[發明專利]示教軌跡修改方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202110332371.X
• 申請日: 2021-03-29
• 公開（公告）號: CN113189933B
• 公開（公告）日: 2022-09-06
• 發明（設計）人: 陳茂清;龐山東;何建宏;甘杰家;陳根余;陳焱;高云峰
• 申請（專利權）人: 大族激光科技產業集團股份有限公司;大族激光智能裝備集團有限公司
• 主分類號: G05B19/19
• 分類號: G05B19/19
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種示教軌跡修改方法、裝置、設備及存儲介質，所述方法包括：單步執行示教程序，當示教程序步進走完第N程序行時，判斷第N程序行的五軸參數軌跡是否出現軌跡偏差；若軌跡偏差超過預設值，則對第N程序行內的示教采樣點重新取點進行修正，并建立步進程序和步退程序進行驗證；若軌跡偏差不超過預設值，則在第N程序行的五軸參數的基礎上調整所述五軸參數值進行修正，并建立步進程序和步退程序進行驗證。本發明提供的示教軌跡修改方法可以選擇對示教采樣點重新取點或直接調整當前行五軸參數，從而對偏差的示教軌跡進行修正，并可通過構建步進程序和步退程序對修正后的示教軌跡進行驗證，從而提高了示教程序的軌跡修改效率。

技術領域

本發明涉及數控技術領域，特別涉及一種示教軌跡修改方法、裝置、設備及存儲介質。

背景技術

目前，在數控系統示教功能模式下，操作人員只能通過系統示教界面的快速點定位指令G00、直線插補指令G01、圓弧插補指令CIP中點和圓弧插補指令CIP終點功能按鍵選擇對應的程序段進行插入；通過刪除程序段功能按鍵對程序段進行刪除；通過程序編輯功能對整個示教程序進行修改。

隨著三維五軸切割機床示教功能需求的增加，在程序示教完成后可能需要對單個程序段的五軸參數進行多次微調整。現有數控程序修改功能修改五軸參數完成后需要重新運行整個示教程序。因此，示教程序單段執行的過程中，一旦由于示教軌跡偏差發生碰撞報警，無法直接操控機床按原軌跡回到當前程序段的起點位置，只有示教程序段執行完畢才能確認該程序段的五軸參數是否滿足精度要求，不能直接通過程序步進、步退功能對需要修改的程序段進行多次修改，直到滿足精度要求為止

以上導致數控系統修改程序的修改過程過于繁瑣，一旦工件復雜度較高，此時需要修改的示教程序段點較多，修改再執行的反復過程將會耗費工作人員大量的時間和精力，從而降低了機床的生產效率。

因此，現有技術還有待提高和改進。

發明內容

鑒于上述現有技術的不足之處，本發明提供一種示教軌跡修改方法、裝置、設備及存儲介質，可以解決示教程序修改過程過于繁瑣的問題，提高修改示教程序的效率。

本發明實施例采取了以下技術方案：

一種示教軌跡修改方法，包括步驟：

單步執行示教程序，當示教程序步進走完第N程序行時，判斷第N程序行的五軸參數軌跡是否出現軌跡偏差；其中，N為正整數；

若所述軌跡出現軌跡偏差，判斷軌跡偏差是否超過預設值；

若軌跡偏差超過預設值，則對第N程序行內的示教采樣點重新取點，修正第N程序行的五軸參數軌跡，并建立步進程序和步退程序，對修正后的軌跡進行驗證；

若軌跡偏差不超過預設值，則在第N程序行的五軸參數的基礎上調整所述五軸參數值，修正第N程序行的五軸參數軌跡，并建立步進程序和步退程序，對修正后的軌跡進行驗證。

進一步的，所述的示教軌跡修改方法中，所述若軌跡偏差超過預設值，則對第N程序行內的示教采樣點重新取點，修正第N程序行的五軸參數軌跡，并建立步進程序和步退程序，對修正后的軌跡進行驗證的步驟包括：

選取第N程序行的五軸參數軌跡的結束點作為修正點進行采點覆蓋；

構建步退程序，從所述軌跡的結束點加載運行到所述軌跡的開始點；

構建步進程序，從所述軌跡的開始點加載運行到所述軌跡的結束點；

判斷步退程序和步進程序加載時是否出現碰撞報警或程序中斷；

若出現碰撞報警或程序中斷，則重新采點覆蓋所述軌跡的結束點，并重新構建步退程序和步進程序加載運行。