[發明專利]一種低成本零延時的SAR-ADC硬件校正算法在審
| 申請號： | 202110321763.6 | 申請日： | 2021-03-25 |
| 公開（公告）號： | CN113055007A | 公開（公告）日： | 2021-06-29 |
| 發明（設計）人： | 戴銳;吳曉勇;崔松葉 | 申請（專利權）人： | 深圳前海維晟智能技術有限公司 |
| 主分類號： | H03M1/10 | 分類號： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 深圳市蘭鋒盛世知識產權代理有限公司 44504 | 代理人： | 羅炳鋒 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市前海深港合作區前*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 低成本 延時 sar adc 硬件 校正 算法 | ||
1.一種低成本零延時的SAR-ADC硬件校正算法，其特征在于，采用如下處理步驟：
S1、定義寄存器AM和寄存器AK，通過寄存器AM和寄存器AK配置一個硬件算法電路，寄存器AM的符號位為Fm，寄存器AK的符號位為Fk，硬件算法電路以ADC輸出數據Ya為輸入；
S2、算法電路通過Ya獲得校正值TEMP1，其中
TEMP1＝Ya+(Fm？AM:-AM)；
S3、算法電路通過TEMP1獲得校正值TEMP2，其中
TEMP2＝(Fk？AK:-AK)*TEMP1；
S4、算法電路根據校正值TEMP1和校正值TEMP2獲得ADC輸出數據校正值Yb,其中
Yb＝TEMP1+TEMP2。
2.如權利要求1所述的一種低成本零延時的SAR-ADC硬件校正算法，其特征在于，在步驟S1中，寄存器AM及其符號位Fm、寄存器AK及其符號位Fk的定義采用如下步驟：
S11、采樣兩個理想的ADC輸入電壓下的ADC輸出數據，根據這兩個兩個理想的ADC輸入電壓擬合出ADC輸入電壓X與ADC輸出數據Ya的一元一次方程為Ya＝Ka*X+Ma；
其中，Ka和Ma為預設的方程系數；
S12、預設理想的ADC輸出數據Yb＝Kb*X；
其中，Kb為預設的方程系數；
據此，理想的ADC輸出數據Yb＝(Kb/Ka)*(Ya–Ma)；
在此基礎上，代入寄存器AM及其符號位Fm、寄存器AK及其符號位Fk，則理想的ADC輸出數據Yb進一步變換為
Yb＝(1+(Fk？|(Kb-Ka)/Ka|:-|(Kb-Ka)/Ka|)*(Ya+(Fm？|Ma|:-|Ma|))
據此計算得出需要配置的AM、AK、Fm和Fk，并據此進行寄存器AM及其符號位Fm、寄存器AK及其符號位Fk的定義。
3.如權利要求2所述的一種低成本零延時的SAR-ADC硬件校正算法，其特征在于，步驟S12中，鑒于|Kb-Ka/Ka|是一個比較小的小數，因此以用Kc/16384代替，其中Kc是一個小于256的數，|Ma|也是一個小于256的數；定義寄存器AM＝|Ma|，定義寄存器AK＝Kc，理想的ADC輸出數據Yb進一步變換為
Yb＝(1+(Fk？AK:-AK)/16384)(Ya+(Fm？AM:-AM))；
據此計算得出需要配置的AM、AK、Fm和Fk，并據此進行寄存器AM及其符號位Fm、寄存器AK及其符號位Fk的定義。
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