[發(fā)明專利]一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測(cè)工藝在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110373281.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-04-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113113509A | 公開(公告)日: | 2021-07-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 余江湖;鄭松;劉君 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 安徽晶天新能源科技有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | H01L31/18 | 分類號(hào): | H01L31/18;H01L21/67 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 243000 安徽省馬鞍山*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 太陽能 硅片 工用 涂膠 質(zhì)量 分點(diǎn) 檢測(cè) 工藝 | ||
本發(fā)明公開了一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測(cè)工藝,其步驟如下:步驟一:通過對(duì)太陽能硅片進(jìn)行涂膠,并保證輸送裝置對(duì)硅片進(jìn)行穩(wěn)定的輸送,且輸送的過程中通過冷卻裝置對(duì)太陽能硅片進(jìn)行冷卻,步驟二:對(duì)涂膠后的太陽能硅片進(jìn)行分點(diǎn)式檢測(cè),對(duì)檢測(cè)結(jié)果的平均值進(jìn)行計(jì)算和記錄,保證硅片檢測(cè)結(jié)果的平均值在正常平均值之內(nèi),步驟三:對(duì)整體檢測(cè)的環(huán)境進(jìn)行調(diào)控,通過對(duì)檢測(cè)環(huán)境內(nèi)部的氣壓、溫度和濕度進(jìn)行調(diào)節(jié),從而方便整體檢測(cè)出膠體的數(shù)值變化,步驟四:對(duì)檢測(cè)后的硅片進(jìn)行分選,完成整體的檢測(cè)。該太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測(cè)工藝,通過檢測(cè)不同環(huán)境下膠體的穩(wěn)定性和強(qiáng)度,并進(jìn)行多點(diǎn)取樣和對(duì)比檢測(cè),保證整體良好的檢測(cè)效果。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及太陽能硅片加工技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測(cè)工藝。
背景技術(shù)
太陽能是人類取之不盡用之不竭的可再生能源.也是清潔能源,不產(chǎn)生任何的環(huán)境污染,在太陽能的有效利用當(dāng)中;太陽能光電利用是近些年來發(fā)展最快,最具活力的研究領(lǐng)域,是其中最受矚目的項(xiàng)目之一,為此,人們研制和開發(fā)了太陽能電池,制作太陽能電池主要是以半導(dǎo)體材料為基礎(chǔ),其工作原理是利用光電材料吸收光能后發(fā)生光電子轉(zhuǎn)換反應(yīng),根據(jù)所用材料的不同,太陽能電池片分為晶硅類和非晶硅類,其中晶硅類電池片又可以分為單晶電池片和多晶電池片,單晶硅的效率較多晶硅也有區(qū)別,硅是最理想的太陽能電池材料,這也是太陽能電池以硅材料為主的主要原因。
但是太陽能硅片的涂膠質(zhì)量不方便進(jìn)行分點(diǎn)式檢測(cè),導(dǎo)致整體在檢測(cè)的過程中容易出現(xiàn)漏檢的情況,降低了整體的檢測(cè)效果,且整體在檢測(cè)的過程中,不方便對(duì)檢測(cè)中的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié),導(dǎo)致整體的檢測(cè)數(shù)據(jù)不夠完整,降低了整體的檢測(cè)效果,且不在多種環(huán)境下進(jìn)行檢測(cè)會(huì)導(dǎo)致整體在不同環(huán)境下使用出現(xiàn)問題,降低了整體的成型效果,降低了整體實(shí)用性。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測(cè)工藝,以解決上述背景技術(shù)中提出太陽能硅片的涂膠質(zhì)量不方便進(jìn)行分點(diǎn)式檢測(cè),導(dǎo)致整體在檢測(cè)的過程中容易出現(xiàn)漏檢的情況,降低了整體的檢測(cè)效果,且整體在檢測(cè)的過程中,不方便對(duì)檢測(cè)中的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié),導(dǎo)致整體的檢測(cè)數(shù)據(jù)不夠完整,降低了整體的檢測(cè)效果,且不在多種環(huán)境下進(jìn)行檢測(cè)會(huì)導(dǎo)致整體在不同環(huán)境下使用出現(xiàn)問題,降低了整體的成型效果,降低了整體實(shí)用性的問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測(cè)工藝,其步驟如下:
步驟一:通過對(duì)太陽能硅片進(jìn)行涂膠,并保證輸送裝置對(duì)硅片進(jìn)行穩(wěn)定的輸送,且輸送的過程中通過冷卻裝置對(duì)太陽能硅片進(jìn)行冷卻,保證硅片外側(cè)的膠保持干燥,保證凝結(jié)的膠可以被充分的檢測(cè)出來,保證整體正常的檢測(cè)效果。
步驟二:對(duì)涂膠后的太陽能硅片進(jìn)行分點(diǎn)式檢測(cè),將干燥后的太陽能硅片移動(dòng)至上料處,通過上料機(jī)器人對(duì)太陽能硅片進(jìn)行分揀,保證每片太陽能硅片均被充分的檢測(cè),同時(shí)設(shè)置對(duì)照檢測(cè)組,并通過視覺檢測(cè)機(jī)器人對(duì)涂膠后的太陽能硅片表面進(jìn)行檢測(cè),對(duì)整體加工過程中產(chǎn)生的裂隙進(jìn)行檢測(cè),通過下壓裝置對(duì)整體表面進(jìn)行加壓,檢測(cè)整體成型后的受力數(shù)值,并檢測(cè)整體的強(qiáng)度,并將整體檢測(cè)所得的數(shù)據(jù)通過記錄裝置進(jìn)行記錄,方便整體與正常數(shù)值進(jìn)行對(duì)比,并在檢測(cè)的過程中分別對(duì)硅片四角和中間位置進(jìn)行分點(diǎn)式檢測(cè),并對(duì)檢測(cè)結(jié)果的平均值進(jìn)行計(jì)算和記錄,保證硅片檢測(cè)結(jié)果的平均值在正常平均值之內(nèi),并保證各點(diǎn)數(shù)值均在平均值之中,從而保證整體的檢測(cè)結(jié)果。
步驟三:對(duì)整體檢測(cè)的環(huán)境進(jìn)行調(diào)控,通過對(duì)檢測(cè)環(huán)境內(nèi)部的氣壓、溫度和濕度進(jìn)行調(diào)節(jié),從而方便整體檢測(cè)出在不同環(huán)境下的膠體的數(shù)值變化,并通過記錄裝置對(duì)整體進(jìn)行記錄,方便得出不同溫度下膠體的變化情況,并將變化的數(shù)值與相對(duì)值進(jìn)行對(duì)比,從而方便檢測(cè)出不合格的涂膠硅片。
步驟四:對(duì)檢測(cè)后的硅片進(jìn)行分選,將硅片檢測(cè)的結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)值進(jìn)行對(duì)比,在正常數(shù)值之內(nèi)的硅片為合格品,并將不合格品進(jìn)行收集處理,從而完成整體的檢測(cè)。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





