[發(fā)明專(zhuān)利]一種模擬電路自校準(zhǔn)系統(tǒng)及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110314747.4
• 申請(qǐng)日: 2021-03-24
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113055005B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-04-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 葛亮宏;王翔;劉吉平
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 深圳市航順芯片技術(shù)研發(fā)有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): H03M1/10
• 分類(lèi)號(hào): H03M1/10
• 代理公司: 深圳市君勝知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44268
• 代理人: 劉芙蓉

1.一種模擬電路自校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，包括數(shù)字校準(zhǔn)模塊、檢測(cè)模塊和模擬電路模塊；所述檢測(cè)模塊用于獲取所述模擬電路模塊當(dāng)前的待校準(zhǔn)參數(shù)，并根據(jù)當(dāng)前的待校準(zhǔn)參數(shù)輸出檢測(cè)信號(hào)至所述數(shù)字校準(zhǔn)模塊；

所述數(shù)字校準(zhǔn)模塊用于輸出與當(dāng)前的待校準(zhǔn)參數(shù)對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)值至所述模擬電路模塊，并根據(jù)檢測(cè)信號(hào)確定當(dāng)前的待校準(zhǔn)參數(shù)是否達(dá)到目標(biāo)值，若否則根據(jù)所述檢測(cè)信號(hào)調(diào)節(jié)所述校準(zhǔn)值，直到當(dāng)前的待校準(zhǔn)參數(shù)達(dá)到目標(biāo)值；

所述模擬電路模塊包括M個(gè)子電路，M為不小于1的正整數(shù)；所述檢測(cè)模塊具體用于依次獲取M個(gè)子電路的待校準(zhǔn)參數(shù)，并根據(jù)當(dāng)前子電路的待校準(zhǔn)參數(shù)輸出檢測(cè)信號(hào)至所述數(shù)字校準(zhǔn)模塊；

所述檢測(cè)模塊啟動(dòng)開(kāi)始檢測(cè)所述模擬電路模塊當(dāng)前的待校準(zhǔn)參數(shù)，將待校準(zhǔn)參數(shù)與參考基準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行比較后輸出一個(gè)檢測(cè)信號(hào)至數(shù)字校準(zhǔn)模塊；

所述數(shù)字校準(zhǔn)模塊具體用于輸出與當(dāng)前子電路的待校準(zhǔn)參數(shù)對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)值至當(dāng)前子電路，并根據(jù)檢測(cè)信號(hào)確定當(dāng)前子電路的待校準(zhǔn)參數(shù)是否達(dá)到目標(biāo)值，若否，則根據(jù)所述檢測(cè)信號(hào)調(diào)節(jié)所述校準(zhǔn)值，直到當(dāng)前子電路的待校準(zhǔn)參數(shù)達(dá)到目標(biāo)值；

所述模擬電路自校準(zhǔn)系統(tǒng)還包括M個(gè)校準(zhǔn)使能接口，所述校準(zhǔn)使能接口用于傳輸所述數(shù)字校準(zhǔn)模塊與各個(gè)所述子電路之間的校準(zhǔn)使能信號(hào)；

