[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置與其制造方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110457684.8 | 申請日: | 2021-04-27 |
| 公開(公告)號: | CN113314612A | 公開(公告)日: | 2021-08-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃玉蓮;許哲銘;傅勁逢;林煥哲 | 申請(專利權(quán))人: | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/78 | 分類號: | H01L29/78;H01L29/06;H01L23/48;H01L21/768;H01L21/336 |
| 代理公司: | 隆天知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 黃艷 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 與其 制造 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體裝置,包括:
一第一源極/漏極結(jié)構(gòu),耦接至沿著一第一方向延伸的一第一導(dǎo)體通道的末端;
一第二源極/漏極結(jié)構(gòu),耦接至沿著該第一方向延伸的一第二導(dǎo)體通道的末端;
一第一內(nèi)連線結(jié)構(gòu),延伸穿過一層間介電層并電性耦接至該第一源極/漏極結(jié)構(gòu);
一第二內(nèi)連線結(jié)構(gòu),延伸穿過該層間介電層以電性耦接至該第二源極/漏極結(jié)構(gòu);以及
一第一隔離結(jié)構(gòu),位于該第一源極/漏極結(jié)構(gòu)與該第二源極/漏極結(jié)構(gòu)之間,并延伸至該層間介電層中。
2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,還包括一第二隔離結(jié)構(gòu)于該第一導(dǎo)體通道與該第二導(dǎo)體通道之下。
3.如權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置,其中,該第一隔離結(jié)構(gòu)的下表面與該第二隔離結(jié)構(gòu)的上表面齊平。
4.如權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置,其中,該第一隔離結(jié)構(gòu)的下表面高于或低于該第二隔離結(jié)構(gòu)的上表面。
5.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,還包括一氣隙位于該第一隔離結(jié)構(gòu)與該第一內(nèi)連線結(jié)構(gòu)及該第二內(nèi)連線結(jié)構(gòu)的每一者之間。
6.一種半導(dǎo)體裝置的制造方法,包括:
形成一第一溝槽以至少部分地延伸穿過覆蓋一第一源極/漏極結(jié)構(gòu)與一第二源極/漏極結(jié)構(gòu)的一層間介電層,其中該第一溝槽位于該第一源極/漏極結(jié)構(gòu)與該第二源極/漏極結(jié)構(gòu)之間;
將一介電材料填入該第一溝槽,以形成一第一隔離結(jié)構(gòu);以及
形成一第一內(nèi)連線結(jié)構(gòu)與一第二內(nèi)連線結(jié)構(gòu)以分別電性耦接至該第一源極/漏極結(jié)構(gòu)與該第二源極/漏極結(jié)構(gòu),其中該第一隔離結(jié)構(gòu)使該第一內(nèi)連線結(jié)構(gòu)與該第二內(nèi)連線結(jié)構(gòu)彼此電性隔離。
7.如權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,還包括:
將該第一隔離結(jié)構(gòu)的上側(cè)部分置換成一抗蝕刻材料,且該抗蝕刻材料與該層間介電層的蝕刻選擇性不同;
蝕刻該層間介電層以形成多個接點孔而分別露出該第一源極/漏極結(jié)構(gòu)與該第二源極/漏極結(jié)構(gòu),而采用該抗蝕刻材料的該第一隔離結(jié)構(gòu)維持實質(zhì)上完整;
將一金屬材料填入所述接點孔,以形成該第一內(nèi)連線結(jié)構(gòu)與該第二內(nèi)連線結(jié)構(gòu);以及
自該第一隔離結(jié)構(gòu)移除該抗蝕刻材料。
8.如權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其中,填入所述接點孔的步驟之前還包括:
形成一犧牲層,以沿著該第一隔離結(jié)構(gòu)的每一側(cè)壁延伸;以及
形成相同的該介電材料的一層,以沿著該犧牲層的每一側(cè)壁延伸。
9.如權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其中,填入該接點孔的步驟之后還包括:
移除該犧牲層以形成一氣隙,且該氣隙沿著該第一隔離結(jié)構(gòu)的每一側(cè)壁延伸;以及
密封該氣隙。
10.一種半導(dǎo)體裝置的制造方法,包括:
形成一介電隔離結(jié)構(gòu)以延伸穿過覆蓋一第一源極/漏極結(jié)構(gòu)與一第二源極/漏極結(jié)構(gòu)的一層間介電層,其中該介電隔離結(jié)構(gòu)位于該第一源極/漏極結(jié)構(gòu)與該第二源極/漏極結(jié)構(gòu)之間;
以一抗蝕刻材料覆蓋該介電隔離結(jié)構(gòu)的上表面;
蝕刻該層間介電層以形成多個接點孔而分別露出該第一源極/漏極結(jié)構(gòu)與該第二源極/漏極結(jié)構(gòu),并以該抗蝕刻材料保護(hù)該介電隔離結(jié)構(gòu);以及
將一金屬材料填入所述接點孔,以分別形成電性耦接至該第一源極/漏極結(jié)構(gòu)與該第二源極/漏極結(jié)構(gòu)的一第一內(nèi)連線結(jié)構(gòu)與一第二內(nèi)連線結(jié)構(gòu),其中該介電隔離結(jié)構(gòu)使該第一內(nèi)連線結(jié)構(gòu)與該第二內(nèi)連線結(jié)構(gòu)彼此電性隔離。
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