[發明專利]一種電子設備及輸入設備

在審

• 申請號: 202110341973.1
• 申請日: 2021-03-30
• 公開（公告）號: CN113050811A
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 蘇躍峰;唐寶軍;李正芳
• 申請（專利權）人: 聯想（北京）有限公司
• 主分類號: G06F3/0354
• 分類號: G06F3/0354;G06F3/038;G06F3/042
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王嬌嬌

1.一種電子設備，包括：

顯示組件；

檢測組件，與所述顯示組件對應設置，所述檢測組件用于獲得對應于所述顯示組件的目標電流，所述目標電流為所述檢測組件在被輸入設備輸出的滿足第一條件的目標光線照射后產生的；

控制組件，用于依據所述目標電流，獲得所述目標光線照射在所述檢測組件上的目標位置。

2.根據權利要求1所述電子設備，所述顯示組件包括顯示元件陣列，所述檢測組件至少包括第一電流檢測元件陣列；

其中，所述第一電流檢測元件用于獲得對應于所述顯示元件陣列的第一目標電流集合，所述第一目標電流集合中的目標電流為所述第一電流檢測元件被所述目標光線照射后產生的；

所述控制組件用于根據所述第一目標電流集合，獲得所述目標光線照射在所述檢測組件上的目標位置。

3.根據權利要求2所述的電子設備，所述控制組件具體用于：判斷所述第一目標電流集合中的目標電流是否大于或等于電流閾值，以獲得所述目標光線照射在所述第一電流檢測元件陣列上的目標位置，所述目標位置對應的第一電流檢測元件所獲得到的目標電流大于或等于所述電流閾值。

4.根據權利要求1所述的電子設備，所述顯示組件包括顯示元件陣列，所述檢測組件至少包括第一電流檢測元件陣列和第二電流檢測元件陣列，所述第二電流檢測元件的陣列密度小于所述第一電流檢測元件的陣列密度；

其中，所述第一電流檢測元件用于獲得對應于所述顯示元件陣列的第一目標電流集合，所述第一目標電流集合中的目標電流為所述第一電流檢測元件被所述目標光線照射后產生的；所述第二電流檢測元件用于獲得對應于所述顯示元件陣列的第二目標電流集合，所述第二目標電流集合中的目標電流為所述第二電流檢測元件被所述目標光線照射后產生的；

所述控制組件用于根據所述第一目標電流集合和所述第二目標電流集合，獲得所述目標光線照射在所述檢測組件上的目標位置。

5.根據權利要求4所述的電子設備，所述控制組件具體用于：

判斷所述第二目標電流集合中的目標電流是否大于或等于電流閾值，以獲得所述目標光線照射在所述第二電流檢測元件上的目標位置，所述目標位置對應的第二電流檢測元件所獲得到的目標電流大于或等于所述電流閾值；

其中，在所述第二電流檢測元件的陣列密度小于密度閾值的情況下，所述控制組件還用于：獲得所述第一電流檢測元件陣列中與所述目標位置對應的目標電流檢測元件，根據所述第一目標電流集合中所述目標電流檢測元件對應的目標電流，獲得所述目標光線照射在所述目標電流檢測元件上的目標位置。

6.根據權利要求2或4所述的電子設備，所述電流檢測元件為薄膜晶體管，所述薄膜晶體管被所述目標光線照射后產生所述目標電流。

7.根據權利要求2或4所述的電子設備，所述電流檢測元件還用于控制對應的顯示元件的顏色顯示。

8.根據權利要求2所述的電子設備，所述電流檢測元件陣列中的電流檢測元件通過信號線連接到所述控制組件；其中：

所述信號線用于所述電流檢測元件陣列向所述控制組件傳輸所述目標電流集合，所述信號線還用于所述電流檢測元件陣列控制對應顯示元件的顏色顯示。

9.一種輸入設備，包括：

本體；

光線輸出組件，設置在所述本體內，且所述光線輸出組件通過所述本體上的開口將滿足第一條件的目標光線照射到電子設備，其中，所述電子設備包括：

顯示組件；

檢測組件，與所述顯示組件對應設置，所述檢測組件用于獲得對應于所述顯示組件的目標電流，所述目標電流為所述檢測組件在被輸入設備輸出的滿足第一條件的目標光線照射后產生的；

控制組件，用于依據所述目標電流，獲得所述目標光線照射在所述檢測組件上的目標位置。

10.根據權利要求9所述的輸入設備，所述光線輸出組件輸出的目標光線為波長處于預設波長范圍的電磁波。