[發明專利]納秒刀校準方法及裝置

在審

• 申請號: 202110343557.5
• 申請日: 2021-03-30
• 公開（公告）號: CN115137470A
• 公開（公告）日: 2022-10-04
• 發明（設計）人: 巫彤寧;楊蕾;姜昊宇
• 申請（專利權）人: 中國信息通信研究院
• 主分類號: A61B18/12
• 分類號: A61B18/12
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 侯天印;郝博

1.一種納秒刀校準方法，其特征在于，包括：

利用電場探頭獲取目標容器內介質的電場數據；所述電場數據由所述納秒刀發送至所述目標容器內；

根據所述電場數據生成所述納秒刀的電場校準參數；

根據所述電場校準參數和預設校準范圍確定納秒刀校準結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，利用電場探頭獲取目標容器內介質的電場數據，包括：

利用電場探頭分批次獲取目標容器內介質的電場數據；每批次的電場探頭在所述目標容器中的位置不同。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述電場校準參數包括電場強度參數、電場波形參數和電場比例參數；

根據所述電場校準參數和預設校準范圍確定納秒刀校準結果，包括：

若所述電場強度參數、電場波形參數或電場比例參數不滿足所述預設校準范圍，則確定校準結果為所述納秒刀未通過校準；

若所述電場強度參數、電場波形參數和電場比例參數滿足所述預設校準范圍，則確定校準結果為所述納秒刀通過校準。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，根據所述電場數據生成所述納秒刀的電場校準參數，包括：

計算各批次電場強度參數滿足預設場強范圍的電場探頭的第一個數；

根據所述第一個數和各批次電場探頭的總個數確定電場比例參數。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述目標容器表面設有第一固定裝置和第二固定裝置；

所述第一固定裝置用于固定所述納秒刀；

所述第二固定裝置用于固定所述電場探頭。

6.一種納秒刀校準裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于利用電場探頭獲取目標容器內介質的電場數據；所述電場數據由所述納秒刀發送至所述目標容器內；

參數模塊，用于根據所述電場數據生成所述納秒刀的電場校準參數；

校準模塊，用于根據所述電場校準參數和預設校準范圍確定納秒刀校準結果。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述電場校準參數包括電場強度參數、電場波形參數和電場比例參數；所述校準模塊，具體用于：

若所述電場強度參數、電場波形參數或電場比例參數不滿足所述預設校準范圍，則確定校準結果為所述納秒刀未通過校準；

若所述電場強度參數、電場波形參數和電場比例參數滿足所述預設校準范圍，則確定校準結果為所述納秒刀通過校準。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述參數模塊，具體用于：

計算各批次電場強度參數滿足預設場強范圍的電場探頭的第一個數；

根據所述第一個數和各批次電場探頭的總個數確定電場比例參數。

9.一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求1至5任一所述納秒刀校準方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有執行權利要求1至5任一所述納秒刀校準方法的計算機程序。