[發(fā)明專利]一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測工藝

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• 申請日: 2021-04-07
• 公開（公告）號(hào): CN113113509A
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 余江湖;鄭松;劉君
• 申請（專利權(quán)）人: 安徽晶天新能源科技有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): H01L31/18
• 分類號(hào): H01L31/18;H01L21/67
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測工藝，其特征在于：其步驟如下：

步驟一：通過對(duì)太陽能硅片進(jìn)行涂膠，并保證輸送裝置對(duì)硅片進(jìn)行穩(wěn)定的輸送，且輸送的過程中通過冷卻裝置對(duì)太陽能硅片進(jìn)行冷卻，保證硅片外側(cè)的膠保持干燥，保證凝結(jié)的膠可以被充分的檢測出來，保證整體正常的檢測效果。

步驟二：對(duì)涂膠后的太陽能硅片進(jìn)行分點(diǎn)式檢測，將干燥后的太陽能硅片移動(dòng)至上料處，通過上料機(jī)器人對(duì)太陽能硅片進(jìn)行分揀，保證每片太陽能硅片均被充分的檢測，同時(shí)設(shè)置對(duì)照檢測組，并通過視覺檢測機(jī)器人對(duì)涂膠后的太陽能硅片表面進(jìn)行檢測，對(duì)整體加工過程中產(chǎn)生的裂隙進(jìn)行檢測，通過下壓裝置對(duì)整體表面進(jìn)行加壓，檢測整體成型后的受力數(shù)值，并檢測整體的強(qiáng)度，并將整體檢測所得的數(shù)據(jù)通過記錄裝置進(jìn)行記錄，方便整體與正常數(shù)值進(jìn)行對(duì)比，并在檢測的過程中分別對(duì)硅片四角和中間位置進(jìn)行分點(diǎn)式檢測，并對(duì)檢測結(jié)果的平均值進(jìn)行計(jì)算和記錄，保證硅片檢測結(jié)果的平均值在正常平均值之內(nèi)，并保證各點(diǎn)數(shù)值均在平均值之中，從而保證整體的檢測結(jié)果。

步驟三：對(duì)整體檢測的環(huán)境進(jìn)行調(diào)控，通過對(duì)檢測環(huán)境內(nèi)部的氣壓、溫度和濕度進(jìn)行調(diào)節(jié)，從而方便整體檢測出在不同環(huán)境下的膠體的數(shù)值變化，并通過記錄裝置對(duì)整體進(jìn)行記錄，方便得出不同溫度下膠體的變化情況，并將變化的數(shù)值與相對(duì)值進(jìn)行對(duì)比，從而方便檢測出不合格的涂膠硅片。

步驟四：對(duì)檢測后的硅片進(jìn)行分選，將硅片檢測的結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)值進(jìn)行對(duì)比，在正常數(shù)值之內(nèi)的硅片為合格品，并將不合格品進(jìn)行收集處理，從而完成整體的檢測。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測工藝，其特征在于：所述步驟一中的冷卻裝置采用皮帶式冷凍干燥機(jī)，且冷凍皮帶式干燥機(jī)為輸送帶上帶固定夾具結(jié)構(gòu)，并且皮帶式冷凍干燥機(jī)內(nèi)部的溫度保持恒溫。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測工藝，其特征在于：所述步驟二中的分揀機(jī)器人為帶卡爪結(jié)構(gòu)，且分揀機(jī)器人的卡爪與硅片的形狀大小相適配，并且分揀機(jī)器人與對(duì)照檢測組對(duì)應(yīng)分布有兩組。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測工藝，其特征在于：所述步驟二中的對(duì)照檢測組整體為帶密封結(jié)構(gòu)的箱體，且對(duì)照檢測組內(nèi)部視覺檢測機(jī)器人與對(duì)照檢測組對(duì)應(yīng)分布，并且視覺檢測機(jī)器人為帶水平調(diào)節(jié)的移動(dòng)式結(jié)構(gòu)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測工藝，其特征在于：所述步驟二中的下壓裝置為帶壓力數(shù)值顯示機(jī)構(gòu)的壓力氣缸，且下壓裝置檢測過程中通過持續(xù)對(duì)膠體施壓，并且對(duì)膠體施壓保持5N/min直到200N。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測工藝，其特征在于：所述步驟二中的對(duì)硅片四角和中間位置檢測采用相同的變量，且對(duì)硅片四角和中間位置進(jìn)行分點(diǎn)式檢測需進(jìn)行至少兩次檢測，并且檢測結(jié)果的平均值為多次測算(按檢測次數(shù)計(jì)算)的平均數(shù)值。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測工藝，其特征在于：所述步驟三中氣壓、溫度和濕度分別通過加濕器、制冷機(jī)(制熱機(jī))和氣壓調(diào)節(jié)器均進(jìn)行控制，且加濕器、制冷機(jī)(制熱機(jī))和氣壓調(diào)節(jié)器均固定在對(duì)照檢測組內(nèi)部，并且對(duì)照檢測組內(nèi)部均設(shè)置有相對(duì)應(yīng)的防霧、防高溫和防爆結(jié)構(gòu)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測工藝，其特征在于：所述步驟三中的氣壓調(diào)節(jié)以0.02Pa/min的速度進(jìn)行上升或下降，且氣壓調(diào)節(jié)在兩組對(duì)照檢測組的數(shù)值不同，并且氣壓調(diào)節(jié)在一組對(duì)照檢測組內(nèi)部為正常氣壓，在另一組內(nèi)部為變化氣壓。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測工藝，其特征在于：所述步驟三內(nèi)部的溫度通過每分鐘兩度的溫度進(jìn)行調(diào)控，最高溫度為80度，最低溫度為零下10度，且溫度調(diào)節(jié)在兩組對(duì)照檢測組的數(shù)值不同，并且溫度調(diào)節(jié)在一組對(duì)照檢測組內(nèi)部為正常溫度，在另一組內(nèi)部為變化溫度。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太陽能硅片加工用涂膠質(zhì)量分點(diǎn)式檢測工藝，其特征在于：所述步驟三內(nèi)部的濕度調(diào)節(jié)為持續(xù)對(duì)整體內(nèi)部進(jìn)行加濕直到濕度變?yōu)橄鄬?duì)濕度70％時(shí)，且濕度調(diào)節(jié)在兩組對(duì)照檢測組的數(shù)值不同，并且濕度調(diào)節(jié)在一組對(duì)照檢測組內(nèi)部為正常溫度，在另一組內(nèi)部為變化濕度。