[發明專利]PCB板背鉆孔檢測文件的獲取方法、裝置及光學檢測設備有效
| 申請號: | 202110450697.2 | 申請日: | 2021-04-26 |
| 公開(公告)號: | CN112862867B | 公開(公告)日: | 2021-07-09 |
| 發明(設計)人: | 朱林林;管凌乾 | 申請(專利權)人: | 蘇州維嘉科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/30 | 分類號: | G06T7/30;G06T7/00;G06F17/16;G01N21/956 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 徐章偉 |
| 地址: | 215123 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | pcb 鉆孔 檢測 文件 獲取 方法 裝置 光學 設備 | ||
本發明公開了一種PCB板背鉆孔檢測文件的獲取方法、裝置及光學檢測設備,其中方法包括:獲取背鉆孔文件和通孔文件;獲取背鉆孔文件與通孔文件之間的剛體變換矩陣;根據剛體變換矩陣對背鉆孔文件中的每個背鉆孔進行剛體變換以從通孔文件中獲取與每個背鉆孔相對應的通孔;根據與每個背鉆孔相對應的通孔和背鉆孔文件獲取背鉆孔檢測文件。由此,通過解析通孔文件和背鉆孔文件即可獲得背鉆孔信息,有效提高了背鉆孔檢測文件的獲取速度和準確度。
技術領域
本發明涉及PCB板檢測技術領域,尤其涉及一種PCB板背鉆孔檢測文件的獲取方法、裝置及光學檢測設備。
背景技術
目前,用于PCB板背鉆孔檢測的AOI(Automated Optical Inspection,自動光學檢測)使用的是通過解析ODB++文件或者Gerber文件來提取其中的背鉆孔檢測資料,其中,ODB++文件集成了所有PCB和線路板裝配的功能性描述;Gerber文件是線路板行業軟件描述線路板(線路層、阻焊層、字符層等)圖像及鉆、銑數據的文檔格式集合,是線路板行業圖像轉換的標準格式。
但是,在通過解析ODB++文件或者Gerber文件來提取其中的背鉆孔檢測資料時,由于ODB++文件或者Gerber文件中含有大量的PCB信息,導致提取其中的背鉆孔檢測資料很慢,浪費時間,且由于圖層等屬性很容易選擇出錯導致提取的背鉆孔檢測資料是錯誤的。
發明內容
本發明旨在至少在一定程度上解決相關技術中的技術問題之一。為此,本發明的第一個目的在于提出一種PCB板背鉆孔檢測文件的獲取方法,能夠同時提高背鉆孔檢測文件的獲取速度和準確度。
本發明的第二個目的在于提出一種PCB板背鉆孔檢測文件的獲取裝置。
本發明的第三個目的在于提出一種PCB板光學檢測設備。
為達到上述目的,本發明第一方面實施例提出了一種PCB板背鉆孔檢測文件的獲取方法,包括以下步驟:獲取背鉆孔文件和通孔文件;獲取背鉆孔文件與通孔文件之間的剛體變換矩陣;根據剛體變換矩陣對背鉆孔文件中的每個背鉆孔進行剛體變換以從通孔文件中獲取與每個背鉆孔相對應的通孔;根據與每個背鉆孔相對應的通孔和背鉆孔文件獲取背鉆孔檢測文件。
根據本發明實施例的PCB板背鉆孔檢測文件的獲取方法,獲取背鉆孔文件和通孔文件,并獲取背鉆孔文件與通孔文件之間的剛體變換矩陣,以及根據剛體變換矩陣對背鉆孔文件中的每個背鉆孔進行剛體變換以從通孔文件中獲取與每個背鉆孔相對應的通孔,并根據與每個背鉆孔相對應的通孔和背鉆孔文件獲取背鉆孔檢測文件。由此,通過解析通孔文件和背鉆孔文件即可獲得背鉆孔信息,有效提高了背鉆孔檢測文件的獲取速度和準確度。
根據本發明的一個實施例,獲取背鉆孔文件與通孔文件之間的剛體變換矩陣,包括:從背鉆孔文件中獲取至少一個第一加工定位點,并從通孔文件中獲取與至少一個第一加工定位點一一對應的至少一個第二加工定位點;根據至少一個第一加工定位點的坐標和至少一個第二加工定位點的坐標計算獲得剛體變換矩陣。
根據本發明的一個實施例,獲取背鉆孔文件與通孔文件之間的剛體變換矩陣,包括:從背鉆孔文件中獲取多個孔位以形成第一孔位集合,并從第一孔位集合中獲取四個孔位以形成第一孔位組;從通孔文件中獲取與第一孔位組相對應的所有第二孔位組,其中每個第二孔位組均包括四個孔位,且該四個孔位組成的多邊形形狀與第一孔位組的四個孔位組成的多邊形形狀相同;分別根據第一孔位組的四個孔位的坐標和每個第二孔位組的四個孔位的坐標計算獲得每個第二孔位組對應的剛體變換矩陣;分別根據每個第二孔位組對應的剛體變換矩陣對第一孔位集合中的每個孔位進行剛體變換以獲得至少一個第二孔位集合;根據至少一個第二孔位集合中的每個孔位的坐標和通孔文件中與第一孔位集合中的每個孔位對應的最鄰近孔位的坐標進行配準評分以確定出最優剛體變換矩陣,該最優剛體變換矩陣作為背鉆孔文件與通孔文件之間的剛體變換矩陣。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于蘇州維嘉科技股份有限公司,未經蘇州維嘉科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110450697.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





