[發明專利]強度分布的光學測定方法

在審

• 申請號: 202110308584.9
• 申請日: 2021-03-23
• 公開（公告）號: CN113433393A
• 公開（公告）日: 2021-09-24
• 發明（設計）人: P·尼茨;A·海姆薩特;P·肖特爾;G·伯恩;M·比特林;T·施密特
• 申請（專利權）人: 弗勞恩霍夫應用研究促進協會
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08
• 代理公司: 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙) 11447
• 代理人: 南毅寧

本公開涉及一種強度分布光學測定方法，包括：通過有源或無源輻射源產生空間不均勻的輻射場；圖像傳感器和輻射源之間產生第一相對運動，使輻射場沿著第一測量軌跡在圖像傳感器的傳感器場上運動，使圖像傳感器被輻射場的第一測量軌跡區域掃過，記錄輻射場的包括多個位置分辨圖像的第一圖像集；圖像傳感器和輻射源之間產生第二相對運動，使輻射場沿第二測量軌跡在所述傳感器場上運動，使圖像傳感器被輻射場的第二測量軌跡區域掃過，記錄輻射場的包括多個位置分辨圖像的第二圖像集；至少在第一測量軌跡區域和第二測量軌跡區域的評估線的交點處評估位置分辨圖像；為每個圖像集，至少對每個交點確定特征灰度值；至少在交點的子集處確定相對強度分布。

技術領域

本公開涉及光學測定領域，具體地，涉及一種強度分布的光學測定方法。

背景技術

確定空間不均勻的輻射場的強度分布對于大量應用是合乎需求的。

例如在要校準位置分辨圖像的傳感器的應用中就是這種情況。這種過程例如在攝影中被稱為白圖像校正。在白圖像校正的一個簡單的設計方案中，假設具有均勻輻射場的輻射面，并且將各個圖像傳感器的信號的差異評估為系統誤差，在隨后使用相機時所述系統誤差將被相應地校正。

同樣已知其中要求出輻射場的不均勻性的應用。在此，相反地，需要假設一個均勻接收或校準過的位置分辨圖像傳感器，以使得可以將檢測到的強度中的位置差異與輻射場的不均勻性相關聯。

從US 2014/184813已知用于測量相機的白圖像的方法。從US 2004/246274已知用于測量顯示器的輻射行為的方法。

發明內容

本公開的目的是：提供一種強度分布光學測定方法，該方法不復雜且同時不受誤差干擾。

根據本公開的強度分布光學測定方法具有以下方法步驟：

A)通過有源輻射源或無源輻射源產生空間不均勻的電磁輻射場；

B)在位置分辨圖像傳感器和輻射源之間產生第一相對運動，使得輻射場沿著第一測量軌跡在圖像傳感器的傳感器場上運動，以使圖像傳感器被輻射場的第一測量軌跡區域掃過；

C)在第一相對運動期間，通過圖像傳感器記錄輻射場的多個位置分辨圖像，得到第一圖像集；

D)在圖像傳感器和輻射源之間產生第二相對運動，使得輻射場沿第二測量軌跡在圖像傳感器的傳感器場上運動，以使圖像傳感器被輻射場的第二測量軌跡區域掃過，

其中，第二測量軌跡不同于第一測量軌跡，并且選擇為，使得第一測量軌跡至少局部地不平行于第二測量軌跡；

E)在第二相對運動期間，通過圖像傳感器記錄輻射場的多個位置分辨圖像，得到第二圖像集；

F)至少在交點處評估第一圖像集和第二圖像集的位置分辨圖像，所述交點的位置點通過評估線限定，其中第一組評估線在第一測量軌跡區域內預設和/或確定，并且至少一個第二組評估線在第二測量軌跡區域之內預設和/或確定，

其中至少第一組評估線中具有至少兩條彼此隔開的評估線，

并且，第一組評估線的每條評估線與第二組評估線的至少一條評估線具有交點，

其中，為每個圖像集，至少對于每個交點確定特征灰度值；

G)至少在交點的子集處確定相對強度分布，以表征圖像傳感器和/或輻射場。