[發明專利]一種模擬電路自校準系統及方法

有效

• 申請號: 202110314747.4
• 申請日: 2021-03-24
• 公開（公告）號: CN113055005B
• 公開（公告）日: 2022-04-22
• 發明（設計）人: 葛亮宏;王翔;劉吉平
• 申請（專利權）人: 深圳市航順芯片技術研發有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所(普通合伙) 44268
• 代理人: 劉芙蓉

本發明公開了一種模擬電路自校準系統及方法，所述模擬電路自校準系統包括數字校準模塊、檢測模塊和模擬電路模塊，檢測模塊用于獲取所述模擬電路模塊當前的待校準參數，并根據當前的待校準參數輸出檢測信號至數字校準模塊；數字校準模塊用于輸出與當前的待校準參數對應的校準值至所述模擬電路模塊，并根據檢測信號確定當前的待校準參數是否達到目標值，若否則根據所述檢測信號調節所述校準值，直到當前的待校準參數達到目標值，通過所述檢測模塊對待校準參數的檢測，確保了能夠實時了解到當前的待校準參數的變化，之后根據檢測的結果來校準待校準參數，能夠確保即使在模擬電路模塊的工作環境發生變化時模擬電路模塊的參數的準確性。

技術領域

本發明涉及集成電路技術領域，特別涉及一種模擬電路自校準系統及方法。

背景技術

在模擬電路中，電路參數會隨著工藝和工作環境(電源電壓，溫度，濕度等)而變化，因此在實際使用中為了確保模擬電路的電路參數的準確性需要對電路參數進行校準；現有的校準方法中采用在出廠終測時進行校準，但是在出廠終測時進行校準只是工作時一個特例，該參數可能會隨著工作環境的變化而變化，不能夠根據需要隨時校準。

因而現有技術還有待改進和提高。

發明內容

本發明的目的在于提供的一種模擬電路子校準系統及方法，能夠有效解決現有的校準方法中不能夠隨著工作環境的改變而隨時校準的問題。

為了達到上述目的，本發明采取了以下技術方案：

一種模擬電路自校準系統，包括數字校準模塊、檢測模塊和模擬電路模塊；

所述檢測模塊用于獲取所述模擬電路模塊當前的待校準參數，并根據當前的待校準參數輸出檢測信號至所述數字校準模塊；

所述數字校準模塊用于輸出與當前的待校準參數對應的校準值至所述模擬電路模塊，并根據檢測信號確定當前的待校準參數是否達到目標值，若否則根據所述檢測信號調節所述校準值，直到當前的待校準參數達到目標值。

所述的模擬電路自校準系統中，所述模擬電路模塊包括M個子電路，M為不小于1的正整數；所述檢測模塊具體用于依次獲取M個子電路的待校準參數，并根據當前子電路的待校準參數輸出檢測信號至所述數字校準模塊。

所述的模擬電路自校準系統中，所述數字校準模塊具體用于輸出與當前子電路的待校準參數對應的校準值至當前子電路，并根據檢測信號確定當前子電路的待校準參數是否達到目標值，若否，則根據所述檢測信號調節所述校準值，直到當前子電路的待校準參數達到目標值。

所述的模擬電路自校準系統中，所述數字校準模塊具體還用于在當前子電路的待校準參數達到目標值后，再對下一個子電路的待校準參數進行校準，直到M個子電路均校準完成。

所述的模擬電路自校準系統中，每個所述子電路設置有N個待校準參數，N為不小于1的正整數；所述檢測模塊具體用于依次獲取每個子電路中的N個待校準參數，并根據當前子電路的當前待校準參數輸出檢測信號至所述數字校準模塊。

所述的模擬電路自校準系統中，所述數字校準模塊具體還用于在當前子電路的當前待校準參數達到目標值后，對當前子電路的下一個待校準參數進行校準，直到當前子電路的N個待校準值均校準完成。

所述的模擬電路自校準系統中，所述待校準參數為K階參數，K為不小于1的正整數，所述模擬電路自校準系統還包括M*N～M*N*K個參數校準接口，每個所述參數校準接口用于傳輸與所述參數校準接口相應的校準值。所述的模擬電路自校準系統中，所述模擬電路自校準系統還包括M個校準使能接口，所述校準使能接口用于傳輸所述數字校準模塊與各個所述子電路之間的校準使能信號。

一種模擬電路自校準方法，包括如下步驟：

由檢測模塊獲取模擬電路模塊當前的待校準參數，并根據當前的待校準參數輸出檢測信號至數字校準模塊；