[發(fā)明專利]一種故障檢測方法、裝置和存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110339376.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113155422B | 公開(公告)日: | 2022-07-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張春良;翁潤庭;王明;朱厚耀;丘斯遠(yuǎn);岳夏;李植鑫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣州大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01M13/00 | 分類號(hào): | G01M13/00;G01M13/045;G01H17/00;G06K9/62;G06N3/02 |
| 代理公司: | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人: | 黎揚(yáng)鵬 |
| 地址: | 510006 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 故障 檢測 方法 裝置 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種故障檢測方法,其特征在于,包括:
獲取第一振動(dòng)信號(hào);
根據(jù)所述第一振動(dòng)信號(hào)以及預(yù)設(shè)門限,確定本征模態(tài)函數(shù)分量集合;
根據(jù)所述本征模態(tài)函數(shù)分量集合,確定特征向量;所述特征向量表征所述本征模態(tài)函數(shù)分量集合的總能量;
根據(jù)所述特征向量與分類決策函數(shù),確定故障檢測結(jié)果;
所述第一振動(dòng)信號(hào)包括多個(gè)極大值點(diǎn)以及多個(gè)極小值點(diǎn),所述根據(jù)所述第一振動(dòng)信號(hào)以及預(yù)設(shè)門限,確定本征模態(tài)函數(shù)分量集合,包括:
從多個(gè)所述極大值點(diǎn)中選取第一預(yù)設(shè)數(shù)量個(gè)所述極大值點(diǎn),并根據(jù)選取的所述極大值點(diǎn)計(jì)算得到邊緣極大值,將所述邊緣極大值作為所述第一振動(dòng)信號(hào)最左端的極大值點(diǎn);所述邊緣極大值與選取的所述極大值點(diǎn)之間的幅值之和最小;
從多個(gè)所述極小值點(diǎn)中選取第二預(yù)設(shè)數(shù)量個(gè)所述極小值點(diǎn),并根據(jù)選取的所述極小值點(diǎn)計(jì)算得到邊緣極小值,將所述邊緣極小值作為所述第一振動(dòng)信號(hào)最右端的極小值點(diǎn);所述邊緣極小值與選取的所述極小值點(diǎn)之間的幅值之和最小;
將所述邊緣極大值和所述邊緣極小值之間的所有所述極大值點(diǎn)與所述邊緣極大值通過預(yù)設(shè)第一樣條線連接,得到上包絡(luò)線,將所述邊緣極大值和所述邊緣極小值之間的所有所述極小值點(diǎn)與所述邊緣極小值通過預(yù)設(shè)第二樣條線連接,得到下包絡(luò)線;
根據(jù)所述上包絡(luò)線和所述下包絡(luò)線計(jì)算得到平均值;
根據(jù)所述第一振動(dòng)信號(hào)與所述平均值的第一差值以及所述預(yù)設(shè)門限,確定所述本征模態(tài)函數(shù)分量集合。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述故障檢測方法,其特征在于:所述根據(jù)所述第一振動(dòng)信號(hào)與所述平均值的第一差值以及所述預(yù)設(shè)門限,確定所述本征模態(tài)函數(shù)分量集合,包括:
當(dāng)所述第一差值小于等于所述預(yù)設(shè)門限,將所述第一差值作為第一分量;
計(jì)算所述第一振動(dòng)信號(hào)與所述第一分量的第二差值作為第一本征模態(tài)函數(shù)分量,并將所述第一本征模態(tài)函數(shù)分量作為新的第一振動(dòng)信號(hào)重新計(jì)算平均值;
根據(jù)新的第一振動(dòng)信號(hào)與重新計(jì)算的平均值以及所述預(yù)設(shè)門限確定第二本征模態(tài)函數(shù)分量;所述本征模態(tài)函數(shù)分量集合至少包括第一本征模態(tài)函數(shù)分量和第二本征模態(tài)函數(shù)分量。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述故障檢測方法,其特征在于:所述根據(jù)所述第一振動(dòng)信號(hào)與所述平均值的第一差值以及所述預(yù)設(shè)門限,確定所述本征模態(tài)函數(shù)分量集合,包括:
當(dāng)所述第一差值大于所述預(yù)設(shè)門限,將所述第一差值作為第二振動(dòng)信號(hào);
計(jì)算所述第二振動(dòng)信號(hào)的第二平均值,并計(jì)算所述第二振動(dòng)信號(hào)與所述第二平均值的第三差值;
計(jì)算所述第一差值與所述第三差值的第四差值,根據(jù)所述第四差值與所述第一差值確定分量參數(shù),當(dāng)所述分量參數(shù)小于等于所述預(yù)設(shè)門限,將所述第三差值作為第二分量,計(jì)算所述第二振動(dòng)信號(hào)與所述第二分量的第五差值作為第三本征模態(tài)函數(shù)分量,當(dāng)所述分量參數(shù)大于所述預(yù)設(shè)門限,將所述第三差值作為新的第二振動(dòng)信號(hào),返回計(jì)算所述第二振動(dòng)信號(hào)的第二平均值的步驟,直至所述分量參數(shù)小于等于所述預(yù)設(shè)門限,得到第三本征模態(tài)函數(shù)分量;所述本征模態(tài)函數(shù)分量集合至少包括第三本征模態(tài)函數(shù)分量。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述故障檢測方法,其特征在于:所述本征模態(tài)函數(shù)分量集合包括多個(gè)本征模態(tài)函數(shù)分量,所述根據(jù)所述本征模態(tài)函數(shù)分量集合,確定特征向量,包括:
對(duì)各個(gè)所述本征模態(tài)函數(shù)分量進(jìn)行積分處理,得到各個(gè)所述本征模態(tài)函數(shù)分量對(duì)應(yīng)的能量;
對(duì)各個(gè)所述能量進(jìn)行歸一化處理,得到特征向量。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于廣州大學(xué),未經(jīng)廣州大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110339376.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 故障檢測裝置、故障檢測方法以及故障檢測程序
- 故障預(yù)測裝置、故障預(yù)測方法及故障預(yù)測程序
- 故障分析裝置、故障分析系統(tǒng)及故障分析方法
- 故障檢測方法、故障檢測裝置和故障檢測系統(tǒng)
- 故障檢測裝置、故障檢測方法及計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)
- 故障檢測裝置、故障檢測方法和計(jì)算機(jī)能讀取的存儲(chǔ)介質(zhì)
- 故障檢測裝置、故障檢測系統(tǒng)、故障檢測方法
- 故障處理方法、裝置、電子設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 故障排除方法、故障排除裝置及故障排除系統(tǒng)
- 故障檢測電路、故障檢測系統(tǒng)及故障檢測方法
- 一種數(shù)據(jù)庫讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測試終端的測試方法
- 一種服裝用人體測量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





