[發明專利]一種手機保護膜平整度檢測裝置

在審

• 申請號: 202110313433.2
• 申請日: 2021-03-24
• 公開（公告）號: CN112902882A
• 公開（公告）日: 2021-06-04
• 發明（設計）人: 黃江;賴學輝;師文慶;謝玉萍;王文華;安芬菊
• 申請（專利權）人: 廣東海洋大學
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30
• 代理公司: 北京高沃律師事務所 11569
• 代理人: 王愛濤

本發明公開了一種手機保護膜平整度檢測裝置，包括：激光器、分光鏡、第一平面鏡、第二平面鏡以及CCD成像系統，該裝置基于邁克爾遜干涉儀的原理，檢測手機保護膜平整度，即CCD成像系統獲得的干涉條紋呈標準的圓形，所述待檢測的手機膜平整；干涉條紋呈非標準圓形，待檢測的手機膜不平整。本發明提供的裝置檢測精度超過40nm，遠超目前的檢測精度標準。

技術領域

本發明涉及邁克爾遜干涉儀領域，特別是涉及一種手機保護膜平整度檢測裝置。

背景技術

手機保護膜(或其他鏡頭保護膜)對手機起保護作用，不僅可以有效的防止靜電、灰塵，還能提高手機屏幕的抗摔能力，延長手機的使用壽命。現在人手一部手機，一部手機便有一副手機保護膜。因此，手機保護膜的使用量相當大，手機保護膜的質量顯得尤為重要。

手機保護膜有一定制作要求，其中，厚度是一個極為重要的指標。目前市面上的手機保護膜大致有3種規格：0.4mm、0.33mm和0.22mm。以0.4mm厚的手機保護膜為例，若該保護膜不均勻，厚度有萬分之一的漲落，對應的厚度漲落則為40nm。可見光的波長范圍為400nm--700nm，本處以400nm為例。40nm有1/10個可見光波長，此差別會引起手機保護膜上下表面的干涉現象，從而造成手機花屏。手機花屏現象是手機保護膜常見的問題。如果能嚴格檢測手機膜厚度，則可以保證手機保護膜的質量。

發明內容

基于此，本發明提供了一種手機保護膜平整度檢測裝置。

為實現上述目的，本發明提供了如下方案：

一種手機保護膜平整度檢測裝置，包括：

激光器，用于發出單色紅光；

凸透鏡，設置在所述激光器的出射光路上，用于將所述單色紅光變為平行光；

分光鏡，設置在所述凸透鏡的出射光路上，用于將所述平行光分成兩部分，為第一反射光和第一透射光；

第一平面鏡，設置在所述第一透射光的光路上，用于對所述第一透射光進行反射，并經所述分光鏡反射，得到第二反射光；

第二平面鏡，設置在所述第一反射光的光路上，所述第二平面鏡和所述分光鏡中間放置待檢測的手機膜；所述第二平面鏡用于對所述第一反射光進行反射，并經所述分光鏡透射，得到第二透射光；

CCD成像系統，設置在所述第二反射光以及所述第二透射光的光路上，用于獲得所述第二反射光和所述第二透射光疊加后的干涉條紋。

進一步地，所述激光器為He-Ne激光器。

進一步地，，所述分光鏡為半反半透鏡。

進一步地，，所述分光鏡和所述第一平面鏡中間設置有補償鏡，所述補償鏡用于補償光路中的光程。

進一步地，若所述干涉條紋呈標準的圓形，則表示所述待檢測的手機膜平整；若所述干涉條紋呈非標準圓形，則表示所述待檢測的手機膜不平整。

根據本發明提供的具體實施例，本發明公開了以下技術效果：

本發明提供了一種手機保護膜平整度檢測裝置，包括：激光器、分光鏡、第一平面鏡、第二平面鏡以及CCD成像系統，該裝置基于邁克爾遜干涉儀的原理，檢測手機保護膜平整度，即CCD成像系統獲得的干涉條紋呈標準的圓形，所述待檢測的手機膜平整；干涉條紋呈非標準圓形，待檢測的手機膜不平整。本發明提供的裝置檢測精度超過40nm，遠超目前的檢測精度標準。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。