[發明專利]一種手機保護膜平整度檢測裝置在審
| 申請號： | 202110313433.2 | 申請日： | 2021-03-24 |
| 公開（公告）號： | CN112902882A | 公開（公告）日： | 2021-06-04 |
| 發明（設計）人： | 黃江;賴學輝;師文慶;謝玉萍;王文華;安芬菊 | 申請（專利權）人： | 廣東海洋大學 |
| 主分類號： | G01B11/30 | 分類號： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 北京高沃律師事務所 11569 | 代理人： | 王愛濤 |
| 地址： | 518108 *** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 手機 保護膜 平整 檢測 裝置 | ||
1.一種手機保護膜平整度檢測裝置，其特征在于，包括：
激光器，用于發出單色紅光；
凸透鏡，設置在所述激光器的出射光路上，用于將所述單色紅光變為平行光；
分光鏡，設置在所述凸透鏡的出射光路上，用于將所述平行光分成兩部分，為第一反射光和第一透射光；
第一平面鏡，設置在所述第一透射光的光路上，用于對所述第一透射光進行反射，并經所述分光鏡反射，得到第二反射光；
第二平面鏡，設置在所述第一反射光的光路上，所述第二平面鏡和所述分光鏡中間放置待檢測的手機膜；所述第二平面鏡用于對所述第一反射光進行反射，并經所述分光鏡透射，得到第二透射光；
CCD成像系統，設置在所述第二反射光以及所述第二透射光的光路上，用于獲得所述第二反射光和所述第二透射光疊加后的干涉條紋；基于所述干涉條紋判斷所述待檢測的手機膜是否平整。
2.根據權利要求1所述的手機保護膜平整度檢測裝置，其特征在于，所述激光器為He-Ne激光器。
3.根據權利要求1所述的手機保護膜平整度檢測裝置，其特征在于，所述分光鏡為半反半透鏡。
4.根據權利要求1所述的手機保護膜平整度檢測裝置，其特征在于，所述分光鏡和所述第一平面鏡中間設置有補償鏡，所述補償鏡用于補償光路中的光程。
5.根據權利要求1所述的手機保護膜平整度檢測裝置，其特征在于，若所述干涉條紋呈標準的圓形，則表示所述待檢測的手機膜平整；若所述干涉條紋呈非標準圓形，則表示所述待檢測的手機膜不平整。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于廣東海洋大學，未經廣東海洋大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110313433.2/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
