[發明專利]ToF模組參數修正方法、ToF裝置及電子設備

有效

• 申請號: 202110438116.3
• 申請日: 2021-04-22
• 公開（公告）號: CN113192144B
• 公開（公告）日: 2023-04-14
• 發明（設計）人: 胡洪偉
• 申請（專利權）人: 上海炬佑智能科技有限公司
• 主分類號: G06T7/80
• 分類號: G06T7/80
• 代理公司: 深圳市嘉勤知識產權代理有限公司 44651
• 代理人: 董琳

本申請公開一種ToF模組參數修正方法、ToF裝置及電子設備，能夠提升ToF模組攝制的圖像的準確性。本申請提供的一種ToF模組參數修正方法包括以下步驟：步驟1：將ToF模組裝配到預設平面，所述ToF模組的裝配參數和出廠參數已知，并通過所述ToF模組獲取所述預設平面各點的實測深度值；步驟2：建立所述預設平面的點與所述ToF模組的傳感陣列中各個傳感器陣元的空間幾何對應關系，并根據該空間幾何對應關系計算獲取所述ToF模組的計算參數；步驟3：根據所述計算參數獲取裝配參數偏移量，并根據所述裝配參數偏移量對所述裝配參數進行修正。

技術領域

本申請涉及ToF領域，具體涉及ToF模組參數修正方法、ToF裝置及電子設備。

背景技術

飛行時間(ToF，Time?of?Flight)相機通過傳感器發出的脈沖信號從發射到接收的時間間隔或激光往返被測物體一次所產生的相位來實現對被測物體的距離、三維結構或三維輪廓的測量。ToF傳感器可同時獲得灰度圖像和距離圖像，廣泛應用在體感控制、行為分析、監控、自動駕駛、人工智能、機器視覺和自動3D建模等諸多領域。

現有技術中，通常使用ToF模組攝制待測區域中的深度圖像或者灰度圖像，以便針對該待測區域進行分析，從而進行后續規劃，如進行路徑規劃等。因此，ToF模組攝制的圖像的準確性非常重要。

亟需提出一種能夠提升ToF模組攝制的圖像的準確性的技術。

發明內容

鑒于此，本申請提供一種ToF模組參數修正方法、ToF裝置及電子設備，能夠提升ToF模組攝制的圖像的準確性。

本申請提供的一種ToF模組參數修正方法包括以下步驟：步驟1：將ToF模組裝配到預設平面，所述ToF模組的裝配參數和出廠參數已知，并通過所述ToF模組獲取所述預設平面各點的實測深度值；步驟2：建立所述預設平面的點與所述ToF模組的傳感陣列中各個傳感器陣元的空間幾何對應關系，并根據該空間幾何對應關系計算獲取所述ToF模組的計算參數；步驟3：根據所述計算參數獲取裝配參數偏移量，并根據所述裝配參數偏移量對所述裝配參數進行修正。

可選的，所述ToF模組還包括透鏡，所述透鏡的中心與所述傳感陣列的中心在同一直線上，所述直線平行于所述預設平面，并垂直于所述傳感陣列所在平面，所述裝配參數包括所述透鏡的中心相對于所述預設平面的高度。

可選的，所述預設平面為理想預設平面，所述計算參數包括所述傳感陣列的中心行相較于所述預設平面的計算高度、特征值以及偏移量，其中，所述計算高度根據下式獲取：

其中，Y為所述傳感陣列的中心行相較于所述預設平面的計算高度，depth1為點x的實測深度值，V為點x對應的傳感器陣元的行位置，V0為所述傳感陣列的中心行位置，fy為所述透鏡的出廠焦距。

可選的，所述特征值根據下式獲取：

其中，Yy為所述特征值，x_Size為所述傳感陣列的列數，Y(j)為根據第j列的傳感器陣元獲取的計算高度。

可選的，所述偏移量根據下式獲取：

其中，Yy為所述特征值，delta1為所述偏移量，H為所述透鏡的中心相對于所述預設平面的高度。

可選的，根據所述計算參數獲取裝配參數偏移量，并根據所述裝配參數偏移量對所述裝配參數進行修正時，包括以下步驟：獲取各行傳感器陣元對應的所述偏移量，并將所述偏移量中的最小偏移量作為所述裝配參數偏移量，并根據所述裝配參數偏移量對所述裝配參數進行修正。

可選的在修正時，根據下式對所述裝配參數進行修正：

H'＝H+deltay；