[發(fā)明專利]一種芯片測(cè)試方法及裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110334568.7
• 申請(qǐng)日: 2021-03-29
• 公開（公告）號(hào): CN113032196A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王紅梅
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 新華三半導(dǎo)體技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種芯片測(cè)試方法，其特征在于，應(yīng)用于測(cè)試服務(wù)器中，所述測(cè)試服務(wù)器外接網(wǎng)絡(luò)設(shè)備，所述網(wǎng)絡(luò)設(shè)備包括網(wǎng)絡(luò)處理器NP芯片；所述方法，包括：

獲取配置文件；

根據(jù)所述配置文件對(duì)所述NP芯片進(jìn)行初始化；

待初始化完成后向所述NP芯片加載固件；

待固件加載完成后，建立與PCIE服務(wù)器之間的通信連接；

從所述PCIE服務(wù)器獲取測(cè)試?yán)准⒃谒鯪P芯片上加載獲取到的測(cè)試?yán)准鰷y(cè)試?yán)准ǘ鄠€(gè)測(cè)試?yán)?/p>

向網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀發(fā)送報(bào)文注入指令，以使所述網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀將測(cè)試報(bào)文發(fā)送至所述NP芯片，由所述NP芯片基于所述測(cè)試?yán)准?duì)所述測(cè)試報(bào)文進(jìn)行相應(yīng)處理；

對(duì)所述NP芯片進(jìn)行監(jiān)測(cè)處理，若監(jiān)測(cè)到所述NP芯片基于所述測(cè)試?yán)准?duì)所述測(cè)試報(bào)文進(jìn)行處理時(shí)發(fā)生異常，則將報(bào)文處理的異常詳情寫入到日志文件中。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述配置文件包括NP芯片所在的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的設(shè)備標(biāo)識(shí)和可變參數(shù)；則

根據(jù)所述配置文件對(duì)所述NP芯片進(jìn)行初始化，包括：

基于所述可變參數(shù)，利用所述設(shè)備標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)的芯片測(cè)試腳本對(duì)所述NP芯片進(jìn)行初始化。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

若對(duì)NP芯片進(jìn)行初始化時(shí)發(fā)生異常，則將初始化異常的異常詳情寫入到所述日志文件中。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

若建立與所述PCIE服務(wù)器之間的通信連接時(shí)發(fā)生異常，則將建立連接的異常詳情寫入到所述日志文件中。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

向所述NP芯片發(fā)送串口使能指令，以使能所述NP芯片的串口；

若串口使能時(shí)發(fā)生異常，則將串口使能的異常詳情寫入到所述日志文件中。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述PCIE服務(wù)器包括多個(gè)測(cè)試?yán)准粍t所述方法，還包括：

在監(jiān)測(cè)到所述NP芯片基于當(dāng)前測(cè)試?yán)准?duì)所述測(cè)試報(bào)文進(jìn)行處理未發(fā)生異常時(shí)，則繼續(xù)執(zhí)行從所述PCIE服務(wù)器獲取測(cè)試?yán)准牟襟E。

7.一種芯片測(cè)試裝置，其特征在于，應(yīng)用于測(cè)試服務(wù)器中，所述測(cè)試服務(wù)器外接網(wǎng)絡(luò)設(shè)備，所述網(wǎng)絡(luò)設(shè)備包括網(wǎng)絡(luò)處理器NP芯片；所述裝置，包括：

第一獲取模塊，用于獲取配置文件；

初始化模塊，用于根據(jù)所述配置文件對(duì)所述NP芯片進(jìn)行初始化；

第一加載模塊，用于待初始化完成后向所述NP芯片加載固件；

連接建立模塊，用于待固件加載完成后，建立與PCIE服務(wù)器之間的通信連接；

第二獲取模塊，用于從所述PCIE服務(wù)器獲取測(cè)試?yán)准?/p>

第二加載模塊，用于在所述NP芯片上加載獲取到的測(cè)試?yán)准鰷y(cè)試?yán)准ǘ鄠€(gè)測(cè)試?yán)?/p>

第一發(fā)送模塊，用于向網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀發(fā)送報(bào)文注入指令，以使所述網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀將測(cè)試報(bào)文發(fā)送至所述NP芯片，由所述NP芯片基于所述測(cè)試?yán)准?duì)所述測(cè)試報(bào)文進(jìn)行相應(yīng)處理；

監(jiān)測(cè)模塊，用于對(duì)所述NP芯片進(jìn)行監(jiān)測(cè)處理；

異常處理模塊，用于若所述監(jiān)測(cè)模塊監(jiān)測(cè)到所述NP芯片基于所述測(cè)試?yán)准?duì)所述測(cè)試報(bào)文進(jìn)行處理時(shí)發(fā)生異常，則將報(bào)文處理的異常詳情寫入到日志文件中。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述配置文件包括NP芯片所在的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的設(shè)備標(biāo)識(shí)和可變參數(shù)；則

所述初始化模塊，具體用于基于所述可變參數(shù)，利用所述設(shè)備標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)的芯片測(cè)試腳本對(duì)所述NP芯片進(jìn)行初始化。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，

所述異常處理模塊，還用于若對(duì)NP芯片進(jìn)行初始化時(shí)發(fā)生異常，則將初始化異常的異常詳情寫入到所述日志文件中。

10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，

所述異常處理模塊，還用于若建立與所述PCIE服務(wù)器之間的通信連接時(shí)發(fā)生異常，則將建立連接的異常詳情寫入到所述日志文件中。