[發明專利]一種故障檢測方法、裝置和存儲介質有效
| 申請號: | 202110339376.5 | 申請日: | 2021-03-30 |
| 公開(公告)號: | CN113155422B | 公開(公告)日: | 2022-07-26 |
| 發明(設計)人: | 張春良;翁潤庭;王明;朱厚耀;丘斯遠;岳夏;李植鑫 | 申請(專利權)人: | 廣州大學 |
| 主分類號: | G01M13/00 | 分類號: | G01M13/00;G01M13/045;G01H17/00;G06K9/62;G06N3/02 |
| 代理公司: | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205 | 代理人: | 黎揚鵬 |
| 地址: | 510006 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 故障 檢測 方法 裝置 存儲 介質 | ||
1.一種故障檢測方法,其特征在于,包括:
獲取第一振動信號;
根據所述第一振動信號以及預設門限,確定本征模態函數分量集合;
根據所述本征模態函數分量集合,確定特征向量;所述特征向量表征所述本征模態函數分量集合的總能量;
根據所述特征向量與分類決策函數,確定故障檢測結果;
所述第一振動信號包括多個極大值點以及多個極小值點,所述根據所述第一振動信號以及預設門限,確定本征模態函數分量集合,包括:
從多個所述極大值點中選取第一預設數量個所述極大值點,并根據選取的所述極大值點計算得到邊緣極大值,將所述邊緣極大值作為所述第一振動信號最左端的極大值點;所述邊緣極大值與選取的所述極大值點之間的幅值之和最小;
從多個所述極小值點中選取第二預設數量個所述極小值點,并根據選取的所述極小值點計算得到邊緣極小值,將所述邊緣極小值作為所述第一振動信號最右端的極小值點;所述邊緣極小值與選取的所述極小值點之間的幅值之和最小;
將所述邊緣極大值和所述邊緣極小值之間的所有所述極大值點與所述邊緣極大值通過預設第一樣條線連接,得到上包絡線,將所述邊緣極大值和所述邊緣極小值之間的所有所述極小值點與所述邊緣極小值通過預設第二樣條線連接,得到下包絡線;
根據所述上包絡線和所述下包絡線計算得到平均值;
根據所述第一振動信號與所述平均值的第一差值以及所述預設門限,確定所述本征模態函數分量集合。
2.根據權利要求1所述故障檢測方法,其特征在于:所述根據所述第一振動信號與所述平均值的第一差值以及所述預設門限,確定所述本征模態函數分量集合,包括:
當所述第一差值小于等于所述預設門限,將所述第一差值作為第一分量;
計算所述第一振動信號與所述第一分量的第二差值作為第一本征模態函數分量,并將所述第一本征模態函數分量作為新的第一振動信號重新計算平均值;
根據新的第一振動信號與重新計算的平均值以及所述預設門限確定第二本征模態函數分量;所述本征模態函數分量集合至少包括第一本征模態函數分量和第二本征模態函數分量。
3.根據權利要求1所述故障檢測方法,其特征在于:所述根據所述第一振動信號與所述平均值的第一差值以及所述預設門限,確定所述本征模態函數分量集合,包括:
當所述第一差值大于所述預設門限,將所述第一差值作為第二振動信號;
計算所述第二振動信號的第二平均值,并計算所述第二振動信號與所述第二平均值的第三差值;
計算所述第一差值與所述第三差值的第四差值,根據所述第四差值與所述第一差值確定分量參數,當所述分量參數小于等于所述預設門限,將所述第三差值作為第二分量,計算所述第二振動信號與所述第二分量的第五差值作為第三本征模態函數分量,當所述分量參數大于所述預設門限,將所述第三差值作為新的第二振動信號,返回計算所述第二振動信號的第二平均值的步驟,直至所述分量參數小于等于所述預設門限,得到第三本征模態函數分量;所述本征模態函數分量集合至少包括第三本征模態函數分量。
4.根據權利要求1所述故障檢測方法,其特征在于:所述本征模態函數分量集合包括多個本征模態函數分量,所述根據所述本征模態函數分量集合,確定特征向量,包括:
對各個所述本征模態函數分量進行積分處理,得到各個所述本征模態函數分量對應的能量;
對各個所述能量進行歸一化處理,得到特征向量。
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