[發明專利]一種中壓熔斷器質量檢測方法、裝置、設備和介質

在審

• 申請號: 202110319557.1
• 申請日: 2021-03-25
• 公開（公告）號: CN113064008A
• 公開（公告）日: 2021-07-02
• 發明（設計）人: 王國慶;林博勇;鄭嘉禧;林創;王良;桑成磊;焦夏男;熊俊
• 申請（專利權）人: 廣東電網有限責任公司廣州供電局
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R27/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 黃忠

本申請公開了一種中壓熔斷器質量檢測方法、裝置、設備和介質，通過阻抗分析儀掃描待檢測中壓熔斷器，得到待檢測中壓熔斷器的阻抗?頻率曲線和阻抗角?頻率曲線，再根據待檢測中壓熔斷器和標準中壓熔斷器的阻抗?頻率曲線、阻抗角?頻率曲線計算阻抗相似度系數和阻抗角相似度系數，最終根據阻抗相似度系數和阻抗角相似度系數的大小判斷待檢測中壓熔斷器是否合格。本申請解決了現有技術采用額定電流溫升實驗法進行熔斷器質量檢測，該方法需要很多專業設備，測試過程復雜，耗時較長，且容易受到實驗條件的影響，導致不同測試人員的測試結果分散性大，測試結果誤差較大的技術問題。

技術領域

本申請涉及質量檢測技術領域，尤其涉及一種中壓熔斷器質量檢測方法、裝置、設備和介質。

背景技術

中壓熔斷器作為中壓配電系統中的保護裝置，在中壓配電系統中發揮著重要的作用。因此，需要對檢測中壓熔斷器進行質量檢測。現有技術采用額定電流溫升實驗法，該方法需要很多專業設備，測試過程復雜，耗時較長，且容易受到實驗條件(如實驗室溫度、濕度，通流的穩定性、熔斷器兩端底座的接觸面積、接觸壓力等)的影響，導致不同測試人員的測試結果分散性大，測試結果誤差較大。

發明內容

本申請提供了一種中壓熔斷器質量檢測方法、裝置、設備和介質，用于解決現有技術采用額定電流溫升實驗法進行熔斷器質量檢測，該方法需要很多專業設備，測試過程復雜，耗時較長，且容易受到實驗條件的影響，導致不同測試人員的測試結果分散性大，測試結果誤差較大的技術問題。

有鑒于此，本申請第一方面提供了一種中壓熔斷器質量檢測方法，包括：

通過阻抗分析儀掃描待檢測中壓熔斷器，得到所述待檢測中壓熔斷器的阻抗-頻率曲線和阻抗角-頻率曲線；

根據所述待檢測中壓熔斷器的阻抗-頻率曲線、阻抗角-頻率曲線與標準中壓熔斷器的阻抗-頻率曲線、阻抗角-頻率曲線計算阻抗相似度系數和阻抗角相似度系數，所述標準中壓熔斷器為與所述待檢測中壓熔斷器同一型號的合格的中壓熔斷器；

根據所述阻抗相似度系數和所述阻抗角相似度系數的大小判斷所述待檢測中壓熔斷器是否合格。

可選的，所述方法還包括：

根據所述待檢測中壓熔斷器的阻抗-頻率曲線獲取第一個阻抗極大值、該第一個阻抗極大值對應的第一頻率、阻抗由容性轉感性的轉折頻率以及該轉折頻率對應的阻抗極小值；

根據所述待檢測中壓熔斷器的第一個阻抗極大值、第一頻率、轉折頻率和阻抗極小值確定所述待檢測中壓熔斷器的內部情況。

可選的，所述根據所述阻抗相似度系數和所述阻抗角相似度系數的大小判斷所述待檢測中壓熔斷器是否合格，包括：

若所述阻抗相似度系數和所述阻抗角相似度系數均大于預設閾值，則判定所述待檢測中壓熔斷器合格；

若所述阻抗相似度系數或所述阻抗角相似度系數小于或等于所述預設閾值，則判定所述待檢測中壓熔斷器不合格。

可選的，所述阻抗分析儀掃描所述待檢測中壓熔斷器的掃描頻率范圍為50Hz-120MHz。

本申請第二方面提供了一種中壓熔斷器質量檢測裝置，包括：

掃描單元，用于通過阻抗分析儀掃描待檢測中壓熔斷器，得到所述待檢測中壓熔斷器的阻抗-頻率曲線和阻抗角-頻率曲線；

計算單元，用于根據所述待檢測中壓熔斷器的阻抗-頻率曲線、阻抗角-頻率曲線與標準中壓熔斷器的阻抗-頻率曲線、阻抗角-頻率曲線計算阻抗相似度系數和阻抗角相似度系數，所述標準中壓熔斷器為與所述待檢測中壓熔斷器同一型號的合格的中壓熔斷器；

判斷單元，用于根據所述阻抗相似度系數和所述阻抗角相似度系數的大小判斷所述待檢測中壓熔斷器是否合格。