所述模擬電路自校準(zhǔn)系統(tǒng)還包括子電路單獨(dú)控制校準(zhǔn)端口，通過(guò)所述子電路單獨(dú)控制校準(zhǔn)端口來(lái)接收校準(zhǔn)使能信號(hào)和校準(zhǔn)時(shí)鐘，實(shí)現(xiàn)對(duì)每個(gè)子電路的參數(shù)的單獨(dú)校準(zhǔn)，或?qū)崿F(xiàn)同時(shí)校準(zhǔn)不同子電路的不同參數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模擬電路自校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)字校準(zhǔn)模塊具體還用于在當(dāng)前子電路的待校準(zhǔn)參數(shù)達(dá)到目標(biāo)值后，再對(duì)下一個(gè)子電路的待校準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行校準(zhǔn)，直到M個(gè)子電路均校準(zhǔn)完成。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的模擬電路自校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，每個(gè)所述子電路設(shè)置有N個(gè)待校準(zhǔn)參數(shù)，N為不小于1的正整數(shù)；所述檢測(cè)模塊具體用于依次獲取每個(gè)子電路中的N個(gè)待校準(zhǔn)參數(shù)，并根據(jù)當(dāng)前子電路的當(dāng)前待校準(zhǔn)參數(shù)輸出檢測(cè)信號(hào)至所述數(shù)字校準(zhǔn)模塊。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的模擬電路自校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)字校準(zhǔn)模塊具體還用于在當(dāng)前子電路的當(dāng)前待校準(zhǔn)參數(shù)達(dá)到目標(biāo)值后，對(duì)當(dāng)前子電路的下一個(gè)待校準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行校準(zhǔn)，直到當(dāng)前子電路的N個(gè)待校準(zhǔn)值均校準(zhǔn)完成。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模擬電路自校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，所述待校準(zhǔn)參數(shù)為K階參數(shù)，K為不小于1的正整數(shù)，所述模擬電路自校準(zhǔn)系統(tǒng)還包括M*N～M*N*K個(gè)參數(shù)校準(zhǔn)接口，每個(gè)所述參數(shù)校準(zhǔn)接口用于傳輸與所述參數(shù)校準(zhǔn)接口相應(yīng)的校準(zhǔn)值。

6.一種模擬電路自校準(zhǔn)方法，其特征在于，包括如下步驟：

由檢測(cè)模塊獲取模擬電路模塊當(dāng)前的待校準(zhǔn)參數(shù)，并根據(jù)當(dāng)前的待校準(zhǔn)參數(shù)輸出檢測(cè)信號(hào)至數(shù)字校準(zhǔn)模塊；

由數(shù)字校準(zhǔn)模塊輸出與當(dāng)前的待校準(zhǔn)參數(shù)對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)值至所述模擬電路模塊，并根據(jù)檢測(cè)信號(hào)確定當(dāng)前的待校準(zhǔn)參數(shù)是否達(dá)到目標(biāo)值，若否則根據(jù)所述檢測(cè)信號(hào)調(diào)節(jié)所述校準(zhǔn)值，直到當(dāng)前的待校準(zhǔn)參數(shù)達(dá)到目標(biāo)值；

所述模擬電路模塊包括M個(gè)子電路，M為大于1的正整數(shù)；所述由檢測(cè)模塊獲取模擬電路模塊當(dāng)前的待校準(zhǔn)參數(shù)的步驟包括：由檢測(cè)模塊依次獲取M個(gè)子電路的待校準(zhǔn)參數(shù)，并根據(jù)當(dāng)前子電路的待校準(zhǔn)參數(shù)和參考基準(zhǔn)信號(hào)輸出檢測(cè)信號(hào)至數(shù)字校準(zhǔn)模塊；

由所述檢測(cè)模塊啟動(dòng)開(kāi)始檢測(cè)所述模擬電路模塊當(dāng)前的待校準(zhǔn)參數(shù)，將待校準(zhǔn)參數(shù)與參考基準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行比較后輸出一個(gè)檢測(cè)信號(hào)至數(shù)字校準(zhǔn)模塊；

由所述數(shù)字校準(zhǔn)模塊輸出與當(dāng)前子電路的待校準(zhǔn)參數(shù)對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)值至當(dāng)前子電路，并根據(jù)檢測(cè)信號(hào)確定當(dāng)前子電路的待校準(zhǔn)參數(shù)是否達(dá)到目標(biāo)值，若否，則根據(jù)所述檢測(cè)信號(hào)調(diào)節(jié)所述校準(zhǔn)值，直到當(dāng)前子電路的待校準(zhǔn)參數(shù)達(dá)到目標(biāo)值；

由校準(zhǔn)使能接口傳輸所述數(shù)字校準(zhǔn)模塊與各個(gè)所述子電路之間的校準(zhǔn)使能信號(hào)；

由所述子電路單獨(dú)控制校準(zhǔn)端口來(lái)接收校準(zhǔn)使能信號(hào)和校準(zhǔn)時(shí)鐘，實(shí)現(xiàn)對(duì)每個(gè)子電路的參數(shù)的單獨(dú)校準(zhǔn)，或?qū)崿F(xiàn)同時(shí)校準(zhǔn)不同子電路的不同參數(shù)。