[發明專利]一種光學器件的表面缺陷光檢接觸頭

在審

• 申請號: 202110447358.9
• 申請日: 2021-04-25
• 公開（公告）號: CN113008800A
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發明（設計）人: 孫永財
• 申請（專利權）人: 孫永財
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/95
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種光學器件的表面缺陷光檢接觸頭，包括固定滑道(1)，其特征在于：所述固定滑道(1)的下方設置有滑動塊(2)，所述滑動塊(2)內貫穿設置有行程絲桿(3)，所述滑動塊(2)的下方活動連接有固定架(4)，所述固定架(4)的中部與滑動塊(2)間活動連接有限位架(5)，所述固定架(4)的下端設置有發射器(6)，所述固定架(4)的左側設置有定位墻(7)，所述定位墻(7)的下端設置有接收器(8)，所述固定架(4)的右側設置有輔助架(9)，所述輔助架(9)的中部設置有升降槽(10)，所述升降槽(10)內設置有推桿(11)，所述推桿(11)的左端活動連接有擠壓頭(12)，所述輔助架(9)的右端設置有墊板(13)，所述墊板(13)的右側設置有減震座(14)，所述減震座(14)的下端設置有同步輪(15)，所述減震座(14)的上端設置有控制柱(16)，所述控制柱(16)的外部套接有斜面盤(17)，所述斜面盤(17)的上下兩側設置有兩個升降柱(18)，所述控制柱(16)的上端活動連接有連接件(19)。

2.根據權利要求1所述的一種光學器件的表面缺陷光檢接觸頭，其特征在于：所述滑動塊(2)的上端設置有卡槽與固定滑道(1)適配，下端設置有彈簧與固定架(4)活動連接，其內部設置有簧珠與行程絲桿(3)適配。

3.根據權利要求1所述的一種光學器件的表面缺陷光檢接觸頭，其特征在于：所述固定架(4)左側設置有校準平板與定位墻(7)對應面平行設置，右側設置有斜筋板，筋板上設置有與限位架(5)適配的貫穿槽。

4.根據權利要求1所述的一種光學器件的表面缺陷光檢接觸頭，其特征在于：所述發射器(6)沿固定架(4)上筋板方向設置，與接收器(8)對應，校準后與固定架(4)保持固定連接。

5.根據權利要求1所述的一種光學器件的表面缺陷光檢接觸頭，其特征在于：所述接收器(8)接收面朝下，其左側設置有遮光罩。

6.根據權利要求1所述的一種光學器件的表面缺陷光檢接觸頭，其特征在于：所述輔助架(9)上設置有垂直的分度尺，其上設置的槽道與升降槽(10)適配。

7.根據權利要求1所述的一種光學器件的表面缺陷光檢接觸頭，其特征在于：所述擠壓頭(12)通過彈簧與推桿(11)活動連接，其左端設置有接觸球頭與固定架(4)筋板側面的槽適配。

8.根據權利要求1所述的一種光學器件的表面缺陷光檢接觸頭，其特征在于：所述升降柱(18)位于斜面盤(17)下側的與減震座(14)上端活動連接，位于斜面盤(17)上側的與連接件(19)下端活動連接。

9.根據權利要求1所述的一種光學器件的表面缺陷光檢接觸頭，其特征在于：所述連接件(19)右側設置有接觸面與升降柱(18)連接，左側設置有連桿與升降槽(10)連接。