[發明專利]流體飽和參數的確定方法、裝置和計算機設備有效
| 申請號: | 202110345901.4 | 申請日: | 2021-03-31 |
| 公開(公告)號: | CN113175321B | 公開(公告)日: | 2023-06-30 |
| 發明(設計)人: | 謝偉彪;殷秋麗;司兆偉 | 申請(專利權)人: | 中國石油天然氣股份有限公司 |
| 主分類號: | E21B49/00 | 分類號: | E21B49/00;G01N24/08;G01V3/32;G01V3/14 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138 | 代理人: | 侯曉雅 |
| 地址: | 100007 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 流體 飽和 參數 確定 方法 裝置 計算機 設備 | ||
1.一種流體飽和參數的確定方法,其特征在于,所述方法包括:
確定待研究地區的目標儲層;
對于所述目標儲層的每個深度,基于所述待研究地區的標準井的目標井段的一維核磁共振測井資料,確定所述目標儲層在所述深度的第一圖譜,所述一維核磁共振測井資料為通過所述目標井段的一維核磁共振測井工程得到的,所述目標井段為與所述目標儲層深度對應的標準井的井段,所述第一圖譜為孔隙參數與時間之間的關系曲線;
獲取所述目標儲層的多個巖樣的核磁共振實驗數據,所述核磁共振實驗數據為通過所述多個巖樣的核磁共振實驗得到的;
對于每個巖樣,基于所述巖樣的核磁共振實驗數據,確定所述巖樣的第二圖譜,所述第二圖譜為孔隙參數與時間之間的關系曲線;
基于所述多個巖樣的第二圖譜,確定所述目標儲層在所述深度的第一參數矩陣;
基于所述第一圖譜和所述第一參數矩陣,確定目標孔隙的流體飽和參數,所述目標孔隙為所述目標儲層在所述深度的孔隙。
2.根據權利要求1所述的流體飽和參數的確定方法,其特征在于,所述巖樣的核磁共振實驗數據包括所述巖樣在不同的回波間隔時間的飽和參數水核磁共振實驗數據、離心核磁共振實驗數據和飽和參數油核磁共振實驗數據;
所述基于所述巖樣的核磁共振實驗數據,確定所述巖樣的第二圖譜,包括:
基于所述巖樣分別在第一回波間隔時間和第二回波間隔時間下的飽和參數水核磁共振實驗數據,確定所述巖樣的第一飽和參數水圖譜和第二飽和參數水圖譜;
基于所述巖樣分別在所述第一回波間隔時間和所述第二回波間隔時間下的離心核磁共振實驗數據,確定所述巖樣的第一離心圖譜和第二離心圖譜;
基于所述巖樣分別在所述第一回波間隔時間和所述第二回波間隔時間下的飽和參數油核磁共振實驗數據,確定所述巖樣的第一飽和參數油圖譜和第二飽和參數油圖譜;
將所述第一飽和參數水圖譜、所述第二飽和參數水圖譜、所述第一離心圖譜、所述第二離心圖譜、所述第一飽和參數油圖譜和所述第二飽和參數油圖譜組成所述第二圖譜。
3.根據權利要求2所述的流體飽和參數的確定方法,其特征在于,所述基于所述多個巖樣的第二圖譜,確定所述目標儲層在所述深度的第一參數矩陣,包括:
對于每個巖樣,確定所述巖樣的第一時間點和第二時間點,所述第一時間點為所述巖樣的第一離心圖譜的最大峰值對應的時間點,所述第二時間點為所述巖樣的第二離心圖譜的最大峰值對應的時間點;
分別基于所述多個巖樣的第一時間點的平均值和第二時間點的平均值,確定第一束縛水參數和第二束縛水參數;
基于所述多個巖樣的第一飽和參數水圖譜和第一離心圖譜,確定第一可動水參數;
基于所述多個巖樣的第二飽和參數水圖譜和第二離心圖譜,確定第二可動水參數;
分別基于所述多個巖樣的第一飽和參數油圖譜和第二飽和參數油圖譜,確定第一油參數和第二油參數;
生成包含所述第一束縛水參數、所述第二束縛水參數、所述第一可動水參數、所述第二可動水參數、所述第一油參數和所述第二油參數的所述第一參數矩陣。
4.根據權利要求3所述的流體飽和參數的確定方法,其特征在于,所述基于所述多個巖樣的第一飽和參數水圖譜和所述第一離心圖譜,確定第一可動水參數,包括:
對于每個巖樣,基于所述巖樣的第一飽和參數水圖譜和第一離心圖譜,確定所述巖樣的第一差值圖譜,所述第一差值圖譜為所述第一飽和參數水圖譜和所述第一離心圖譜中相同時間的第一飽和水參數和第二離心參數之間的差值組成的圖譜;
確定所述第一差值圖譜的最大峰值對應的第三時間點;
基于所述多個巖樣的第三時間點的平均值,確定所述第一可動水參數。
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