內,內徑千分尺是否有效只能通過測量標準測頭尺寸是否正確來確定內徑千分尺是否有效,這種方法對于剛剛校準完畢的內徑千分尺是有效的。但是對于需要經常在復雜環境中使用的內徑千分尺來說,在固定周期內的校準以及每次使用前只針對標準側頭進行復查的這種方式存在很大漏洞。
而且,大型內徑尺寸在檢驗時往往需要組合多段內徑千分尺進行測量,在組合過程中用到的超過100mm的分段內徑千分尺以及組合以后的內徑千分尺總的長度是否有效需要進一步的驗證,此時如果只是單純的將固定周期內的內徑千分尺校檢報告中每段內徑千分尺校檢尺寸加和來確定偏差的話,會因為累計誤差或內徑千分尺本身分段尺寸變形,從而對產品本身的目標尺寸造成誤測,進而影響后續的工作。
發明內容
基于此,有必要針對目前的內徑千分尺較難實現校準,導致對工件內徑尺寸的校驗存在較大偏差的問題,提供一種內徑千分尺校準檢具及其成型方法、校驗方法。
為了解決上述問題,本發明采用下述技術方案:
第一方面,本發明實施例公開一種內徑千分尺校準檢具,包括底座、第一測量部和第二測量部,所述第一測量部與所述第二測量部相對稱地設置于所述底座上,所述第一測量部在遠離所述底座的方向設置有多個第一階梯面,所述第二測量部在遠離所述底座的方向設置有多個第二階梯面,所述第一階梯面與所述第二階梯面相對分布,且相對應的所述第一階梯面與所述第二階梯面之間的測量距離在遠離所述底座的方向逐漸增大或減小,內徑千分尺放置于所述第一階梯面與所述第二階梯面之間以測量所述內徑千分尺的誤差大小。
在其中一種實施例中,所述第一測量部和所述第二測量部的數量為多個,多個所述第一測量部和多個所述第二測量部均在所述底座的寬度方向間隔分布,且多個相對應的所述第一階梯面與所述第二階梯面之間的測量距離各不相同。
在其中一種實施例中,所述內徑千分尺校準檢具上間隔開設有多個減重孔。
在其中一種實施例中,所述底座、所述第一測量部和所述第二測量部為一體成型件。
在其中一種實施例中,所述一體成型件的材質為球磨鑄鐵。
在其中一種實施例中,所述內徑千分尺校準檢具的表面噴涂有防銹漆。
第二方面,本發明實施例公開一種校準檢具的成型方法,應用于上述的內徑千分尺校準檢具,包括:
制作用于形成檢具毛坯的砂箱,所述砂箱為多個分箱組合形成;
根據澆注工藝進行澆注,以形成檢具毛坯;
按照化學成分、金相檢驗、力學性能、外觀檢驗、形狀尺寸、表面粗糙度、無損檢測及稱重記錄對檢具毛坯進行測驗;
依次加工第一測量部上的第一階梯面和第二測量部上的第二階梯面;
去毛刺檢測。
在其中一種實施例中,在所述去毛刺檢測之前,所述成型方法還包括:對內徑千分尺校準檢具的表面進行涂漆處理。
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