[發明專利]一種電子設備及輸入設備

在審

• 申請號: 202110341973.1
• 申請日: 2021-03-30
• 公開（公告）號: CN113050811A
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 蘇躍峰;唐寶軍;李正芳
• 申請（專利權）人: 聯想（北京）有限公司
• 主分類號: G06F3/0354
• 分類號: G06F3/0354;G06F3/038;G06F3/042
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王嬌嬌

本申請公開了一種電子設備及輸入設備，電子設備包括：顯示組件；檢測組件，與所述顯示組件對應設置，所述檢測組件用于獲得對應于所述顯示組件的目標電流，所述目標電流為所述檢測組件在被輸入設備輸出的滿足第一條件的目標光線照射后產生的；控制組件，用于依據所述目標電流，獲得所述目標光線照射在所述檢測組件上的目標位置。

技術領域

本申請涉及輸入輸出技術領域，尤其涉及一種電子設備及輸入設備。

背景技術

隨著技術的發展，電子筆等輸入設備的應用越來越廣泛。例如，使用電子筆在數位屏或者數位板上進行輸入，由此在數位屏或數位板對應的顯示屏上輸出相應的繪畫。

目前電子筆的實現中，有電容式或者電磁式等多種不同的實現結構，而針對不同實現結構的電子筆需要配套使用相應結構的顯示屏。以電容式電子筆為例，需要顯示屏上裝配觸控裝置，才能在顯示屏上實現輸入。

可見，目前的電子筆必須配套特殊的顯示屏才能實現輸入。

發明內容

有鑒于此，本申請提供一種電子設備及輸入設備，如下：

一種電子設備，包括：

顯示組件；

檢測組件，與所述顯示組件對應設置，所述檢測組件用于獲得對應于所述顯示組件的目標電流，所述目標電流為所述檢測組件在被輸入設備輸出的滿足第一條件的目標光線照射后產生的；

控制組件，用于依據所述目標電流，獲得所述目標光線照射在所述檢測組件上的目標位置。

上述電子設備，優選的，所述顯示組件包括顯示元件陣列，所述檢測組件至少包括第一電流檢測元件陣列；

其中，所述第一電流檢測元件用于獲得對應于所述顯示元件陣列的第一目標電流集合，所述第一目標電流集合中的目標電流為所述第一電流檢測元件被所述目標光線照射后產生的；

所述控制組件用于根據所述第一目標電流集合，獲得所述目標光線照射在所述檢測組件上的目標位置。

上述電子設備，優選的，所述控制組件具體用于：判斷所述第一目標電流集合中的目標電流是否大于或等于電流閾值，以獲得所述目標光線照射在所述第一電流檢測元件陣列上的目標位置，所述目標位置對應的第一電流檢測元件所獲得到的目標電流大于或等于所述電流閾值。

上述電子設備，優選的，所述顯示組件包括顯示元件陣列，所述檢測組件至少包括第一電流檢測元件陣列和第二電流檢測元件陣列，所述第二電流檢測元件的陣列密度小于所述第一電流檢測元件的陣列密度；

其中，所述第一電流檢測元件用于獲得對應于所述顯示元件陣列的第一目標電流集合，所述第一目標電流集合中的目標電流為所述第一電流檢測元件被所述目標光線照射后產生的；所述第二電流檢測元件用于獲得對應于所述顯示元件陣列的第二目標電流集合，所述第二目標電流集合中的目標電流為所述第二電流檢測元件被所述目標光線照射后產生的；

所述控制組件用于根據所述第一目標電流集合和所述第二目標電流集合，獲得所述目標光線照射在所述檢測組件上的目標位置。

上述電子設備，優選的，所述控制組件具體用于：

判斷所述第二目標電流集合中的目標電流是否大于或等于電流閾值，以獲得所述目標光線照射在所述第二電流檢測元件上的目標位置，所述目標位置對應的第二電流檢測元件所獲得到的目標電流大于或等于所述電流閾值；

其中，在所述第二電流檢測元件的陣列密度小于密度閾值的情況下，所述控制組件還用于：獲得所述第一電流檢測元件陣列中與所述目標位置對應的目標電流檢測元件，根據所述第一目標電流集合中所述目標電流檢測元件對應的目標電流，獲得所述目標光線照射在所述目標電流檢測元件上的目標位置。