[發(fā)明專利]一種標定塊、缺陷檢測裝置及缺陷檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110374175.9 | 申請日: | 2021-04-07 |
| 公開(公告)號: | CN113109354A | 公開(公告)日: | 2021-07-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 崔國棟 | 申請(專利權(quán))人: | 上海御微半導(dǎo)體技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區(qū)中國*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 標定 缺陷 檢測 裝置 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種標定塊、缺陷檢測裝置及缺陷檢測方法。其中,標定塊包括沿第一方向排布的N個臺階部,沿第二方向,N個臺階部的高度各不相同,其中,第一方向垂直于第二方向,N≥2且N為整數(shù),臺階部包括垂直于第二方向的頂面,頂面設(shè)置有分辨率測試圖案。本發(fā)明提供的標定塊、缺陷檢測裝置及缺陷檢測方法,通過設(shè)置高度各不相同的N個臺階部,且每個臺階部的頂面均設(shè)置有分辨率測試圖案,使得缺陷檢測裝置的圖像采集模塊與標定塊處于相對靜止的狀態(tài)下即可獲取不同高度平面內(nèi)的分辨率測試圖案的圖像,實現(xiàn)對圖像采集模塊的焦深和最佳焦面的標定,無需再令圖像采集模塊進行垂向運動,操作簡單,且不會耦合進垂向運動的誤差,提高了標定的精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實施例涉及光學(xué)檢測技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種標定塊、缺陷檢測裝置及缺陷檢測方法。
背景技術(shù)
隨著工業(yè)自動化、智能化的深入及普及,使用自動光學(xué)檢測設(shè)備(Auto OpticalInspection,AOI)替代傳統(tǒng)的人工目檢,已成為技術(shù)發(fā)展趨勢。AOI設(shè)備憑借其快速、精確的缺陷識別定位能力,在汽車、醫(yī)藥、交通、半導(dǎo)體等領(lǐng)域廣泛使用。
目前,現(xiàn)有的AOI設(shè)備通常包括圖像采集系統(tǒng)、計算機控制系統(tǒng)、框架支撐系統(tǒng)、物料傳輸系統(tǒng)、運動控制系統(tǒng)、輸入輸出模塊等。隨著AOI設(shè)備分辨率的要求越高,對于圖像采集系統(tǒng)中的光學(xué)模組的焦深控制要求越來越嚴格。對于μm級的檢測分辨率,光學(xué)模組的焦深一般在十幾μm至數(shù)百μm的范圍內(nèi)。因此,目前AOI設(shè)備上面普遍地采取實時調(diào)焦以規(guī)避離焦導(dǎo)致的成像模糊的問題,而由于外界環(huán)境因素、內(nèi)部運動控制誤差、支撐結(jié)構(gòu)的形變和檢測目標多樣性等眾因素,需要頻繁對光學(xué)系統(tǒng)的焦面進行標定。目前通常采用商用的分辨率標定板進行標定,通過圖像采集系統(tǒng)的垂向運動,間接測出最佳焦面,該標定方式操作復(fù)雜,并且會耦合進垂向運動誤差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種標定塊、缺陷檢測裝置及缺陷檢測方法,以直接測出最佳焦面,操作簡單,并提高標定精度。
第一方面,本發(fā)明實施例提供了一種標定塊,包括:
沿第一方向排布的N個臺階部,沿第二方向,N個臺階部的高度各不相同,其中,所述第一方向垂直于所述第二方向,N≥2且N為整數(shù);
所述臺階部包括垂直于所述第二方向的頂面,所述頂面設(shè)置有分辨率測試圖案。
可選的,所述臺階部的所述頂面設(shè)置有至少兩個所述分辨率測試圖案,至少兩個所述分辨率測試圖案的尺寸相同或不同。
可選的,所述分辨率測試圖案包括USAF1951分辨率測試圖案。
第二方面,本發(fā)明實施例還提供了一種缺陷檢測裝置,包括第一方面所述的任一標定塊;
所述缺陷檢測裝置還包括載物臺、圖像采集模塊和計算機控制模塊;
所述載物臺用于承載待測物;所述圖像采集模塊用于采集所述待測物的圖像;所述計算機控制模塊與所述圖像采集模塊電連接,用于根據(jù)所述待測物的圖像對所述待測物進行缺陷檢測;
所述標定塊固定于所述載物臺上,所述圖像采集模塊還用于采集所述標定塊的圖像,所述計算機控制模塊還用于根據(jù)所述標定塊的圖像獲取所述圖像采集模塊的焦深和最佳焦面。
可選的,所述缺陷檢測裝置還包括運動控制模塊,所述運動控制模塊與所述載物臺連接,和/或,所述運動控制模塊與所述圖像采集模塊連接;
所述運動控制模塊用于驅(qū)動所述載物臺和/或所述圖像采集模塊運動。
第三方面,本發(fā)明實施例還提供了一種缺陷檢測方法,應(yīng)用于第二方面所述的缺陷檢測裝置,該方法包括:
獲取標定塊的圖像,所述標定塊的圖像包括N個第一子圖像,N個所述第一子圖像與N個臺階部對應(yīng),所述第一子圖像為對應(yīng)的臺階部的頂面上分辨率測試圖案的圖像,其中,N≥2且N為整數(shù);
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





