[發明專利]檢測方法、檢測裝置、檢測設備及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202110335697.8
• 申請日: 2021-03-29
• 公開（公告）號: CN113160145A
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發明（設計）人: 陳魯;佟異;肖遙;張嵩
• 申請（專利權）人: 深圳中科飛測科技股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 邵泳城

1.一種檢測方法，其特征在于，包括：

采集工件的信息，以獲取多個重復區域的多張第一圖像；

對多張所述第一圖像中所述重復區域的相同位置的像素的像素值進行排序；

獲取預定序列位置處的像素值，以作為模板圖像中對應位置的像素的像素值，以生成所述模板圖像；及

根據所述模板圖像對待測圖像進行檢測，以輸出檢測結果。

2.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述采集工件的信息，以獲取多個重復區域的多張第一圖像，包括：

隨機采集多個所述重復區域的信息，以生成多張所述第一圖像；或者

采集所有所述重復區域的信息，并按采集時間進行排序；及

根據預定步長，依次獲取多個所述重復區域的信息，以生成多張所述第一圖像。

3.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述重復區域包括標志點，所述對多張所述第一圖像中重復區域的相同位置的像素的像素值進行排序，包括：

對齊多張所述第一圖像，以使得每個所述第一圖像的標志點對準；

獲取多張所述第一圖像中位置對應的像素的像素值；及

根據所述像素值大小對多張所述第一圖像中位置對應的像素的像素值進行排序。

4.根據權利要求3所述的檢測方法，其特征在于，所述對齊多張所述第一圖像，以使得每個所述第一圖像的標志點對準，包括：

識別所述標志點在每個所述第一圖像中的第一坐標；

隨機選取一張所述第一圖像作為基準圖像；

計算每個所述第一圖像對應的所述第一坐標和所述基準圖像對應的所述第一坐標的坐標差值；

根據所述坐標差值對齊多張所述第一圖像，以使得每個所述第一圖像的所述標志點對準。

5.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述根據所述模板圖像對待測圖像進行檢測，以輸出檢測結果，包括：

根據所述模板圖像和預設閾值檢測所述待測圖像的缺陷，以輸出所述檢測結果。

6.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述模板圖像包括第一模板圖像和第二模板圖像，所述預定序列位置包括第一預定序列位置、第二預定序列位置和第三預定序列位置，所述第二預定序列位置位于所述第一預定序列位置和所述第三預定序列位置之間，所述第二預定序列位置為所述預定序列的中間位置，所述獲取預定序列位置處的像素值，以作為所述模板圖像中對應位置的像素的像素值，以生成所述模板圖像，包括：

獲取所述第一預定序列位置處的像素值，以作為所述第一模板圖像中對應位置的像素的像素值，以生成所述第一模板圖像；及

獲取所述第三預定序列位置處的像素值，以作為所述第二模板圖像中對應位置的像素的像素值，以生成所述第二模板圖像。

7.根據權利要求6所述的檢測方法，其特征在于，所述根據所述模板圖像對待測圖像進行檢測，以輸出檢測結果，包括：

根據所述第一模板圖像和所述第二模板圖像對待測圖像進行檢測，以輸出檢測結果。

8.根據權利要求7所述的檢測方法，其特征在于，所述根據所述第一模板圖像和所述第二模板圖像對待測圖像進行檢測，以輸出檢測結果，包括：

對齊所述待測圖像、所述第一模板圖像和所述第二模板圖像；

根據所述第一模板圖像和所述第二模板圖像位置對應的像素的像素值確定所述待測圖像對應位置的像素的像素值的閾值范圍；及

根據所述待測圖像每個像素對應的所述閾值范圍檢測所述待測圖像，以輸出所述檢測結果。

9.根據權利要求8所述的檢測方法，其特征在于，所述根據所述待測圖像每個像素對應的所述閾值范圍檢測所述待測圖像，以輸出所述檢測結果，包括：

根據所述檢測結果，將所述待測圖像轉化為二值圖像，其中，超過所述閾值范圍的像素的像素值設為a，未超過所述閾值范圍的像素的像素值設為b，所述a和所述b不同；及

根據所述二值圖像檢測所述工件的缺陷。