[發明專利]一種CP/FT測試方法、裝置、系統、電子設備和介質

在審

• 申請號: 202110390325.5
• 申請日: 2021-04-12
• 公開（公告）號: CN112924853A
• 公開（公告）日: 2021-06-08
• 發明（設計）人: 曹祥榮;唐偉;周潤;黃賽飛
• 申請（專利權）人: 湖南國科微電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 豆貝貝

1.一種CP/FT測試方法，其特征在于，包括：

根據SPI時序圖，生成測試激勵；

將所述測試激勵通過SPI接口灌入測試芯片；

獲取所述測試芯片在所述測試激勵下的輸出值；

根據所述輸出值，確定所述測試芯片是否合格。

2.根據權利要求1所述的CP/FT測試方法，其特征在于，獲取所述測試芯片在所述測試激勵下的輸出值，包括：

利用所述SPI接口解析所述測試激勵，確定所述測試芯片中進行測試的目標測試IP；

獲取所述目標測試IP的輸出值。

3.根據權利要求2所述的CP/FT測試方法，其特征在于，獲取所述目標測試IP的輸出值，包括：

測量所述目標測試IP對應引腳的輸出值，或讀取所述目標測試IP的寄存器的狀態值，將所述狀態值作為所述輸出值。

4.根據權利要求2所述的CP/FT測試方法，其特征在于，在根據SPI時序圖，生成測試激勵之前，還包括：

設置所述SPI接口的數據傳輸格式中每次讀寫的數據字節數等于所述目標測試IP的寄存器的比特數。

5.根據權利要求1所述的CP/FT測試方法，其特征在于，根據所述輸出值，確定所述測試芯片是否合格，包括：

將所述輸出值與所述測試激勵下的預設期望值進行比對；

若相同，則確定所述測試芯片合格；

若不相同，則確定所述測試芯片不合格。

6.一種CP/FT測試裝置，其特征在于，包括：

生成模塊，用于根據SPI時序圖，生成測試激勵；

灌入模塊，用于將所述測試激勵通過SPI接口灌入測試芯片；

獲取模塊，用于獲取所述測試芯片在所述測試激勵下的輸出值；

確定模塊，用于根據所述輸出值，確定所述測試芯片是否合格。

7.根據權利要求1所述的CP/FT測試裝置，其特征在于，所述獲取模塊，包括：

確定單元，用于利用所述SPI接口解析所述測試激勵，確定所述測試芯片中進行測試的目標測試IP；

獲取單元，用于獲取所述目標測試IP的輸出值。

8.一種CP/FT測試系統，其特征在于，包括：

測試芯片，用于在測試機臺灌入的測試激勵下進行測試，產生輸出值；

測試機臺，用于執行上述權利要求1至5任一項所述CP/FT測試方法的步驟。

9.一種電子設備，其特征在于，包括：

存儲器，用于存儲計算機程序；

處理器，用于執行所述計算機程序時實現如權利要求1至5任一項所述CP/FT測試方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至5任一項所述CP/FT測試方法的步驟。