[發(fā)明專利]一種氮化鎵同質(zhì)襯底及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110323780.3 | 申請日: | 2021-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN113078046B | 公開(公告)日: | 2022-07-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 談遜;談謙;江兵華 | 申請(專利權(quán))人: | 華廈半導(dǎo)體(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;C23C14/06;C30B25/20;C30B29/40;C23C14/35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 氮化 同質(zhì) 襯底 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種氮化鎵同質(zhì)襯底及其制備方法,制備方法包括以下步驟:先將氮化鎵多晶基板涂鎵氨化,然后非晶化處理,再將具有六方結(jié)構(gòu)的二維晶體薄膜轉(zhuǎn)移至多晶襯底基板上;然后對二維晶體薄膜表面處理,產(chǎn)生懸掛鍵;再在二維晶體薄膜上生長AlN成核層;隨后在AlN成核層上外延生長氮化鎵厚膜;最后將多晶襯底基板去除即得氮化鎵同質(zhì)襯底。本發(fā)明在氮化鎵基板上利用可轉(zhuǎn)移的單晶石墨烯為氮化物生長提供所需的六方模板,比藍(lán)寶石等異質(zhì)襯底上轉(zhuǎn)移二維薄膜的熱膨脹應(yīng)力低,使得HVPE氮化鎵厚膜生長空間得到提高,氮化鎵自支撐襯底獲得成本大為降低。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種氮化鎵同質(zhì)襯底及其制備方法。
背景技術(shù)
在目前所獲得自支撐氮化鎵襯底時,使用二維膜轉(zhuǎn)移的方法中,如果采用藍(lán)寶石襯底,由于晶格與熱應(yīng)力適配問題,所獲得的自支撐襯底缺陷較大,找到一種質(zhì)量更好,又便宜的工藝方法是努力的方向。
發(fā)明內(nèi)容
針對上述現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明提供一種氮化鎵同質(zhì)襯底及其制備方法,以解決氮化鎵襯底晶格缺陷高以及襯底制備成本高的問題。
為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:提供一種氮化鎵同質(zhì)襯底制備方法,包括以下步驟:
S1:制備多晶氮化鎵基板,并在基板表面涂布厚度為10~100nm的金屬鎵薄膜,然后氨化處理,以在金屬鎵薄膜上形成鎵膜氨化層;
S2:對經(jīng)過S1處理后的基板進(jìn)行非晶化處理,使鎵膜氨化層轉(zhuǎn)化成厚度為3~120nm的非晶化層;
S3:在非晶化層上轉(zhuǎn)移一層厚度為2~50nm的二維薄膜;二維薄膜的材質(zhì)為石墨烯、六方氮化硼、二硫化鎢、二硫化鉬、二硒化鎢、二硒化鉬、二碲化鎢或二碲化鉬;
S4:對二維薄膜進(jìn)行氨化處理;
S5:在氨化處理后的二維薄膜上沉積厚度為20~50nm的AlN緩沖層;
S6:在AlN緩沖層上生長氮化鎵薄膜;
S7:除去多晶氮化鎵基板,得氮化鎵同質(zhì)襯底。
本發(fā)明中的氮化鎵生長襯底以多晶氮化鎵為基板。
本發(fā)明在緩沖層與基板之間轉(zhuǎn)移有二維薄膜,二維薄膜結(jié)構(gòu)為六方晶體結(jié)構(gòu),與氮化鎵晶格一致,可為GaN的生長提供晶格模板,降低GaN對襯底的依賴,從而提高氮化鎵生長質(zhì)量。
本發(fā)明中的緩沖層為AlN緩沖層,AlN具有六方晶系結(jié)構(gòu),在AlN緩沖層上生長氮化鎵薄膜,所得到的薄膜與基板具有相同的取向,氮化鎵薄膜內(nèi)缺陷少,質(zhì)量高,由此制得的同質(zhì)襯底性能更加優(yōu)良。
在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上,本發(fā)明還可以做如下改進(jìn)。
進(jìn)一步,S1中制備多晶氮化鎵基板的方法包括以下步驟:將氮化鎵多晶粉末壓制成厚度為1~10mm的薄板,然后在45~55MPa、950~1050℃條件下燒結(jié)25~35h,得多晶氮化鎵基板。
本發(fā)明中通過擠壓、燒結(jié)的方式將多晶氮化鎵粉末制成多晶氮化鎵板,可使板材內(nèi)部的構(gòu)成粒子在大致法線方向上沿特定結(jié)晶方位取向,所得到的板材內(nèi)部粒子排列規(guī)整,內(nèi)部缺陷較少,在此基板上進(jìn)行后續(xù)功能層的生長,功能層不會出現(xiàn)晶格缺陷,所得到的生長襯底性能更加優(yōu)良。
進(jìn)一步,S2中多晶氮化鎵基板非晶化處理的方法為激光熔凝,熔凝過程中激光的能量密度為100~120kW/cm2。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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