[發(fā)明專利]一種中壓熔斷器質(zhì)量檢測方法、裝置、設備和介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110319557.1 | 申請日： | 2021-03-25 |
| 公開（公告）號： | CN113064008A | 公開（公告）日： | 2021-07-02 |
| 發(fā)明（設計）人： | 王國慶;林博勇;鄭嘉禧;林創(chuàng);王良;桑成磊;焦夏男;熊俊 | 申請（專利權(quán)）人： | 廣東電網(wǎng)有限責任公司廣州供電局 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00;G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人： | 黃忠 |
| 地址： | 510630 廣*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 熔斷器 質(zhì)量 檢測 方法 裝置 設備 介質(zhì) | ||
1.一種中壓熔斷器質(zhì)量檢測方法，其特征在于，包括：
通過阻抗分析儀掃描待檢測中壓熔斷器，得到所述待檢測中壓熔斷器的阻抗-頻率曲線和阻抗角-頻率曲線；
根據(jù)所述待檢測中壓熔斷器的阻抗-頻率曲線、阻抗角-頻率曲線與標準中壓熔斷器的阻抗-頻率曲線、阻抗角-頻率曲線計算阻抗相似度系數(shù)和阻抗角相似度系數(shù)，所述標準中壓熔斷器為與所述待檢測中壓熔斷器同一型號的合格的中壓熔斷器；
根據(jù)所述阻抗相似度系數(shù)和所述阻抗角相似度系數(shù)的大小判斷所述待檢測中壓熔斷器是否合格。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的中壓熔斷器質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述方法還包括：
根據(jù)所述待檢測中壓熔斷器的阻抗-頻率曲線獲取第一個阻抗極大值、該第一個阻抗極大值對應的第一頻率、阻抗由容性轉(zhuǎn)感性的轉(zhuǎn)折頻率以及該轉(zhuǎn)折頻率對應的阻抗極小值；
根據(jù)所述待檢測中壓熔斷器的第一個阻抗極大值、第一頻率、轉(zhuǎn)折頻率和阻抗極小值確定所述待檢測中壓熔斷器的內(nèi)部情況。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的中壓熔斷器質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述根據(jù)所述阻抗相似度系數(shù)和所述阻抗角相似度系數(shù)的大小判斷所述待檢測中壓熔斷器是否合格，包括：
若所述阻抗相似度系數(shù)和所述阻抗角相似度系數(shù)均大于預設閾值，則判定所述待檢測中壓熔斷器合格；
若所述阻抗相似度系數(shù)或所述阻抗角相似度系數(shù)小于或等于所述預設閾值，則判定所述待檢測中壓熔斷器不合格。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的中壓熔斷器質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述阻抗分析儀掃描所述待檢測中壓熔斷器的掃描頻率范圍為50Hz-120MHz。
5.一種中壓熔斷器質(zhì)量檢測裝置，其特征在于，包括：
掃描單元，用于通過阻抗分析儀掃描待檢測中壓熔斷器，得到所述待檢測中壓熔斷器的阻抗-頻率曲線和阻抗角-頻率曲線；
計算單元，用于根據(jù)所述待檢測中壓熔斷器的阻抗-頻率曲線、阻抗角-頻率曲線與標準中壓熔斷器的阻抗-頻率曲線、阻抗角-頻率曲線計算阻抗相似度系數(shù)和阻抗角相似度系數(shù)，所述標準中壓熔斷器為與所述待檢測中壓熔斷器同一型號的合格的中壓熔斷器；
判斷單元，用于根據(jù)所述阻抗相似度系數(shù)和所述阻抗角相似度系數(shù)的大小判斷所述待檢測中壓熔斷器是否合格。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的中壓熔斷器質(zhì)量檢測裝置，其特征在于，還包括：獲取單元，用于
根據(jù)所述待檢測中壓熔斷器的阻抗-頻率曲線獲取第一個阻抗極大值、該第一個阻抗極大值對應的第一頻率、阻抗由容性轉(zhuǎn)感性的轉(zhuǎn)折頻率以及該轉(zhuǎn)折頻率對應的阻抗極小值；
根據(jù)所述待檢測中壓熔斷器的第一個阻抗極大值、第一頻率、轉(zhuǎn)折頻率和阻抗極小值確定所述待檢測中壓熔斷器的內(nèi)部情況。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的中壓熔斷器質(zhì)量檢測裝置，其特征在于，所述判斷單元，具體用于：
若所述阻抗相似度系數(shù)和所述阻抗角相似度系數(shù)均大于預設閾值，則判定所述待檢測中壓熔斷器合格；
若所述阻抗相似度系數(shù)或所述阻抗角相似度系數(shù)小于或等于所述預設閾值，則判定所述待檢測中壓熔斷器不合格。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的中壓熔斷器質(zhì)量檢測裝置，其特征在于，所述阻抗分析儀掃描所述待檢測中壓熔斷器的掃描頻率范圍為50Hz-120MHz。
9.一種中壓熔斷器質(zhì)量檢測設備，其特征在于，所述設備包括處理器以及存儲器；
所述存儲器用于存儲程序代碼，并將所述程序代碼傳輸給所述處理器；
所述處理器用于根據(jù)所述程序代碼中的指令執(zhí)行權(quán)利要求1-4任一項所述的中壓熔斷器質(zhì)量檢測方法。
10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質(zhì)用于存儲程序代碼，所述程序代碼用于執(zhí)行權(quán)利要求1-4任一項所述的中壓熔斷器質(zhì)量檢測方法。
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