[發(fā)明專利]芯片的測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110322024.9
• 申請(qǐng)日: 2021-03-25
• 公開（公告）號(hào): CN115128429A
• 公開（公告）日: 2022-09-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 曾泉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 天芯互聯(lián)科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280
• 代理人: 黎堅(jiān)怡

1.一種芯片的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試系統(tǒng)包括：

上位機(jī)，所述上位機(jī)用于設(shè)置和發(fā)送指令，存儲(chǔ)測(cè)試結(jié)果；

控制電路，所述控制電路與所述上位機(jī)耦接，并在測(cè)試時(shí)與被測(cè)單元耦接，用于接收所述上位機(jī)的所述指令，根據(jù)所述指令控制所述被測(cè)單元執(zhí)行對(duì)應(yīng)操作；

多路載板，與所述控制電路耦接，用于插設(shè)多個(gè)被測(cè)單元，所述多個(gè)被測(cè)單元根據(jù)所述指令執(zhí)行對(duì)應(yīng)操作得到測(cè)試數(shù)據(jù)，并將所述測(cè)試數(shù)據(jù)輸出給所述控制電路。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述控制電路包括通信單元和數(shù)據(jù)處理單元，所述通信單元于所述數(shù)據(jù)處理單元耦接，所述通信單元與所述上位機(jī)耦接，接收所述上位機(jī)的指令，并將所述指令傳輸給所述數(shù)據(jù)處理單元進(jìn)行處理。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述通信單元包括相互耦接的以太網(wǎng)接口、通信轉(zhuǎn)換器和第一總線接口，所述以太網(wǎng)接口與所述上位機(jī)耦接，接收所述上位機(jī)的指令，所述通信轉(zhuǎn)換器將接收的所述指令進(jìn)行轉(zhuǎn)換，所述第一總線接口將所述轉(zhuǎn)換后的所述指令傳輸給所述數(shù)據(jù)處理單元。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)處理單元包括相互耦接的第二總線接口、控制器和存儲(chǔ)單元，所述第二總線接口與所述通信單元耦接，將所述通信單元接收的所述指令傳輸給所述控制器，并由所述控制器進(jìn)行中轉(zhuǎn)處理得到理論數(shù)據(jù)，并將所述理論數(shù)據(jù)傳輸給所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行存儲(chǔ)。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)處理單元還包括數(shù)據(jù)錄入單元和輸入/輸出單元，所述數(shù)據(jù)錄入單元與所述控制器和輸入/輸出單元耦接，所述數(shù)據(jù)錄入單元接收所述控制器的指令經(jīng)所述輸入/輸出單元傳輸給所述多路載板，所述多路載板根據(jù)所述指令控制被測(cè)單元執(zhí)行對(duì)應(yīng)操作得到測(cè)試數(shù)據(jù)，并將所述測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)所述輸入/輸出單元傳輸給所述控制器。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)處理單元還包括輸出分析單元，所述輸出分析單元于所述控制器耦接，接收所述控制器從所述存儲(chǔ)單元和多路載板傳輸?shù)乃隼碚摻Y(jié)構(gòu)和所述測(cè)試數(shù)據(jù)，并對(duì)所述理論結(jié)構(gòu)和測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析比較，得到所述測(cè)試數(shù)據(jù)，將所述測(cè)試數(shù)據(jù)經(jīng)所述控制器和通信單元傳輸給所述上位機(jī)進(jìn)行存儲(chǔ)。

7.一種芯片的測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試方法包括：

接收上位機(jī)發(fā)送的指令，對(duì)所述指令進(jìn)行中轉(zhuǎn)處理并得到理論數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述指令控制多個(gè)被測(cè)單元進(jìn)行執(zhí)行對(duì)應(yīng)操作得到測(cè)試數(shù)據(jù)；

獲取所述理論數(shù)據(jù)與所述測(cè)試數(shù)據(jù)，并對(duì)所述理論數(shù)據(jù)和所述測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析比較，得到所述測(cè)試結(jié)果以判斷多個(gè)所述被測(cè)單元是否正常；

將所述測(cè)試結(jié)果發(fā)送給所述上位機(jī)進(jìn)行存儲(chǔ)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試方法，其特征在于，

所述接收上位機(jī)發(fā)送的指令，對(duì)所述指令進(jìn)行中轉(zhuǎn)處理并得到理論數(shù)據(jù)包括：

存儲(chǔ)所述理論數(shù)據(jù)。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試方法，其特征在于，

所述得到所述測(cè)試數(shù)據(jù)以判斷多個(gè)所述被測(cè)單元是否正常包括：

若所述被測(cè)單元不正常，將所述測(cè)試數(shù)據(jù)反饋給所述上位機(jī)并進(jìn)行記錄。

10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試方法，其特征在于，

所述接收上位機(jī)發(fā)送的指令，根據(jù)所述指令進(jìn)行中轉(zhuǎn)處理并得到理論數(shù)據(jù)之前包括：

設(shè)置測(cè)試參數(shù)，根據(jù)所述測(cè)試參數(shù)發(fā)送所述指令。