[發(fā)明專利]基于點(diǎn)跡密度反饋的自適應(yīng)門限檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110389645.9 | 申請(qǐng)日: | 2021-04-12 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113093121B | 公開(公告)日: | 2022-08-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 夏永紅;馬心宇;張哲敏;陳楠;薛雨雨 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京無線電測(cè)量研究所 |
| 主分類號(hào): | G01S7/36 | 分類號(hào): | G01S7/36;G01S7/35 |
| 代理公司: | 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11212 | 代理人: | 賴定珍 |
| 地址: | 100854 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 密度 反饋 自適應(yīng) 門限 檢測(cè) 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種基于點(diǎn)跡密度反饋的自適應(yīng)門限檢測(cè)方法,涉及雷達(dá)信息處理技術(shù)領(lǐng)域。包括:對(duì)探測(cè)區(qū)域進(jìn)行網(wǎng)格劃分,設(shè)置初始的檢測(cè)門限;對(duì)待檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行門限檢測(cè)和點(diǎn)跡提取處理;將每個(gè)點(diǎn)跡存入對(duì)應(yīng)的網(wǎng)格中;若目標(biāo)網(wǎng)格的點(diǎn)跡數(shù)量大于或等于預(yù)設(shè)的點(diǎn)跡容量門限,則調(diào)整目標(biāo)網(wǎng)格的檢測(cè)門限,重復(fù)上述步驟直到目標(biāo)網(wǎng)格的點(diǎn)跡數(shù)量小于點(diǎn)跡容量門限。本發(fā)明提供的自適應(yīng)門限檢測(cè)方法,適用于非均勻的復(fù)雜背景下的點(diǎn)跡數(shù)量控制,可以控制網(wǎng)格內(nèi)點(diǎn)跡數(shù)量保持在恒定范圍,達(dá)到點(diǎn)跡級(jí)恒虛警率處理效果,不僅可以兼顧雜波區(qū)虛警抑制和非雜波區(qū)弱目標(biāo)檢測(cè),同時(shí)還可以避免由于大量雜波點(diǎn)跡過濾導(dǎo)致的目標(biāo)漏檢。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及雷達(dá)信息處理技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及基于點(diǎn)跡密度反饋的自適應(yīng)門限檢測(cè)方法。
背景技術(shù)
雷達(dá)信息處理主要包括信號(hào)處理和數(shù)據(jù)處理兩部分,信號(hào)處理是對(duì)雷達(dá)的IQ數(shù)據(jù)經(jīng)過脈壓、干擾抑制、多普勒濾波和門限檢測(cè)等處理后提取過門限回波數(shù)據(jù),然后再按照點(diǎn)跡提取規(guī)則對(duì)分布在多個(gè)距離單元、俯仰/方位波位內(nèi)屬于同一目標(biāo)的過門限回波數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)凝聚處理,得到點(diǎn)跡數(shù)據(jù)后進(jìn)行自動(dòng)/半自動(dòng)航跡起始與目標(biāo)跟蹤等數(shù)據(jù)處理?,F(xiàn)代雷達(dá)系統(tǒng)中幾乎均采用了自動(dòng)航跡起始與跟蹤處理算法,目標(biāo)點(diǎn)跡的有效提取和虛假點(diǎn)跡的有效抑制是保證真實(shí)目標(biāo)航跡穩(wěn)定輸出的重要前提。
