[發(fā)明專利]一種數(shù)據(jù)處理方法及電子裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110325527.1
• 申請日: 2021-03-26
• 公開（公告）號: CN113050015B
• 公開（公告）日: 2023-01-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王奕;祁宏升
• 申請（專利權(quán)）人: 聯(lián)想（北京）有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 北京金信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11225
• 代理人: 韓岳松

1.一種數(shù)據(jù)處理方法，包括：

確定經(jīng)測試系統(tǒng)進(jìn)行測試的產(chǎn)品數(shù)量、測試結(jié)果，所述測試系統(tǒng)中包括多個測試機(jī)臺；

基于所述產(chǎn)品數(shù)量及測試結(jié)果確定測試準(zhǔn)確度，所述測試準(zhǔn)確度基于測試中的誤判率來衡量；

在所述測試準(zhǔn)確度滿足觸發(fā)校準(zhǔn)條件的情況下，獲得會誘導(dǎo)所述測試準(zhǔn)確度滿足觸發(fā)校準(zhǔn)條件的原因數(shù)據(jù)，所述原因數(shù)據(jù)至少包括所述測試機(jī)臺的測試項(xiàng)目、用于對應(yīng)指示不同所述測試機(jī)臺的測試數(shù)據(jù)、所述測試機(jī)臺的機(jī)臺狀態(tài)數(shù)據(jù)、所處環(huán)境的環(huán)境數(shù)據(jù)、對應(yīng)每個所述測試機(jī)臺的操作流程數(shù)據(jù)中的一種或多種；

基于所述原因數(shù)據(jù)以及誤判率計(jì)算對應(yīng)每條所述原因數(shù)據(jù)的信息熵；

基于所述信息熵確定目標(biāo)測試機(jī)臺，所述目標(biāo)測試機(jī)臺與導(dǎo)致所述測試準(zhǔn)確度滿足所述觸發(fā)校準(zhǔn)條件具有關(guān)聯(lián)關(guān)系。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述基于所述產(chǎn)品數(shù)量及測試結(jié)果確定所述測試準(zhǔn)確度，包括：

確定所述測試結(jié)果中表征測試錯誤的誤判數(shù)量；

基于所述產(chǎn)品數(shù)量、誤判數(shù)量確定測試中的誤判率，所述誤判率與所述測試準(zhǔn)確度負(fù)相關(guān)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中，所述基于所述產(chǎn)品數(shù)量及測試結(jié)果確定所述測試準(zhǔn)確度，還包括：

確定所述測試結(jié)果中表征測試正確的通過數(shù)量；

基于所述產(chǎn)品數(shù)量、通過數(shù)量確定測試中的通過率，所述通過率與所述測試準(zhǔn)確度正相關(guān)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中，所述測試準(zhǔn)確度滿足觸發(fā)校準(zhǔn)條件，包括：

確定所述誤判率和/或通過率滿足對應(yīng)的閾值的情況下，確定所述測試準(zhǔn)確度滿足觸發(fā)校準(zhǔn)條件。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，基于所述信息熵確定所述目標(biāo)測試機(jī)臺，包括：

確定多個分別對應(yīng)不同原因數(shù)據(jù)的所述信息熵中的最大值；

基于所述最大值指示的信息確定所述目標(biāo)測試機(jī)臺。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中，所述原因數(shù)據(jù)為所述測試機(jī)臺的測試項(xiàng)目，所述基于所述最大值指示的信息確定所述目標(biāo)測試機(jī)臺，包括：

確定與所述最大值對應(yīng)的所述原因數(shù)據(jù)；

基于所述原因數(shù)據(jù)指示的測試項(xiàng)目確定用于執(zhí)行所述測試項(xiàng)目的測試機(jī)臺為所述目標(biāo)測試機(jī)臺。

7.一種電子裝置，包括：

第一處理模塊，確定經(jīng)測試系統(tǒng)進(jìn)行測試的產(chǎn)品數(shù)量、測試結(jié)果，基于所述產(chǎn)品數(shù)量及測試結(jié)果確定測試準(zhǔn)確度，所述測試準(zhǔn)確度基于測試中的誤判率來衡量，所述測試系統(tǒng)中包括多個測試機(jī)臺；

第二處理模塊，用于在所述測試準(zhǔn)確度滿足觸發(fā)校準(zhǔn)條件的情況下，獲得會誘導(dǎo)所述測試準(zhǔn)確度滿足觸發(fā)校準(zhǔn)條件的原因數(shù)據(jù)；基于所述原因數(shù)據(jù)以及誤判率計(jì)算對應(yīng)每條所述原因數(shù)據(jù)的信息熵；基于所述信息熵確定目標(biāo)測試機(jī)臺，所述目標(biāo)測試機(jī)臺與導(dǎo)致所述測試準(zhǔn)確度滿足所述觸發(fā)校準(zhǔn)條件具有關(guān)聯(lián)關(guān)系，所述原因數(shù)據(jù)至少包括所述測試機(jī)臺的測試項(xiàng)目、用于對應(yīng)指示不同所述測試機(jī)臺的測試數(shù)據(jù)、所述測試機(jī)臺的機(jī)臺狀態(tài)數(shù)據(jù)、所處環(huán)境的環(huán)境數(shù)據(jù)、對應(yīng)每個所述測試機(jī)臺的操作流程數(shù)據(jù)中的一種或多種。