[發明專利]一種激光加工工藝參數遷移方法

有效

• 申請號: 202110356863.2
• 申請日: 2021-04-01
• 公開（公告）號: CN113042892B
• 公開（公告）日: 2023-02-28
• 發明（設計）人: 白天翔;黃冠雄;楊斯豪;黃嗣彬;方澤宏;游德勇;李文彥
• 申請（專利權）人: 廣州德擎光學科技有限公司
• 主分類號: B23K26/21
• 分類號: B23K26/21;B23K31/12
• 代理公司: 廣州藍晟專利代理事務所(普通合伙) 44452
• 代理人: 歐陽凱

本申請實施例公開了一種激光加工工藝參數遷移方法，包括步驟：根據第一激光加工檢測數據和缺陷模型生成第一激光加工檢測基準；根據第二激光加工臨時檢測數據和缺陷模型生成第二激光加工檢測基準；對比第一激光加工檢測基準和第二激光加工檢測基準，獲得數據標定系數；在第二激光加工場景下，根據數據標定系數對后續檢測過程中采集的檢測數據進行調整，獲得第二激光加工檢測數據；在第二激光加工場景下，根據缺陷模型對激光加工過程中獲得的第二激光加工檢測數據進行檢測。本申請實施例通過第一無缺陷激光加工檢測數據和缺陷模型，矯正第二激光加工場景下的激光加工過程，使得第二激光加工過程檢測工藝參數可以迅速建立。

技術領域

本發明涉及激光加工領域，尤其涉及一種激光加工工藝參數遷移方法。

背景技術

在激光加工生產過程中，激光出光的控制參數，光學相關設備的參數、加工件的材質、形狀等工藝參數，都會影響激光加工件的生產效率以及最終產品的質量。為了能夠提高激光加工檢測的精度，提高產品生產質量，工藝人員需要根據不同的生產目標，不斷調整相關參數，使得能夠達到生產目標的最優工藝參數。

在兩條或多條差異性較小的產線進行工藝參數調整時，每條產線都要進行工藝參數調整，而且調整需要耗費較多人力物力和時間成本。如何將一條已經調好的工藝參數快速適應到其他產線上進而進行快速產線工藝參數遷移，是一個亟待解決的問題。因為激光加工工藝參數調整涉及加工激光光源、出光功率、激光加工速度、加工激光離焦量、反射激光光路、電學處理模塊等多個設備，多個參數共同影響激光加工檢測環境。

現有技術中的工藝參數調整方法中，需要工藝人員前期在加工現場耗費較多的時間和成本進行參數調整，在調整優化好相關參數后，才開始本條生產線批量加工，工藝參數調整實施成本較高，調整的效率較低。目前還做不到在同一個工藝環境下(比如同樣的加工件，用同樣加工設備和檢測設備、用同樣的加工檢測質量判斷標準)進行激光工藝參數快速遷移。

發明內容

為克服現有技術的不足，本申請提出一種激光加工工藝參數遷移方法，用于在兩條或多條差異性較小的產線進行工藝參數遷移。

本申請的技術方案是這樣實現的：一種激光加工工藝參數遷移方法，包括步驟：

S1，加載第一激光加工場景對應的第一激光加工檢測數據，根據第一激光加工檢測數據和缺陷模型生成第一激光加工檢測基準，所述第一激光加工檢測數據為第一激光加工無缺陷數據；

S2，加載第二激光加工場景對應的第二激光加工臨時檢測數據，根據第二激光加工臨時檢測數據和缺陷模型生成第二激光加工檢測基準，所述第二激光加工臨時檢測數據為待標定的激光加工無缺陷數據；

S3，對比第一激光加工檢測基準和第二激光加工檢測基準，獲得檢測數據標定系數，所述檢測數據標定系數包括加工激光功率標定系數、紅外光信號標定系數、可見光信號標定系數和激光反射信號標定系數中的一種或多種；

S4，在第二激光加工場景下，根據檢測數據標定系數對后續檢測過程中采集的所有檢測數據進行調整，獲得第二激光加工檢測數據；

S5，在第二激光加工場景下，根據缺陷模型對激光加工過程中獲得的第二激光加工檢測數據進行檢測。

進一步地，所述第一激光加工檢測基準為根據無缺陷的第一激光加工檢測數據以及第一激光加工檢測數據的統計學特征，計算得到的在設定坐標下的第一激光加工檢測無缺陷特征值集合；第二激光加工檢測基準為根據無缺陷的第二激光加工檢測數據以及第二激光加工檢測數據的統計學特征，計算得到的在設定坐標下的第二激光加工檢測無缺陷特征值集合；無缺陷特征值集合作為檢測信號在不同激光加工場景間差異的基礎參考模板，用于計算檢測數據標定系數。

更進一步地，所述統計學特征包括但不限于均值、方差和標準差。