[發(fā)明專利]多通道ADC修調(diào)校準(zhǔn)系統(tǒng)及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110353169.5 | 申請日: | 2021-03-31 |
| 公開(公告)號: | CN113098513A | 公開(公告)日: | 2021-07-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李加鵬;李文昌 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所 |
| 主分類號: | H03M1/10 | 分類號: | H03M1/10 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 劉歌 |
| 地址: | 100083 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 通道 adc 調(diào)校 系統(tǒng) 方法 | ||
本公開提供一種多通道ADC修調(diào)校準(zhǔn)系統(tǒng),包括:ADC,其輸入端分別連接多路選擇器和基準(zhǔn)電壓單元,所述ADC的輸出端連接至轉(zhuǎn)換結(jié)果寄存器;修調(diào)熔絲陣列,用于讀取多通道修調(diào)校準(zhǔn)數(shù)據(jù);移位寄存器,一輸入端與所述修調(diào)熔絲陣列相連,輸出端連接至所述基準(zhǔn)電壓單元和所述轉(zhuǎn)換結(jié)果寄存器,用于存儲所述多通道修調(diào)校準(zhǔn)數(shù)據(jù);以及轉(zhuǎn)換時序控制電路,其輸出端分別連接至所述多路選擇器和所述移位寄存器,用于控制所述多路選擇器的任意一個通道向ADC輸入模擬量進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換,同時控制所述移位寄存器輸出對應(yīng)該通道的修調(diào)校準(zhǔn)數(shù)據(jù),分別對基準(zhǔn)電壓和轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行修調(diào)校準(zhǔn)。本公開同時還提供一種多通道ADC修調(diào)校準(zhǔn)方法。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種多通道ADC修調(diào)校準(zhǔn)系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)
多通道(例如電壓、電流、溫度、濕度等)ADC(Analog-to-digital converter,模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)在各自通道的模數(shù)轉(zhuǎn)換過程中,不同的模擬輸入量引入的誤差各不相同,送入ADC進(jìn)行轉(zhuǎn)換后的精度也略有不同。為了確保每個通道的轉(zhuǎn)換精度,電路設(shè)計(jì)時會采用修調(diào)校準(zhǔn)的方法。但是不同的轉(zhuǎn)換通道采用同一組修調(diào)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)不能做到每個通道轉(zhuǎn)換的高精度,例如如圖1所示的本地和遠(yuǎn)端雙通道SAR型溫度轉(zhuǎn)換電路,對基準(zhǔn)電壓VREF的修調(diào)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)在本地、遠(yuǎn)端雙通道轉(zhuǎn)換時是同一組校準(zhǔn)數(shù)據(jù),在代碼輸出端(DOUT)設(shè)計(jì)了本地溫度值和遠(yuǎn)端溫度值的平移量的單獨(dú)調(diào)整。上述方案僅在輸出溫度代碼進(jìn)行單獨(dú)補(bǔ)償,沒有對VREF電壓進(jìn)行單獨(dú)校準(zhǔn),導(dǎo)致本地和遠(yuǎn)端的溫度曲線的線性度不能兼顧,當(dāng)修改VREF的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)只能保證一個通道的線性度,另外一個通道的線性度較差。
因此,如何實(shí)現(xiàn)精度更高的多通道ADC修調(diào)校準(zhǔn)是一個亟需解決的技術(shù)課題。
發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問題
基于上述問題,本公開提供了一種多通道ADC修調(diào)校準(zhǔn)系統(tǒng)及方法,以緩解現(xiàn)有技術(shù)中不能保證多通道ADC校準(zhǔn)時每個通道轉(zhuǎn)換的高精度等技術(shù)問題。
(二)技術(shù)方案
本公開的一個方面,提供一種多通道ADC修調(diào)校準(zhǔn)系統(tǒng),包括:
ADC,其輸入端分別連接多路選擇器和基準(zhǔn)電壓單元,所述ADC的輸出端連接至轉(zhuǎn)換結(jié)果寄存器;
修調(diào)熔絲陣列,用于讀取多通道修調(diào)校準(zhǔn)數(shù)據(jù);
移位寄存器,一輸入端與所述修調(diào)熔絲陣列相連,輸出端連接至所述基準(zhǔn)電壓單元和所述轉(zhuǎn)換結(jié)果寄存器,用于存儲所述多通道修調(diào)校準(zhǔn)數(shù)據(jù);以及
轉(zhuǎn)換時序控制電路,其輸出端分別連接至所述多路選擇器和所述移位寄存器,用于控制所述多路選擇器的任意一個通道向ADC輸入模擬量進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換,同時控制所述移位寄存器輸出對應(yīng)該通道的修調(diào)校準(zhǔn)數(shù)據(jù),分別對基準(zhǔn)電壓和轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行修調(diào)校準(zhǔn)。
在本公開實(shí)施例中,所述轉(zhuǎn)換時序控制電路控制ADC各通道的串行轉(zhuǎn)換時序。
在本公開實(shí)施例中,所述移位寄存器為基準(zhǔn)電壓單元提供修調(diào)校準(zhǔn)數(shù)據(jù),多數(shù)基準(zhǔn)電壓單元為ADC的模數(shù)轉(zhuǎn)換提供基準(zhǔn)。
在本公開實(shí)施例中,所述移位寄存器為模數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)果提供代碼補(bǔ)償。
在本公開實(shí)施例中,所述移位寄存器存儲各個通道的專屬修調(diào)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。
本公開的另一方面,提供一種多通道ADC修調(diào)校準(zhǔn)方法,基于以上任一項(xiàng)所述的多通道ADC修調(diào)校準(zhǔn)系統(tǒng)進(jìn)行多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換修調(diào)校準(zhǔn),所述多通道ADC修調(diào)校準(zhǔn)方法,包括:
操作S1:讀取多通道修調(diào)校準(zhǔn)數(shù)據(jù);
操作S2:將所述多通道修調(diào)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)寫入移位寄存器中;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所,未經(jīng)中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110353169.5/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