為了控制數(shù)據(jù)處理輸入點(diǎn)跡的數(shù)量,在信息處理過程中常采用兩種方式,一是在信號(hào)處理環(huán)節(jié)的門限檢測(cè)模塊進(jìn)行背景自適應(yīng)調(diào)控,減少過門限回波數(shù)量,例如經(jīng)典的恒虛警率檢測(cè)方法等;二是在數(shù)據(jù)處理環(huán)節(jié)對(duì)輸入點(diǎn)跡進(jìn)行判別標(biāo)識(shí)與過濾,例如利用雜波點(diǎn)跡識(shí)別結(jié)果進(jìn)行點(diǎn)跡過濾。然而,這兩種方法均可以對(duì)點(diǎn)跡數(shù)量進(jìn)行調(diào)控,但是在非均勻的復(fù)雜背景下,直接調(diào)整檢測(cè)門限不能兼顧雜波區(qū)虛假點(diǎn)跡抑制和非雜波區(qū)的弱目標(biāo)檢測(cè),在扇區(qū)點(diǎn)跡密度較大時(shí),直接進(jìn)行點(diǎn)跡過濾處理雜波點(diǎn)跡識(shí)別計(jì)算量較大且容易將目標(biāo)漏檢。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種基于點(diǎn)跡密度反饋的自適應(yīng)門限檢測(cè)方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)。
本發(fā)明解決上述技術(shù)問題的技術(shù)方案如下:
一種基于點(diǎn)跡密度反饋的自適應(yīng)門限檢測(cè)方法,包括:
S1,根據(jù)預(yù)設(shè)的尺度因子對(duì)探測(cè)區(qū)域進(jìn)行網(wǎng)格劃分,確定每個(gè)網(wǎng)格的網(wǎng)格號(hào),并設(shè)置每個(gè)網(wǎng)格初始的檢測(cè)門限;
S2,獲取待檢測(cè)數(shù)據(jù),根據(jù)所述檢測(cè)門限對(duì)所述待檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行門限檢測(cè),得到過門限數(shù)據(jù);
S3,對(duì)所述過門限數(shù)據(jù)進(jìn)行點(diǎn)跡提取處理,提取點(diǎn)跡信息,所述點(diǎn)跡信息包括點(diǎn)跡的位置信息和點(diǎn)跡質(zhì)量;
S4,根據(jù)所述位置信息確定每個(gè)點(diǎn)跡所在網(wǎng)格的網(wǎng)格號(hào),根據(jù)每個(gè)點(diǎn)跡所在網(wǎng)格的網(wǎng)格號(hào)將每個(gè)點(diǎn)跡存入對(duì)應(yīng)的網(wǎng)格中;
S5,確定當(dāng)前掃描周期更新后的每個(gè)網(wǎng)格的點(diǎn)跡數(shù)量,若目標(biāo)網(wǎng)格的點(diǎn)跡數(shù)量大于或等于預(yù)設(shè)的點(diǎn)跡剔除門限,但小于預(yù)設(shè)的點(diǎn)跡容量門限,則執(zhí)行步驟S6和步驟S7;若所述目標(biāo)網(wǎng)格的點(diǎn)跡數(shù)量大于或等于預(yù)設(shè)的點(diǎn)跡容量門限,則調(diào)整所述目標(biāo)網(wǎng)格的檢測(cè)門限,重復(fù)執(zhí)行步驟S2至步驟S5,直到所述目標(biāo)網(wǎng)格的點(diǎn)跡數(shù)量小于所述點(diǎn)跡容量門限;
S6,根據(jù)所述點(diǎn)跡質(zhì)量對(duì)所述目標(biāo)網(wǎng)格內(nèi)的全部點(diǎn)跡進(jìn)行排序,按照點(diǎn)跡質(zhì)量從低到高的順序剔除點(diǎn)跡,使所述目標(biāo)網(wǎng)格內(nèi)的點(diǎn)跡數(shù)量小于或等于所述點(diǎn)跡剔除門限;
S7,輸出所述目標(biāo)網(wǎng)格內(nèi)的點(diǎn)跡;
其中,所述目標(biāo)網(wǎng)格為所述探測(cè)區(qū)域內(nèi)全部網(wǎng)格中的任意一個(gè)網(wǎng)格。
本發(fā)明解決上述技術(shù)問題的另一種技術(shù)方案如下:
一種存儲(chǔ)介質(zhì),所述存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有指令,當(dāng)計(jì)算機(jī)讀取所述指令時(shí),使所述計(jì)算機(jī)執(zhí)行如上述技術(shù)方案所述的基于點(diǎn)跡密度反饋的自適應(yīng)門限檢測(cè)方法。
一種基于點(diǎn)跡密度反饋的自適應(yīng)門限檢測(cè)裝置,包括:
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G01S7-00 與G01S 13/00,G01S 15/00,G01S 17/00各組相關(guān)的系統(tǒng)的零部件
G01S7-02 .與G01S 13/00組相應(yīng)的系統(tǒng)的
G01S7-48 .與G01S 17/00組相應(yīng)的系統(tǒng)的
G01S7-52 .與G01S 15/00組相應(yīng)的系統(tǒng)的
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