[發明專利]誤差消除方法、裝置、電子設備及存儲介質有效
| 申請號: | 202110328512.0 | 申請日: | 2021-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN113081267B | 公開(公告)日: | 2021-12-28 |
| 發明(設計)人: | 張逸凌;劉星宇 | 申請(專利權)人: | 北京長木谷醫療科技有限公司;長木谷醫療科技(青島)有限公司;張逸凌 |
| 主分類號: | A61B34/20 | 分類號: | A61B34/20;A61B34/10 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人: | 王宇楊 |
| 地址: | 100176 北京市大興區北京經濟技術開發區榮華南*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 誤差 消除 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種誤差消除方法,其特征在于,包括:
采集多個配準點的信息,所述配準點的信息包括目標器械在第一配準點的位置坐標與第一追蹤架在采集第一配準點時的位置矩陣;其中,所述第一追蹤架安裝在與所述目標器械鄰近的剛性物體上;所述第一配準點為所述多個配準點中的任意一個;
根據第一追蹤架在采集第一配準點時的位置矩陣以及預先確定的第一追蹤架在配準準備狀態下的位置矩陣,計算第一配準點的誤差矩陣;
根據目標器械在第一配準點的位置坐標以及所述第一配準點的誤差矩陣,計算目標器械在第一配準點的誤差消除后的位置坐標。
2.根據權利要求1所述的誤差消除方法,其特征在于,在采集多個配準點的信息之前,方法還包括:
在配準準備狀態下,獲取第一追蹤架的位置矩陣。
3.根據權利要求1或2所述的誤差消除方法,其特征在于,所述根據第一追蹤架在采集第一配準點時的位置矩陣以及預先確定的第一追蹤架在配準準備狀態下的位置矩陣,計算第一配準點的誤差矩陣的計算公式為:
Mp*Mdiff=MI;
其中,Mp為第一追蹤架在配準準備狀態下的位置矩陣;MI為第一追蹤架在采集第一配準點時的位置矩陣;Mdiff為第一配準點的誤差矩陣。
4.根據權利要求1或2所述的誤差消除方法,其特征在于,所述根據目標器械在第一配準點的位置坐標以及所述第一配準點的誤差矩陣,計算目標器械在第一配準點的誤差消除后的位置坐標的計算公式為:
Pi_o*Mdiff=PI;
其中,Pi_o為目標器械在第一配準點的誤差消除后的位置坐標;PI為目標器械在第一配準點的位置坐標;Mdiff為第一配準點的誤差矩陣。
5.根據權利要求1或2所述的誤差消除方法,其特征在于,所述多個配準點的數量為大于或等于3。
6.根據權利要求2所述的誤差消除方法,其特征在于,所述在配準準備狀態下,記錄第一追蹤架的位置矩陣,包括:
在配準準備狀態下,通過光學定位跟蹤系統測量并記錄第一追蹤架的位置矩陣。
7.一種誤差消除裝置,其特征在于,包括:
配準點信息采集模塊,用于采集多個配準點的信息,所述配準點的信息包括目標器械在第一配準點的位置坐標與第一追蹤架在采集第一配準點時的位置矩陣;其中,所述第一追蹤架安裝在與所述目標器械鄰近的剛性物體上;所述第一配準點為所述多個配準點中的任意一個;
誤差矩陣計算模塊,用于根據第一追蹤架在采集第一配準點時的位置矩陣以及預先確定的第一追蹤架在配準準備狀態下的位置矩陣,計算第一配準點的誤差矩陣;
誤差消除模塊,用于根據目標器械在第一配準點的位置坐標以及所述第一配準點的誤差矩陣,計算目標器械在第一配準點的誤差消除后的位置坐標。
8.一種電子設備,包括存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序,其特征在于,所述處理器執行所述程序時實現如權利要求1至6任一項所述誤差消除方法的步驟。
9.一種非暫態計算機可讀存儲介質,其上存儲有計算機程序,其特征在于,所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至6任一項所述誤差消除方法的步驟。
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