[發明專利]一種激光測量系統

在審

• 申請號: 202110378902.9
• 申請日: 2021-04-08
• 公開（公告）號: CN113281768A
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發明（設計）人: 王偉毅
• 申請（專利權）人: 杭州巨星科技股份有限公司
• 主分類號: G01S17/48
• 分類號: G01S17/48;G01S7/481
• 代理公司: 杭州杭誠專利事務所有限公司 33109
• 代理人: 尉偉敏

本發明公開了一種激光測量系統，包括：第一發射模塊，發射激光；第二發射模塊，發射激光，與第一發射模塊的出射方向不同；分光模塊，設置于兩束激光的反射光路的交匯區域，并匯總光束；接收模塊，接收分光模塊匯總光束并轉換為電信號。本發明的實質性效果包括：僅使用一個分光模塊和接收模塊實現雙激光的測距，只需要一套控制電路，節省了材料成本，降低了功耗，生產組裝更簡單。

技術領域

本發明涉及激光測距領域，特別涉及一種激光測量系統。

背景技術

激光測距已經廣泛應用在建筑、裝修、家居、生產制造等專業和非專業領域，給消費者以更快捷方便準確的測繪信息獲取和拓展性開發做數據和信息支撐。如公開號CN203535218U的實用新型公開了一種激光測距光路裝置。大部分通用激光測距儀器，都是點對點、一對一測試，隨著專業和特殊應用領域分支的場景細分，市面上涌現了一些雙激光測量方案和產品，例如垂直激光測距，方便更快速和精準的獲取面積和體積數據，方便裝修工程的涂層和鋪裝材料計算。例如雙向激光測距，對測距基準位置的選擇有更多的靈活性和便捷性。又如角度可調的雙激光測量，集合了角度和激光測距信息數據的復合場景運用和運算，滿足了更多的使用場景。

但是市面上多數的雙激光測距方案，都是兩個激光測距模塊的簡單疊加，也就是兩個激光測距儀的1+1拼接，這樣制造成本和材料成本都是成倍的增加，并且在產品能耗上面也是兩個測距儀的需求，這就需要外掛更大的電源驅動，可以理解為現有技術仍然停留在將兩個測距儀一起使用的階段，而非真正意義上的雙激光測距。

發明內容

針對現有技術缺少真正雙激光測距系統的問題，本發明提供了一種激光測量系統，合理利用光學分光光路，利用同一套系統實現兩個不同方向的測量。

以下是本發明的技術方案。

一種激光測量系統，包括：第一發射模塊，發射激光；第二發射模塊，發射激光，與第一發射模塊的出射方向不同；分光模塊，設置于兩束激光的反射光路的交匯區域，并匯總光束；接收模塊，接收分光模塊匯總光束并轉換為電信號。

本發明僅使用一個分光模塊和接收模塊實現雙激光的測距，只需要一套控制電路，節省了材料成本，降低了功耗，生產組裝更簡單。

作為優選，所述第一發射模塊的出射方向與第二發射模塊的出射方向垂直。

作為優選，所述分光模塊包括分光鏡，所述分光鏡包括透射面以及半反半透面，所述第一發射模塊和第二發射模塊之一的反射光經過透射面以及半反半透面透射至接收模塊，另一束反射光經過半反半透面反射后進入接收模塊。分光鏡一般為三棱柱。

作為優選，所述第一發射模塊的出射方向與第二發射模塊的出射方向相反。

作為優選，所述分光模塊包括分光鏡，所述分光鏡包括透射面、第一半反半透面以及第二半反半透面，所述第一發射模塊和第二發射模塊之一的反射光經過透射面后經過第一半反半透面反射，再經過第二半反半透面透射后進入接收模塊，另一束反射光經過第二半反半透面反射后進入接收模塊。分光鏡一般為三棱柱。

作為優選，還包括第三發射模塊，發射模塊之間出射方向呈十字形，所述分光模塊包括四錐鏡，所述四錐鏡表面鍍有反射膜，發射模塊出射的激光反回后分別經過四錐鏡的不同反射膜反射至接收模塊。根據需求還可以增加第四發射模塊，以完全利用四錐鏡多個面的反射膜。

作為優選，所述透射面包括AR增透膜。AR增透膜是鍍在分光鏡表面。

本發明的實質性效果包括：使用一個分光模塊和接收模塊實現多激光的測距，只需要一套控制電路，節省了材料成本，降低了功耗，生產組裝更簡單。

附圖說明

圖1是本發明實施例1的示意圖；

圖2是本發明實施例2的示意圖；

圖3是本發明實施例3的示意圖；