[發明專利]一種激光加工工藝參數遷移方法

有效

• 申請號: 202110356863.2
• 申請日: 2021-04-01
• 公開（公告）號: CN113042892B
• 公開（公告）日: 2023-02-28
• 發明（設計）人: 白天翔;黃冠雄;楊斯豪;黃嗣彬;方澤宏;游德勇;李文彥
• 申請（專利權）人: 廣州德擎光學科技有限公司
• 主分類號: B23K26/21
• 分類號: B23K26/21;B23K31/12
• 代理公司: 廣州藍晟專利代理事務所(普通合伙) 44452
• 代理人: 歐陽凱

1.一種激光加工工藝參數遷移方法，其特征在于，包括步驟：

S1，加載第一激光加工場景對應的第一激光加工檢測數據，根據第一激光加工檢測數據和缺陷模型生成第一激光加工檢測基準，所述第一激光加工檢測數據為第一激光加工無缺陷數據；

S2，加載第二激光加工場景對應的第二激光加工臨時檢測數據，根據第二激光加工臨時檢測數據和缺陷模型生成第二激光加工檢測基準，所述第二激光加工臨時檢測數據為待標定的激光加工無缺陷數據；

S3，對比第一激光加工檢測基準和第二激光加工檢測基準，獲得檢測數據標定系數，所述檢測數據標定系數包括加工激光功率標定系數、紅外光信號標定系數、可見光信號標定系數和激光反射信號標定系數中的一種或多種；

S4，在第二激光加工場景下，根據檢測數據標定系數對后續檢測過程中采集的檢測數據進行調整，獲得第二激光加工檢測數據；

S5，在第二激光加工場景下，根據缺陷模型對激光加工過程中獲得的第二激光加工檢測數據進行檢測。

2.如權利要求1所述的激光加工工藝參數遷移方法，其特征在于，所述第一激光加工檢測基準為根據無缺陷的第一激光加工檢測數據以及第一激光加工檢測數據的統計學特征，計算得到的在設定坐標下的第一激光加工檢測無缺陷特征值集合；第二激光加工檢測基準為根據無缺陷的第二激光加工臨時檢測數據以及第二激光加工臨時檢測數據的統計學特征，計算得到的在設定坐標下的第二激光加工檢測無缺陷特征值集合；無缺陷特征值集合作為檢測信號在不同激光加工場景間差異的基礎參考模板，用于計算檢測數據標定系數。

3.如權利要求2所述的激光加工工藝參數遷移方法，其特征在于，所述統計學特征包括但不限于均值、方差和標準差。

4.如權利要求1所述的激光加工工藝參數遷移方法，其特征在于，所述缺陷模型為激光加工過程缺陷種類和檢測信號參數特征的對應關系；所述激光加工過程缺陷種類包括但不限于：激光焊接虛焊缺陷、激光焊接針孔缺陷、激光焊接爆點缺陷、激光焊接功率異常缺陷和激光焊接焦點異常缺陷；所述檢測信號參數特征為激光加工過程檢測信號在設定坐標系下的特征點，包括但不限于：檢測信號的上極限值、檢測信號的下極限值、檢測信號超出經驗閾值且在設定坐標系中的圍設面積和檢測信號超出經驗閾值時段；所述激光加工過程缺陷種類和檢測信號參數特征對應關系為缺陷種類對應的檢測信號參數特征。

5.如權利要求1所述的激光加工工藝參數遷移方法，其特征在于，步驟S1還包括步驟:

S11：篩選出無缺陷產品的第一激光加工檢測數據，對所述第一激光加工檢測數據進行數據對齊和有效區域數據提??；

S12：對得到的有效區域數據進行統計學特征計算，計算得到的各通道傳感器數據集的統計特征值集合作為第一激光加工檢測基準；

S13：根據所需檢測的激光加工過程缺陷種類，選擇一種或多種檢測信號參數特征進行組合，通過比較無缺陷數據和有缺陷數據，為選定的檢測信號參數特征設置檢測閾值；

S14：將所述檢測信號參數特征及其檢測閾值構成缺陷模型。

6.如權利要求1所述的激光加工工藝參數遷移方法，其特征在于，所述缺陷模型還包括離焦量、激光加工功率、激光加工時長中的一種或多種，在滿足約束條件下，第一激光加工檢測基準和臨時加工檢測基準為線性對應關系，基準之間通過線性變換進行標定。

7.如權利要求1所述的激光加工工藝參數遷移方法，其特征在于，步驟S3中對比第一激光加工檢測基準和第二激光加工檢測基準包括步驟：通過基準特征值之間的線性計算，獲得檢測數據標定系數。

8.如權利要求1所述的激光加工工藝參數遷移方法，其特征在于，步驟S5包括步驟：根據檢測數據標定系數對所有檢測數據進行調整校準，獲得第二激光加工檢測數據，同時使用第一激光加工場景已得到的缺陷模型對第二激光加工檢測數據進行在線檢測。