[發明專利]基于加熱干燥機構的半導體晶圓的清洗裝置及清洗方法有效
申請號: | 202110365883.6 | 申請日: | 2021-04-06 |
公開(公告)號: | CN112735994B | 公開(公告)日: | 2021-06-04 |
發明(設計)人: | 錢誠;李剛;童建 | 申請(專利權)人: | 亞電科技南京有限公司;江蘇亞電科技有限公司 |
主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;B08B3/02;B08B13/00;F26B3/28 |
代理公司: | 北京商專潤文專利代理事務所(普通合伙) 11317 | 代理人: | 陳平 |
地址: | 210000 江蘇省南京市江寧區雙龍*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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摘要: | |||
搜索關鍵詞: | 基于 加熱 干燥 機構 半導體 清洗 裝置 方法 | ||
1.基于加熱干燥機構的半導體晶圓的清洗裝置,包括底部機構(10)、安裝在所述底部機構(10)頂端的頂部機構(20)以及安裝在所述頂部機構(20)側面的干燥裝置(30),其特征在于:所述底部機構(10)包括底板(110),所述底板(110)頂端兩側均設置有頂槽(111),所述底板(110)頂端安裝有放置件(120),所述放置件(120)包括放置板(121),所述放置板(121)頂端設置有若干卡槽(122),所述卡槽(122)底端設置有底環(123),所述頂部機構(20)至少包括:
支撐板(210),所述支撐板(210)底端設置有若干液壓桿(211),所述支撐板(210)頂端設置有支架(212),所述支架(212)呈十字板狀結構,所述支架(212)頂端設置有滑槽(213),所述支撐板(210)頂端位置設置有一對第一鉸鏈桿(215);
清洗裝置(220),所述清洗裝置(220)包括水箱(221),所述水箱(221)底端安裝有滑塊(222),所述滑塊(222)與所述滑槽(213)滑動連接,所述滑塊(222)底端安裝有水泵(223),所述水泵(223)兩端側面與所述水箱(221)兩端側面均連接有抽水管(224),所述水泵(223)底端安裝有清洗件(225),所述清洗件(225)與所述水泵(223)連通,所述清洗件(225)內部設置有空腔;
滑動裝置(230),所述滑動裝置(230)設置有一對,兩所述滑動裝置(230)分別安裝在所述液壓桿(211)底端,所述滑動裝置(230)包括一對滑板(231),所述滑板(231)與所述頂槽(111)滑動連接,兩所述滑板(231)之間連接有一對連接桿(232);
所述干燥裝置(30)包括一對連接板(310),所述連接板(310)底端與所述頂槽(111)滑動連接,兩所述連接板(310)之間連接有干燥板(320),所述干燥板(320)兩側均設置有燈槽(321),所述燈槽(321)與所述連接板(310)轉動連接,所述干燥板(320)側面設置有若干燈槽(321),所述干燥板(320)側面設置的燈槽(321)內設置有高溫燈管(322),所述干燥板(320)頂端位置設置一對第二鉸鏈桿(323),所述第二鉸鏈桿(323)與所述第一鉸鏈桿(215)鉸鏈連接;
使用時,多個半導體晶圓依次放置在不同卡槽(122)內,緩慢推動滑塊(222),使滑塊(222)帶動清洗件(225)滑動至最左側卡槽(122)正上方,然后,打開水泵(223),通過抽水管(224)將水箱(221)中的水抽出,然后清洗件(225)將水流通過噴頭(2251)向外噴出,對卡槽(122)內的半導體晶圓進行清洗,清洗完成后,繼續滑動清洗件(225)至第二個卡槽(122)正上方,重復上述操作,直至最右側卡槽(122)內的半導體晶圓清洗完成,需要清洗另一面時將所有晶圓進行翻面并重復動作進行清洗;全部清洗完畢后推動支撐板(210),使支撐板(210)滑動至底板(110)另一側,推動連接板(310),此時干燥板(320)失去支撐板(210)依靠,將會轉動至水平,使干燥板(320)位于卡槽(122)正上方,此時打開高溫燈管(322),對清洗完成的半導體晶圓進行干燥工作。
2.根據權利要求1所述的基于加熱干燥機構的半導體晶圓的清洗裝置,其特征在于:所述頂槽(111)末端位置安裝有擋塊(112),所述擋塊(112)側面設置有推桿(113),所述推桿(113)與所述擋塊(112)插接配合,所述推桿(113)另一端與所述滑板(231)側面固定連接。
3.根據權利要求1所述的基于加熱干燥機構的半導體晶圓的清洗裝置,其特征在于:所述底板(110)頂端設置有若干引流孔(114),所述引流孔(114)分布在所述放置板(121)兩側,所述底板(110)側面兩端均設置有側槽(115),所述側槽(115)與所述引流孔(114)底端連通。
4.根據權利要求3所述的基于加熱干燥機構的半導體晶圓的清洗裝置,其特征在于:所述卡槽(122)側面設置有若干邊槽(124),所述底板(110)底端設置有楔形板(130),所述楔形板(130)右側高度大于左側高度。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造