[發明專利]一種芯片測試方法及裝置

在審

• 申請號: 202110334568.7
• 申請日: 2021-03-29
• 公開（公告）號: CN113032196A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 王紅梅
• 申請（專利權）人: 新華三半導體技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本申請提供了一種芯片測試方法及裝置，應用于測試服務器中，該測試服務器外接網絡設備，該網絡設備包括NP芯片。該方法為：獲取配置文件；根據配置文件對NP芯片進行初始化；待初始化完成后向NP芯片加載固件；待固件加載完成后，建立與PCIE服務器之間的通信連接；從PCIE服務器獲取測試例套件，并在NP芯片上加載獲取到的測試例套件，該測試例套件包括多個測試例；向網絡測試儀發送報文注入指令，以使網絡測試儀將測試報文發送至NP芯片，由NP芯片基于測試例套件對測試報文進行相應處理；對NP芯片進行監測處理，若監測到NP芯片基于測試例套件對測試報文進行處理時發生異常，則將報文處理的異常詳情寫入到日志文件中。

技術領域

本申請涉及集成電路技術領域，尤其涉及一種芯片測試方法及裝置。

背景技術

在進行網絡處理器(Network Processor，NP)芯片的測試時，一般涉及多個模塊的配置組合，如圖1所示，NP芯片所在平臺設備、網絡測試儀、PCIE(Peripheral ComponentInterconnect Express，高速串行計算機擴展總線標準)服務器和串口使能等設備，測試過程大致包括環境準備、設備啟動、串口使能和配置下發等，NP芯片所在平臺設備運行腳本以準備測試環境、設備占用和加載指定的固件版本，然后通過遠程串口輸入命令等待配置的下發；之后再通過NP芯片相連的PCIE服務器獲取測試例的配置，待NP芯片配置完成后運行轉發平臺(Data Platform，DP)程序，通過網絡測試儀配置指定的報文輸入到芯片的端口，以實現NP芯片基于測試例對輸入報文的查表和轉發，從而實現對NP芯片的測試。

但是現有技術在進行NP芯片測試時，其測試流程隨著NP芯片所在的網絡設備(平臺設備)的不同而有所不同，測試流程不具備通用性；而且測試結果依賴網絡測試儀的分析，測試完成后只返回報文轉發查表是否成功，當轉發查表不成功時無法確定是否某個步驟或者模塊本身的問題所導致，不利于測試出錯時問題的跟蹤和定位。此外，現有的通過網絡測試儀不斷注入報文僅能實現單個測試例的流量的壓力測試，但是不能針對所有測試例遍歷進行壓力加載的測試驗證。

因此，如何提供一種能夠實現多個測試例的依次測試驗證的測試流程是值得考慮的技術問題之一。

發明內容

有鑒于此，本申請提供一種芯片測試方法及裝置，用以實現多個測試例的依次測試驗證。

具體地，本申請是通過如下技術方案實現的：

根據本申請的第一方面，提供一種芯片測試方法應用于測試服務器中，所述測試服務器外接網絡設備，所述網絡設備包括網絡處理器NP芯片；所述方法，包括：

獲取配置文件；

根據所述配置文件對所述NP芯片進行初始化；

待初始化完成后向所述NP芯片加載固件；

待固件加載完成后，建立與PCIE服務器之間的通信連接；

從所述PCIE服務器獲取測試例套件，并在所述NP芯片上加載獲取到的測試例套件，所述測試例套件包括多個測試例；

向網絡測試儀發送報文注入指令，以使所述網絡測試儀將測試報文發送至所述NP芯片，由所述NP芯片基于所述測試例套件對所述測試報文進行相應處理；

對所述NP芯片進行監測處理，若監測到所述NP芯片基于所述測試例套件對所述測試報文進行處理時發生異常，則將報文處理的異常詳情寫入到日志文件中。

根據本申請的第二方面，提供一種芯片測試裝置，應用于測試服務器中，所述測試服務器外接網絡設備，所述網絡設備包括網絡處理器NP芯片；所述裝置，包括：

第一獲取模塊，用于獲取配置文件；

初始化模塊，用于根據所述配置文件對所述NP芯片進行初始化；