[發明專利]多通道ADC修調校準系統及方法在審
| 申請號： | 202110353169.5 | 申請日： | 2021-03-31 |
| 公開（公告）號： | CN113098513A | 公開（公告）日： | 2021-07-09 |
| 發明（設計）人： | 李加鵬;李文昌 | 申請（專利權）人： | 中國科學院半導體研究所 |
| 主分類號： | H03M1/10 | 分類號： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人： | 劉歌 |
| 地址： | 100083 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 通道 adc 調校 系統 方法 | ||
1.一種多通道ADC修調校準系統，包括：
ADC，其輸入端分別連接多路選擇器和基準電壓單元，所述ADC的輸出端連接至轉換結果寄存器；
修調熔絲陣列，用于讀取多通道修調校準數據；
移位寄存器，一輸入端與所述修調熔絲陣列相連，輸出端連接至所述基準電壓單元和所述轉換結果寄存器，用于存儲所述多通道修調校準數據；以及
轉換時序控制電路，其輸出端分別連接至所述多路選擇器和所述移位寄存器，用于控制所述多路選擇器的任意一個通道向ADC輸入模擬量進行模數轉換，同時控制所述移位寄存器輸出對應該通道的修調校準數據，分別對基準電壓和轉換結果進行修調校準。
2.根據權利要求1所述的多通道ADC修調校準系統，所述轉換時序控制電路控制ADC各通道的串行轉換時序。
3.根據權利要求1所述的多通道ADC修調校準系統，所述移位寄存器為基準電壓單元提供修調校準數據，多數基準電壓單元為ADC的模數轉換提供基準。
4.根據權利要求1所述的多通道ADC修調校準系統，所述移位寄存器為模數轉換結果提供代碼補償。
5.根據權利要求1所述的多通道ADC修調校準系統，所述移位寄存器存儲各個通道的專屬修調校準數據。
6.一種多通道ADC修調校準方法，基于權利要求1-5任一項所述的多通道ADC修調校準系統進行修調校準，所述多通道ADC修調校準方法，包括：
操作S1：讀取多通道修調校準數據；
操作S2：將所述多通道修調校準數據寫入移位寄存器中；
操作S3：控制一個通道向ADC輸入模擬量進行模數轉換，同時控制所述移位寄存器輸出對應該通道的修調校準數據，分別對基準電壓和轉換結果進行修調校準。
7.根據權利要求6所述的多通道ADC修調校準方法，操作S1時，通過修調熔絲陣列讀取多通道的修調校準數據。
8.根據權利要求6所述的多通道ADC修調校準方法，操作S2時，將所述所述多通道的修調校準數據寫入與所述修調熔絲陣列相連的移位寄存器中，用于為多通道ADC的任意通道進行模數轉換時提供專屬修調校準數據。
9.根據權利要求6所述的多通道ADC修調校準方法，能夠實現對各個通道的轉換單獨修調校準。
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