[發(fā)明專利]一種用于顯示面板復檢的方法、裝置及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110295331.2 | 申請日: | 2021-03-19 |
| 公開(公告)號: | CN113176275B | 公開(公告)日: | 2022-02-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王紹凱;羅川淦;金鑫;譚久彬 | 申請(專利權(quán))人: | 哈工大機器人(中山)無人裝備與人工智能研究院 |
| 主分類號: | G01N21/95 | 分類號: | G01N21/95;G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京隆源天恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11473 | 代理人: | 徐蘇明 |
| 地址: | 528400 廣東省中山市翠亨新區(qū)*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 顯示 面板 復檢 方法 裝置 系統(tǒng) | ||
本申請?zhí)峁┝艘环N用于顯示面板復檢的方法、裝置及系統(tǒng),涉及顯示面板檢測技術(shù)領(lǐng)域。本申請的用于顯示面板復檢的方法,包括:缺陷評價結(jié)果獲取階段和待檢測顯示面板復檢階段;缺陷評價結(jié)果獲取階段包括:根據(jù)顯示面板的掃描圖像確定第一缺陷評分;從第一候選缺陷中篩選第二候選缺陷,根據(jù)復檢圖像確定第二缺陷評分;根據(jù)第一缺陷評分和第二缺陷評分確定各類缺陷的缺陷評價結(jié)果;待檢測顯示面板復檢階段包括:獲取待檢測顯示面板的掃描圖像,并根據(jù)掃描圖像確定缺陷和各缺陷的類型;根據(jù)預先獲取的缺陷評價結(jié)果確定需復檢類缺陷,從上述缺陷中挑選需復檢類缺陷進行復檢。本申請的技術(shù)方案,能夠極大提高復檢的效率,并同時兼顧缺陷檢測的準確性。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及顯示面板檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種用于顯示面板復檢的方法、裝置及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
隨著電子技術(shù)、圖像傳感技術(shù)和計算機技術(shù)的快速發(fā)展,利用基于光學圖像傳感的表面缺陷自動光學(視覺)檢測技術(shù)(automatically optical inspection,AOI)取代人工目視檢測表面缺陷,已逐漸成為表面缺陷檢測的重要手段。
對于較大尺寸的面板,多采用高分辨率線掃相機和高分辨率面陣相機相結(jié)合的方式檢測,一般分為掃描與復檢階段。檢測步驟一般為線掃相機對整個顯示面板進行圖像采集,并通過初檢階段的圖像處理算法獲取候選缺陷位置信息,面陣相機根據(jù)候選缺陷位置信息與候選缺陷設(shè)定的數(shù)量進行運動以及圖像采集,最后根據(jù)復檢階段的圖像處理算法對候選缺陷進行檢測分類處理,最終確定缺陷。
目前在顯示面板檢測在復檢時,一般只根據(jù)設(shè)定的候選缺陷數(shù)量進行復檢,無法完全覆蓋所有候選缺陷,如果要設(shè)定所有候選缺陷復檢,那么檢測效率將會十分低下。
發(fā)明內(nèi)容
本申請解決的問題是如何檢測全部缺陷同時保證檢測效率。
為解決上述問題,本申請?zhí)峁┮环N用于顯示面板復檢的方法,包括:缺陷評價結(jié)果獲取階段和待檢測顯示面板復檢階段;所述缺陷評價結(jié)果獲取階段包括:根據(jù)顯示面板的掃描圖像確定所述掃描圖像的第一候選缺陷,根據(jù)所述第一候選缺陷確定裁剪圖像,根據(jù)所述裁剪圖像確定第一缺陷評分;從所述第一候選缺陷中篩選第二候選缺陷,根據(jù)所述第二候選缺陷的坐標位置移動復檢相機以采集復檢圖像,根據(jù)所述復檢圖像確定第二缺陷評分;根據(jù)所述第一缺陷評分和所述第二缺陷評分確定各類缺陷的缺陷評價結(jié)果;所述待檢測顯示面板復檢階段包括:獲取待檢測顯示面板的掃描圖像,并根據(jù)所述掃描圖像確定缺陷和各缺陷的類型;根據(jù)預先獲取的缺陷評價結(jié)果確定需復檢類缺陷,從上述缺陷中挑選需復檢類缺陷進行復檢。
本申請所述的用于顯示面板復檢的方法,通過掃描圖像確定的第一缺陷評分和復檢圖像確定的第二缺陷評分來確定各類缺陷的缺陷評價結(jié)果,根據(jù)缺陷評價結(jié)果挑選需復檢類缺陷進行復檢,無需對已擁有較好準確率的某類缺陷進行復檢,因此能夠極大提高復檢的效率,并同時兼顧缺陷檢測的準確性。
可選地,所述根據(jù)顯示面板的掃描圖像確定所述掃描圖像的第一候選缺陷包括:通過線掃系統(tǒng)掃描所述顯示面板,獲取所述掃描圖像;根據(jù)所述掃描圖像,采用線掃算法確定所述第一候選缺陷。
本申請所述的用于顯示面板復檢的方法,通過線掃系統(tǒng)掃描顯示面板,獲取掃描圖像,根據(jù)掃描圖像,采用線掃算法確定第一候選缺陷,從而能夠根據(jù)第一候選缺陷來進行缺陷評價。
可選地,所述根據(jù)所述第一候選缺陷確定裁剪圖像包括:根據(jù)所述第一候選缺陷的中心坐標和復檢相機的分辨率確定裁剪圖像。
本申請所述的用于顯示面板復檢的方法,根據(jù)第一候選缺陷的中心坐標和復檢相機的分辨率確定裁剪圖像,從而能夠通過帶有缺陷的裁剪圖像確定第一缺陷評分。
可選地,所述根據(jù)所述裁剪圖像確定第一缺陷評分包括:采用復檢算法對所述裁剪圖像進行復檢以確定所述第一缺陷評分。
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