[發明專利]結果分析方法和裝置、電子設備及存儲介質有效
| 申請號: | 202110349064.2 | 申請日: | 2021-03-31 |
| 公開(公告)號: | CN113064824B | 公開(公告)日: | 2022-12-02 |
| 發明(設計)人: | 任翔 | 申請(專利權)人: | 重慶紫光華山智安科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 張萌 |
| 地址: | 400700 重慶市*** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 結果 分析 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種結果分析方法,其特征在于,所述結果分析方法包括:
獲取待處理的測試結果,其中,所述測試結果包括失敗用例,所述失敗用例包括失敗函數;
根據所述失敗函數對所述失敗用例進行分類比較處理,得到所述失敗用例的缺陷類型;
根據所述缺陷類型對所述失敗用例進行歸類處理,以對歸類處理后的失敗用例的失敗原因進行定位;
所述根據所述失敗函數對所述失敗用例進行分類比較處理,得到所述失敗用例的缺陷類型的步驟,包括:
根據所述失敗函數對所述測試結果進行篩選處理,得到包括所述失敗函數的相關測試腳本;
根據所述失敗函數對所述失敗用例進行篩選處理,得到包括所述失敗函數的失敗用例腳本;
對所述相關測試腳本和失敗用例腳本進行比較處理,得到所述失敗用例的缺陷類型。
2.如權利要求1所述的結果分析方法,其特征在于,所述相關測試腳本包括第一數量的腳本,所述失敗用例腳本包括第二數量的腳本,所述對所述相關測試腳本和失敗用例腳本進行比較處理,得到所述失敗用例的缺陷類型的步驟,包括:
判斷所述第一數量與所述第二數量是否相同;
若所述第一數量與所述第二數量相同,則判斷所述第二數量是否小于第一預設數量;
若所述第二數量小于第一預設數量,則將所述失敗用例的缺陷類型確定為必現次數不夠的存在類型。
3.如權利要求2所述的結果分析方法,其特征在于,所述結果分析方法還包括:
在所述第二數量不小于第一預設數量時,將所述失敗用例的缺陷類型確定為必然存在類型。
4.如權利要求2所述的結果分析方法,其特征在于,所述結果分析方法還包括:
在所述第二數量小于所述第一數量時,根據所述失敗函數的前置函數對所述相關測試腳本和失敗用例腳本進行分類處理,得到所述失敗用例的缺陷類型。
5.如權利要求4所述的結果分析方法,其特征在于,所述根據所述失敗函數的前置函數對所述相關測試腳本和失敗用例腳本進行分類處理,得到所述失敗用例的缺陷類型的步驟,包括:
判斷所述失敗函數的前置函數是否存在;
若是,則對所述相關測試腳本進行篩選處理,得到包括所述失敗函數和前置函數的篩選相關測試腳本;
對所述失敗用例腳本進行篩選處理,得到包括所述失敗函數和前置函數的篩選失敗用例腳本;
對所述篩選相關測試腳本和篩選失敗用例腳本進行比較處理,得到所述失敗用例的缺陷類型。
6.如權利要求5所述的結果分析方法,其特征在于,所述篩選相關測試腳本包括第三數量的腳本,所述篩選失敗用例腳本包括第四數量的腳本,所述對所述篩選相關測試腳本和篩選失敗用例腳本進行比較處理,得到所述失敗用例的缺陷類型的步驟,包括:
判斷所述第三數量與所述第四數量是否相同;
若所述第三數量與所述第四數量相同,則判斷所述第四數量是否小于第二預設數量;
若所述第四數量小于第二預設數量,則將所述失敗用例的缺陷類型確定為必現次數不夠的存在類型。
7.如權利要求1所述的結果分析方法,其特征在于,所述缺陷類型包括必現次數不夠的存在類型、必然存在類型和概率存在類型,所述結果分析方法還包括:
根據所述缺陷類型獲取所述失敗用例對應的執行策略,以根據所述執行策略對所述失敗用例進行驗證處理;
其中,所述必現次數不夠的存在類型的執行策略為多次執行所述失敗用例確認是否為必然存在類型;所述必然存在類型的執行策略為跳過執行必然存在類型的失敗用例;所述概率存在類型的執行策略為多次執行所述失敗用例計算得到缺陷率。
8.如權利要求1所述的結果分析方法,其特征在于,所述結果分析方法還包括:
根據所述失敗函數對所述失敗用例進行關聯處理,得到關聯數據庫表。
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