[發(fā)明專利]一種MPCVD設(shè)備溫度控制裝置及控制方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110399533.1 | 申請(qǐng)日: | 2021-04-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113515151B | 公開(公告)日: | 2022-04-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 龔闖;朱長(zhǎng)征;吳劍波;楊春梅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海征世科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G05D23/20 | 分類號(hào): | G05D23/20 |
| 代理公司: | 上海邦德專利代理事務(wù)所(普通合伙) 31312 | 代理人: | 袁步蘭 |
| 地址: | 201799 上海*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 mpcvd 設(shè)備 溫度 控制 裝置 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種MPCVD設(shè)備溫度控制裝置及控制方法,該溫度控制裝置包括基片臺(tái)、底座,所述底座設(shè)置在基片臺(tái)下方,底座內(nèi)設(shè)置有感應(yīng)組件、冷卻組件,所述感應(yīng)組件與基片臺(tái)固定,所述冷卻組件與基片臺(tái)管道連接,所述感應(yīng)組件連接有控制系統(tǒng)。感應(yīng)組件通過塞貝克效應(yīng)對(duì)基片臺(tái)各個(gè)區(qū)域的溫度進(jìn)行監(jiān)測(cè),并將監(jiān)測(cè)時(shí)產(chǎn)生的電流傳輸?shù)娇刂葡到y(tǒng)中,控制系統(tǒng)根據(jù)電流大小對(duì)冷卻組件中水流的流速進(jìn)行控制,基片臺(tái)溫度越高,冷卻水的流速就越大,冷卻組件對(duì)基片臺(tái)各個(gè)區(qū)域的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié),從而實(shí)現(xiàn)基片臺(tái)局部溫度的調(diào)節(jié)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及MPCVD設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種MPCVD設(shè)備溫度控制裝置及控制方法。
背景技術(shù)
MPCVD設(shè)備是一種常見的氣相沉積設(shè)備,特別是在金剛石的生產(chǎn)中,MPCVD設(shè)備通過等離子體在基片臺(tái)上的基片表面沉積金剛石。為實(shí)現(xiàn)批量生產(chǎn),會(huì)按照陣列的方式在基片臺(tái)上放置基片,同時(shí)為了實(shí)現(xiàn)金剛石在各個(gè)基片表面均勻沉積,會(huì)要求各個(gè)基片的上表面溫度在金剛石的生長(zhǎng)過程盡量保持一致。
現(xiàn)有技術(shù)在基片臺(tái)上配置加熱器,并通過加熱器來實(shí)現(xiàn)基片溫度的控制;但是,加熱器是對(duì)整個(gè)基片臺(tái)進(jìn)行控溫,并無法實(shí)現(xiàn)對(duì)基片臺(tái)某一區(qū)域的溫度控制。此加熱方式僅適用于制備金剛石薄膜,不能精準(zhǔn)控制基片臺(tái)各個(gè)區(qū)域的散熱以及調(diào)控各個(gè)基片的溫度,加熱器并不能使得所有基片溫度保持一致。
因此,人們需要一種MPCVD設(shè)備溫度控制裝置及控制方法來解決上述問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種MPCVD設(shè)備溫度控制裝置及控制方法,以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:一種MPCVD設(shè)備溫度控制裝置,該溫度控制裝置包括基片臺(tái)、底座,所述底座設(shè)置在基片臺(tái)下方,底座內(nèi)設(shè)置有感應(yīng)組件、冷卻組件,所述感應(yīng)組件與基片臺(tái)固定,所述冷卻組件與基片臺(tái)管道連接,所述感應(yīng)組件連接有控制系統(tǒng)。感應(yīng)組件通過塞貝克效應(yīng)對(duì)基片臺(tái)各個(gè)區(qū)域的溫度進(jìn)行監(jiān)測(cè),并將監(jiān)測(cè)時(shí)產(chǎn)生的電流傳輸?shù)娇刂葡到y(tǒng)中,控制系統(tǒng)根據(jù)電流大小對(duì)冷卻組件中水流的流速進(jìn)行控制,基片臺(tái)溫度越高,冷卻水的流速就越大,冷卻組件對(duì)基片臺(tái)各個(gè)區(qū)域的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié),從而實(shí)現(xiàn)基片臺(tái)局部溫度的調(diào)節(jié)。
所述基片臺(tái)包括若干組基片;所述感應(yīng)組件包括若干組感應(yīng)板,每組所述感應(yīng)板分別對(duì)應(yīng)設(shè)置在每組基片的下方,每組所述感應(yīng)板下方均設(shè)置有轉(zhuǎn)接箱,每組所述轉(zhuǎn)接箱均與控制系統(tǒng)電性連接;所述冷卻組件包括若干組基艙,每組所述基艙分別對(duì)應(yīng)設(shè)置在每組轉(zhuǎn)接箱的下方,每組所述基艙上均設(shè)置有傳輸管,所述傳輸管的另一端依次經(jīng)過轉(zhuǎn)接箱、感應(yīng)板并與基片管道連接,每組所述基片遠(yuǎn)離傳輸管的一端設(shè)置有出水支管。若干組基片組成基片臺(tái),每組基片下方均安裝有感應(yīng)板,感應(yīng)板對(duì)基片上的溫度進(jìn)行監(jiān)測(cè),并通過塞貝克效應(yīng)產(chǎn)生電流,轉(zhuǎn)接箱與感應(yīng)板電性連接,轉(zhuǎn)接箱連接外部控制系統(tǒng),控制系統(tǒng)對(duì)感應(yīng)板產(chǎn)生的電流大小進(jìn)行檢測(cè),并通過電流大小得知基片溫度的高低,控制系統(tǒng)并對(duì)流入轉(zhuǎn)接箱中的電流大小進(jìn)行調(diào)節(jié),轉(zhuǎn)接箱通過從控制系統(tǒng)處流入的電流對(duì)傳輸管中的冷卻水進(jìn)行再次調(diào)節(jié),基艙作為冷卻水進(jìn)入傳輸管的中轉(zhuǎn)艙,轉(zhuǎn)接箱控制基艙內(nèi)部的水壓,使基艙內(nèi)部水壓變大或變小,使傳輸管中的水流流速變大或減小。本控制裝置通過加快冷卻水的流速以及降低冷卻水的溫度,從而達(dá)到快速降低基片溫度的效果,每一個(gè)感應(yīng)板監(jiān)測(cè)一個(gè)基片,每一個(gè)基艙連接一個(gè)基片,通過多對(duì)一的方式,實(shí)現(xiàn)對(duì)每一個(gè)基片溫度的精準(zhǔn)控制,通過若干組感應(yīng)板和基艙的設(shè)置,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)基片臺(tái)每一個(gè)區(qū)域溫度的精準(zhǔn)控制。
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