[發(fā)明專(zhuān)利]一種面板缺陷檢測(cè)設(shè)備及面板缺陷檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110316947.3 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113176278B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-07-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王紹凱;黃運(yùn);蔣荷潔;譚久彬 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 哈工大機(jī)器人(中山)無(wú)人裝備與人工智能研究院 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/95 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/95;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京隆源天恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11473 | 代理人: | 段守富 |
| 地址: | 528400 廣東省中山市翠亨新區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 面板 缺陷 檢測(cè) 設(shè)備 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種面板缺陷檢測(cè)設(shè)備及面板缺陷檢測(cè)方法,涉及面板缺陷檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,該設(shè)備包括承載機(jī)構(gòu)、龍門(mén)、初掃組件和復(fù)掃組件,所述龍門(mén)橫跨設(shè)于所述承載機(jī)構(gòu)上并與所述承載機(jī)構(gòu)具有一定間隙,所述初掃組件和所述復(fù)掃組件分別設(shè)于同一個(gè)所述龍門(mén)上。通過(guò)將初掃組件和復(fù)掃組件設(shè)于同一個(gè)龍門(mén)上,從而使初掃組件與復(fù)掃組件之間的距離縮小,進(jìn)而可降低待檢測(cè)板面板的運(yùn)動(dòng)行程,從而降低了單個(gè)面板檢測(cè)所用的時(shí)間,提高面板缺陷掃描的效率;另外,由于初掃組件和復(fù)掃組件設(shè)于同一個(gè)龍門(mén)上,因此,統(tǒng)一了初掃基準(zhǔn)面與復(fù)掃基準(zhǔn)面,消除了因基準(zhǔn)面不一致產(chǎn)生的轉(zhuǎn)換誤差,提高了整機(jī)精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及面板缺陷檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種面板缺陷檢測(cè)設(shè)備及面板缺陷檢測(cè)方法。
背景技術(shù)
目前,液晶顯示面板在制造過(guò)程中可能會(huì)產(chǎn)生諸多缺陷,這些缺陷大致可分為宏觀缺陷與微觀缺陷,其中微觀缺陷難以用肉眼檢測(cè)出來(lái)。
因此,為了檢測(cè)面板的微觀缺陷,市面上出現(xiàn)了相應(yīng)的面板缺陷檢測(cè)設(shè)備,現(xiàn)有的面板缺陷檢測(cè)設(shè)備包括初掃相機(jī)、復(fù)掃相機(jī)和兩個(gè)龍門(mén),初掃相機(jī)和復(fù)掃相機(jī)分別布置在兩個(gè)具有一定距離的龍門(mén)上,初掃相機(jī)進(jìn)行初掃,復(fù)掃相機(jī)進(jìn)行復(fù)掃,為了使初掃相機(jī)和復(fù)掃相機(jī)都能掃描待檢測(cè)面板,則需要待檢測(cè)面板具有較長(zhǎng)的來(lái)回運(yùn)動(dòng)行程,因此,單個(gè)面板的檢測(cè)時(shí)間較長(zhǎng),待檢測(cè)面板的檢測(cè)效率較低。另外,由于初掃相機(jī)和復(fù)掃相機(jī)分布于不同的龍門(mén)上,而兩個(gè)龍門(mén)的高度和平行度可能不同,則初掃相機(jī)和復(fù)掃相機(jī)的基準(zhǔn)面可能不一致,則容易出現(xiàn)轉(zhuǎn)換誤差,影響圖像的采集效果。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決的問(wèn)題是待檢測(cè)面板的檢測(cè)效率較低及初掃相機(jī)和復(fù)掃相機(jī)的基準(zhǔn)面不一致帶來(lái)的轉(zhuǎn)換誤差。
為解決上述問(wèn)題,本發(fā)明第一方面提供一種面板缺陷檢測(cè)設(shè)備,包括承載機(jī)構(gòu)、龍門(mén)、初掃組件和復(fù)掃組件,所述承載機(jī)構(gòu)用于承載待檢測(cè)面板并驅(qū)動(dòng)所述待檢測(cè)面板運(yùn)動(dòng),所述龍門(mén)橫跨設(shè)于所述承載機(jī)構(gòu)上并與所述承載機(jī)構(gòu)具有一定間隙,所述初掃組件和所述復(fù)掃組件分別設(shè)于同一所述龍門(mén)上,且所述初掃組件和所述復(fù)掃組件適于在所述龍門(mén)上移動(dòng),所述初掃組件用于掃描所述待檢測(cè)面板,所述復(fù)掃組件用于對(duì)所述待檢測(cè)面板進(jìn)行復(fù)檢。
通過(guò)將初掃組件和復(fù)掃組件設(shè)于同一個(gè)龍門(mén)上,從而使初掃組件與復(fù)掃組件之間的距離縮小,進(jìn)而可降低待檢測(cè)板面板的運(yùn)動(dòng)行程,從而降低了單個(gè)面板檢測(cè)所用的時(shí)間,提高面板缺陷掃描的效率;另外,由于初掃組件和復(fù)掃組件設(shè)于同一個(gè)龍門(mén)上,因此,初掃組件和復(fù)掃組件在同一龍門(mén)上移動(dòng),這里初掃組件移動(dòng)的基準(zhǔn)和復(fù)掃組件移動(dòng)的基準(zhǔn)是同一個(gè)龍門(mén),則初掃組件和復(fù)掃組件基準(zhǔn)是統(tǒng)一的,因此統(tǒng)一了初掃基準(zhǔn)面與復(fù)掃基準(zhǔn)面,消除了因基準(zhǔn)面不一致產(chǎn)生的轉(zhuǎn)換誤差,提高了整機(jī)精度,進(jìn)而提高了最終的圖像采集效果。
進(jìn)一步地,所述初掃組件和所述復(fù)掃組件設(shè)于所述龍門(mén)的相對(duì)兩側(cè)面上。
進(jìn)一步地,所述承載機(jī)構(gòu)包括氣浮平臺(tái),所述氣浮平臺(tái)用于懸浮支撐所述待檢測(cè)面板。
進(jìn)一步地,所述氣浮平臺(tái)包括第一氣浮平臺(tái)和兩個(gè)第二氣浮平臺(tái),所述第一氣浮平臺(tái)設(shè)于兩個(gè)所述第二氣浮平臺(tái)之間,所述第一氣浮平臺(tái)和兩個(gè)所述第二氣浮平臺(tái)適于懸浮支撐所述待檢測(cè)面板,所述初掃組件和/或所述復(fù)掃組件掃描所述待檢測(cè)面板時(shí),所述待檢測(cè)面板懸浮于所述第一氣浮平臺(tái)上。
所述第二氣浮平臺(tái)包括多個(gè)氣浮條,各所述氣浮條平行且間隔設(shè)置,所述氣浮條用于懸浮支撐所述待檢測(cè)面板。
進(jìn)一步地,所述承載機(jī)構(gòu)包括夾持機(jī)構(gòu),所述夾持機(jī)構(gòu)用于帶動(dòng)所述待檢測(cè)面板在所述承載機(jī)構(gòu)上運(yùn)動(dòng)。
進(jìn)一步地,所述夾持機(jī)構(gòu)包括精密定位裝置,所述精密定位裝置適于垂向吸附所述待檢測(cè)面板,并適于帶動(dòng)所述待檢測(cè)面板移動(dòng)。
進(jìn)一步地,所述承載機(jī)構(gòu)還包括預(yù)定位機(jī)構(gòu),所述預(yù)定位機(jī)構(gòu)用于對(duì)所述待檢測(cè)面板進(jìn)行預(yù)定位。
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- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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