[發明專利]基于點跡密度反饋的自適應門限檢測方法有效
| 申請號: | 202110389645.9 | 申請日: | 2021-04-12 |
| 公開(公告)號: | CN113093121B | 公開(公告)日: | 2022-08-02 |
| 發明(設計)人: | 夏永紅;馬心宇;張哲敏;陳楠;薛雨雨 | 申請(專利權)人: | 北京無線電測量研究所 |
| 主分類號: | G01S7/36 | 分類號: | G01S7/36;G01S7/35 |
| 代理公司: | 北京輕創知識產權代理有限公司 11212 | 代理人: | 賴定珍 |
| 地址: | 100854 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 密度 反饋 自適應 門限 檢測 方法 | ||
1.一種基于點跡密度反饋的自適應門限檢測方法,其特征在于,包括:
S1,根據預設的尺度因子對探測區域進行網格劃分,確定每個網格的網格號,并設置每個網格初始的檢測門限;
S2,獲取待檢測數據,根據所述檢測門限對所述待檢測數據進行門限檢測,得到過門限數據;
S3,對所述過門限數據進行點跡提取處理,提取點跡信息,所述點跡信息包括點跡的位置信息和點跡質量;
S4,根據所述位置信息確定每個點跡所在網格的網格號,根據每個點跡所在網格的網格號將每個點跡存入對應的網格中;
S5,確定當前掃描周期更新后的每個網格的點跡數量,若目標網格的點跡數量大于或等于預設的點跡剔除門限,但小于預設的點跡容量門限,則執行步驟S6和步驟S7;若所述目標網格的點跡數量大于或等于預設的點跡容量門限,則調整所述目標網格的檢測門限,重復執行步驟S2至步驟S5,直到所述目標網格的點跡數量小于所述點跡容量門限;
S6,根據所述點跡質量對所述目標網格內的全部點跡進行排序,按照點跡質量從低到高的順序剔除點跡,使所述目標網格內的點跡數量小于或等于所述點跡剔除門限;
S7,輸出所述目標網格內的點跡;
其中,所述目標網格為所述探測區域內全部網格中的任意一個網格。
2.根據權利要求1所述的基于點跡密度反饋的自適應門限檢測方法,其特征在于,根據預設的尺度因子對探測區域進行網格劃分,具體包括:
確定所述探測區域的距離范圍[Rmin,Rmax]、方位范圍[Amin,Amax]和俯仰范圍[Emin,Emax];
根據預設的尺度因子確定網格的大小,所述網格的大小為NRRres×NAAres×NEEres;
根據所述網格的大小將所述探測區域劃分為NGrid_R×NGrid_A×NGrid_E個網格,其中:
NR為距離尺度因子,NA為方位尺度因子,NE為俯仰尺度因子,Rres為距離分辨單元的大小,Ares為方位分辨單元的大小,Eres為俯仰分辨單元的大小,表示向上取整。
3.根據權利要求1所述的基于點跡密度反饋的自適應門限檢測方法,其特征在于,根據以下公式確定第i個點跡所在網格的網格號:
其中,NGrid_R_i為距離網格號,NGrid_R_i為方位網格號,NGrid_R_i為俯仰網格號,為第i個點跡的距離,為第i個點跡的方位,為 第i個點跡的仰角,i=1,…,Nplot,Nplot為提取到的點跡數量,NR為距離尺度因子,NA為方位尺度因子,NE為俯仰尺度因子,Rres為距離分辨單元的大小,Ares為方位分辨單元的大小,Eres為俯仰分辨單元的大小,表示向上取整,Rmin為探測區域的距離范圍的最小值,Amin為探測區域的方位范圍的最小值,Emin為探測區域的俯仰范圍的最小值。
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