[發明專利]一種數據處理方法及電子裝置

有效

• 申請號: 202110325527.1
• 申請日: 2021-03-26
• 公開（公告）號: CN113050015B
• 公開（公告）日: 2023-01-17
• 發明（設計）人: 王奕;祁宏升
• 申請（專利權）人: 聯想（北京）有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 北京金信知識產權代理有限公司 11225
• 代理人: 韓岳松

本申請實施例提供了一種數據處理方法及電子裝置，所述方法包括：確定測試系統的測試準確度，所述測試系統中包括多個測試機臺；在所述測試準確度滿足觸發校準條件的情況下，基于所述測試準確度輔助確定出目標測試機臺，所述目標測試機臺與導致所述測試準確度滿足所述觸發校準條件具有關聯關系。本申請的數據處理方法能夠根據實際測試情況而及時確定出影響測試效果的目標測試機臺，輔助測試系統或工作人員進行針對性的機臺校準。

技術領域

本申請實施例涉及計算機技術領域，特別涉及一種數據處理方法及電子裝置。

背景技術

在電子產品工廠中，組裝完畢的電子產品將會被運送至測試車間進行質量測試，以保證質量、功能的完備性。通常測試車間中會設有數十個測試機臺，每個機臺將會測試一種或多種測試項目。例如手機天線射頻性能，藍牙性能，揚聲器等等。

現有工廠的測試機臺校準方案基本都為設定校準時間周期，定期提示對所有機臺進行校準。但該方法的缺點為無法根據實際測試情況而及時校準測試不準確的測試機臺。

發明內容

本申請提供了一種能夠根據實際測試情況而及時確定出影響測試效果的目標測試機臺的數據處理方法及應用該方法的電子裝置。

為了解決上述技術問題，本申請實施例提供了一種數據處理方法，包括：

確定測試系統的測試準確度，所述測試系統中包括多個測試機臺；

在所述測試準確度滿足觸發校準條件的情況下，基于所述測試準確度輔助確定出目標測試機臺，所述目標測試機臺與導致所述測試準確度滿足所述觸發校準條件具有關聯關系。

可選地，所述確定測試系統的測試準確度，包括：

確定經所述測試系統進行測試的產品數量、測試結果；

基于所述產品數量及測試結果確定所述測試準確度。

可選地，所述基于所述產品數量及測試結果確定所述測試準確度，包括：

確定所述測試結果中表征測試錯誤的誤判數量；

基于所述產品數量、誤判數量確定測試中的誤判率，所述誤判率與所述測試準確度負相關。

可選地，所述基于所述產品數量及測試結果確定所述測試準確度，還包括：

確定所述測試結果中表征測試正確的通過數量；

基于所述產品數量、通過數量確定測試中的通過率，所述通過率與所述測試準確度正相關。

可選地，所述測試準確度滿足觸發校準條件，包括：

確定所述誤判率和/或通過率滿足對應的閾值的情況下，確定所述測試準確度滿足觸發校準條件。

可選地，所述基于所述測試準確度輔助確定出目標測試機臺，包括：

獲得會誘導所述測試準確度滿足觸發校準條件的原因數據；

基于所述原因數據以及誤判率計算對應每條所述原因數據的信息熵；

基于所述信息熵確定所述目標測試機臺。

可選地，所述原因數據至少包括所述測試機臺的測試項目、用于對應指示不同所述測試機臺的測試數據、所述測試機臺的機臺狀態數據、所處環境的環境數據、對應每個所述測試機臺的操作流程數據中的一種或多種。

可選地，基于所述信息熵確定所述目標測試機臺，包括：

確定多個分別對應不同原因數據的所述信息熵中的最大值；

基于所述最大值指示的信息確定所述目標測試機臺。