[發明專利]結果分析方法和裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202110349064.2
• 申請日: 2021-03-31
• 公開（公告）號: CN113064824B
• 公開（公告）日: 2022-12-02
• 發明（設計）人: 任翔
• 申請（專利權）人: 重慶紫光華山智安科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 張萌

本申請實施例提供的結果分析方法和裝置、電子設備及存儲介質，涉及結果分析技術領域。結果分析方法包括：首先，獲取待處理的測試結果，其中，測試結果包括失敗用例，失敗用例包括失敗函數；其次，根據失敗函數對失敗用例進行分類比較處理，得到失敗用例的缺陷類型；然后，根據缺陷類型對失敗用例進行歸類處理，以對歸類處理后的失敗用例的失敗原因進行定位。通過上述設置，可以實現將失敗用例按照缺陷類型進行歸類，以對歸類處理后的失敗用例的失敗原因進行定位，避免了現有技術中相關測試人員需要重復定位失敗用例的失敗原因，造成人力浪費，所導致的結果分析的效率低的問題。

技術領域

本申請涉及結果分析技術領域，具體而言，涉及一種結果分析方法和裝置、電子設備及存儲介質。

背景技術

傳統的自動化測試平臺，進行自動化測試之后，運行結果會顯示哪些測試用例成功，哪些測試用例失敗，失敗的用例返回相關錯誤信息并且記錄相關日志信息。經發明人研究發現，在現有技術中，這種方法會造成多個失敗原因一致的用例，相關測試人員需要重復定位失敗用例的失敗原因，造成人力浪費，從而存在著結果分析的效率低的問題。

發明內容

有鑒于此，本申請的目的在于提供一種結果分析方法和裝置、電子設備及存儲介質，以改善現有技術中存在的問題。

為實現上述目的，本申請實施例采用如下技術方案：

第一方面，本申請提供一種結果分析方法，所述結果分析方法包括：

獲取待處理的測試結果，其中，所述測試結果包括失敗用例，所述失敗用例包括失敗函數；

根據所述失敗函數對所述失敗用例進行分類比較處理，得到所述失敗用例的缺陷類型；

根據所述缺陷類型對所述失敗用例進行歸類處理，以對歸類處理后的失敗用例的失敗原因進行定位。

在可選的實施方式中，所述根據所述失敗函數對所述失敗用例進行分類比較處理，得到所述失敗用例的缺陷類型的步驟，包括：

根據所述失敗函數對所述測試結果進行篩選處理，得到包括所述失敗函數的相關測試腳本；

根據所述失敗函數對所述失敗用例進行篩選處理，得到包括所述失敗函數的失敗用例腳本；

對所述相關測試腳本和失敗用例腳本進行比較處理，得到所述失敗用例的缺陷類型。

在可選的實施方式中，所述相關測試腳本包括第一數量的腳本，所述失敗用例腳本包括第二數量的腳本，所述對所述相關測試腳本和失敗用例腳本進行比較處理，得到所述失敗用例的缺陷類型的步驟，包括：

判斷所述第一數量與所述第二數量是否相同；

若所述第一數量與所述第二數量相同，則判斷所述第二數量是否小于第一預設數量；

若所述第二數量小于第一預設數量，則將所述失敗用例的缺陷類型確定為必現次數不夠的存在類型。

在可選的實施方式中，所述結果分析方法還包括：

在所述第二數量不小于第一預設數量時，將所述失敗用例的缺陷類型確定為必然存在類型。

在可選的實施方式中，所述結果分析方法還包括：

在所述第二數量小于所述第一數量時，根據所述失敗函數的前置函數對所述相關測試腳本和失敗用例腳本進行分類處理，得到所述失敗用例的缺陷類型。

在可選的實施方式中，所述根據所述失敗函數的前置函數對所述相關測試腳本和失敗用例腳本進行分類處理，得到所述失敗用例的缺陷類型的步驟，包括：

判斷所述失敗函數的前置函數是否存在；