[發明專利]芯片測試中載入trim值的方法在審
| 申請號： | 202110346107.1 | 申請日： | 2021-03-31 |
| 公開（公告）號： | CN113113072A | 公開（公告）日： | 2021-07-13 |
| 發明（設計）人： | 傅俊亮 | 申請（專利權）人： | 上海華虹宏力半導體制造有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/00 | 分類號： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 上海浦一知識產權代理有限公司 31211 | 代理人： | 焦健 |
| 地址： | 201203 上海市浦東*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 芯片 測試 載入 trim 方法 | ||
1.一種芯片測試中載入trim值的方法，針對存儲器的存儲單元，進行trimming bit值的寫入，其特征在于：
在進行trimming bit值的寫入時，同時將一個trimming bit值寫入到2個或者更多的存儲單元中。
2.如權利要求1所述的芯片測試中載入trim值的方法，其特征在于：通過2個或更多個存儲器單元中寫入相同的trimming bit值，在載入trimming bit值后進行讀取的時候，同時選中全部的寫入所述的相同的trimming bit值的2個或更多個存儲單元，由SA來判定所選中的全部的2個或更多的存儲單元中存儲的trimming bit值為“1”或者是為“0”，由于有更多的存儲單元提供數據進行對比，提高了數據讀取的窗口。
3.如權利要求1所述的芯片測試中載入trim值的方法，其特征在于：所述的2個或者更多的存儲單元，是位于存儲器存儲單元陣列中的同一列上相鄰的2個或者連續的多個存儲單元。
4.如權利要求1所述的芯片測試中載入trim值的方法，其特征在于：所述的SA為存儲器中進行數據讀出的感測放大器。
5.如權利要求1所述的芯片測試中載入trim值的方法，其特征在于：所述的存儲單元中進行trimming bit值的寫入時，還包括寫入trimming bit值的反值，即原trimming bit值為“1”的情況下，同時寫入其反值“0”；在讀出數據時可進行讀出后的相互比較驗證。
6.如權利要求1所述的芯片測試中載入trim值的方法，其特征在于：所述的trimmingbit值，是通過特別字線SWL寫入到存儲單元中；即所述的trimming bit值通過選擇管存儲于SONOS存儲管中。
7.如權利要求5所述的芯片測試中載入trim值的方法，其特征在于：在讀出存儲單元中trimming bit值時，采用低于存儲器正常讀寫的時序，即更慢的時序來讀出存儲單元中存儲的trimming bit值，包括同時讀出原值和其反值，以進行相互的校驗。
8.如權利要求7所述的芯片測試中載入trim值的方法，其特征在于：所述采用低于存儲器正常讀寫的時序，是在存儲器芯片上電后，BIST內部寄存器設置為默認值，ITIM的默認dac值全部設置為最低值“0”，此時的讀時序最慢。
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